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YS/T 1075.8-2015 钒铝、钼铝中间合金化学分析方法 第8部分:钼、铝量的测定 X-荧光光谱法

资料类别:行业标准

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资料语言:中文

更新时间:2023-11-20 17:04:42



推荐标签: 化学分析 光谱 合金 方法 荧光 部分 测定 中间 1075

内容简介

YS/T 1075.8-2015 钒铝、钼铝中间合金化学分析方法 第8部分:钼、铝量的测定 X-荧光光谱法 ICS 77.120.99
YS
H 14
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T1075.8—2015
钒铝、钼铝中间合金化学分析方法
第8部分:钼、铝量的测定
X-荧光光谱法
Methods for chemical analysis of vanadium-aluminium and
molybdenum-aluminium master alloys-
Part 8:Determination of molybdenum and aluminium contents-
X-ray fluorescence method
2015-10-01实施
2015-04-30发布
发布
中华人民共和国工业和信息化部 YS/T1075.8—2015
前言
YS/T1075《钒铝、钼铝中间合金化学分析方法》分为8个部分:
第1部分:铁量的测定 1,10-二氮杂菲分光光度法;第2部分:钼量的测定 钼酸铅重量法;第3部分:硅量的测定 钼蓝分光光度法; -第4部分:钒量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法和硫酸亚铁铵滴定法;第5部分:铝量的测定 EDTA滴定法;第6部分:碳量的测定 高频燃烧-红外吸收法;第7部分:氧量的测定 情气熔融-红外法;第8部分:钼、铝量的测定X-荧光光谱法。
本部分为YS/T1075的第8部分本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)提出并归口。 本部分起草单位:西北有色金属研究院、广州有色金属研究院、金川集团股份有限公司、北仑出人境
检验检疫局、金堆城钼业股份有限公司。
本部分主要起草人:周恺、李波、孙宝莲、肖飞燕、赵志虎、董岐、张建波、王郭亮、于丽丽、胡洁、 罗景盛、谢明明。
1 YS/T1075.8—2015
钒铝、钼铝中间合金化学分析方法
第8部分:钼、铝量的测定
X-荧光光谱法
1范围
YS/T1075的本部分规定了钼铝合金中钼、铝量的测定方法。 本部分适用于钼铝合金中钼、铝量的测定。测定范围见表1。
表1钼铝合金中各成分的测定范围
元素 Mo Al
质量分数/% 50.00~91.00 9.00~50.00
2方法提要
样品用氢氟酸、硝酸溶解。经红外灯烘干后,再用合适的熔剂按一定比例熔铸成适合于X-荧光光
谱仪测量的试料熔片。在选定的仪器测量条件下测量试料熔片中待测元素特征谱线的X射线荧光强度,根据校准曲线或方程式来计算,获得样品中待测成分的含量。
3试剂
3.1 四硼酸锂:优级纯,使用前在650℃灼烧4h。 3.2 溴化锂:使用前在105℃干燥2h。 3.3 溴化锂溶液:称取适量的溴化锂(3.2)配置成浓度为30mg/mL的溶液。 3.4 氩气甲烷混合气体:含体积分数为90%的氩气和体积分数为10%的甲烷。 3.5 硝酸(p=1.42g/mL),优级纯 3.6 氢氟酸(p=1.15g/mL),优级纯 3.7 三氧化钼(wMoo≥99.99%):使用前在105℃干燥2h。 3.8
三氧化二铝(wAzo.≥99.99%):使用前在105℃干燥2h。 4 仪器 4.1 波长色散X-荧光光谱仪。 4.2 熔样皿:用铂合金(95%铂十5%金)制成,体积>30mL。 4.3 铸型皿:用铂合金(95%铂十5%金)制成, 4.4 自动熔样炉:能加热至1050℃,控温精度在土5℃。
1 YS/T1075.8—2015
5试样
试样应粉碎,其粒度应小于500um。
6分析步骤
6.1试料
称取0.2000g试样,精确至0.0001g。 6.2 测定次数
平行称取两份试样进行测定,取其平均值。 6.3试料熔解
将试料(6.1)置于熔样皿中,加人少量蒸馏水浸润样品,滴加2.5mL硝酸(3.5),再缓慢滴加0.5mL 氢氟酸(3.6)待反应平静后补加0.5mL氢氟酸(3.6)。样品溶解后取下,于红外灯下烘至近干。准确加人7.000g四硼酸锂(3.1),1.0mL溴化锂溶液(3.3)。放入熔样炉进行熔融,400℃烘干1min后开始熔融,熔融温度为1050℃,静止熔融5min,摇摆10min,将熔融物倒入已预热的铸型Ⅲ中成型,冷却后取出待测。 6.4校准曲线的绘制 6.4.1 校准样品
使用高纯氧化物配制校准样品。具体配制方法见附录A。 6.4.2 2测量条件
不同仪器可根据实际情况选择合适的测量条件,包括谱线、管电流/电压、滤光片、狭缝宽度、晶体、 检测器、背景校正方法和测量时间,以获得最佳的实际测量效果。参考测量条件见附录B。 6.4.3 3校准方程
用仪器所配软件.用标准样品中该元素的含量值和测得的X射线荧光强度计算出校准曲线参数,见式(1):
w;=aXI,+b
.*(1 )
式中: w; 校准样品中测量元素i的参考值,%; I; 测量元素i的X射线荧光强度; a、b 测量元素i的校正曲线常数。 分析结果保留至小数点后两位。
6.5测量 6.5.1试料熔片测量
预热仪器直至仪器稳定后,按选定的测量条件测定试料熔片。若需进行仪器漂移校正,待仪器稳定
后,先进行漂移校正,再进行熔片的测定 2 YS/T1075.8—2015
6.5.2 漂移校正
选择合适的试料熔片作为漂移校正熔片进行仪器的漂移校正,校正的间隔时间根据仪器的稳定性决定。 6.5.3 结果计算
根据测出的试料熔片中各元素特征谱线的X射线荧光强度,按校准方程计算出各成分的含量,
精密度 7.1 重复性
7
在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内,这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5%,重复性限(r)按表2数据采用线性内插法求得:
表 2 重复性限
%
元素
w 52.29 62.23 70.43 84.34 90.33 47.16 37.27 29.08 15.18 9.00
r 0.71 0.82 0.86 1.08 1.12 0.87 0.77 0.64 0.54 0.40
Mo
A1
7.2 再现性
在再现性条件下获得的两次独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内,这两个测试结果的绝对差值不超过再现性限(R),超过再现性限(R)的情况不超过5%,再现性限(R)按表3数据采用线性内插法求得:
表3 再现性限
%
元素
w 52.29 62.23 70.43 84.34 90.33
R 0.78 0.86 1.11 1.13 1.24
Mo
3 YS/T1075.8—2015
表3(续)
%
元素
R 0.92 0.89 0.80 0.69 0.56
w 47.16 37.27 29.08 15.18 9.00
Al
试验报告
试验报告应包括下列内容:
试样;使用的标准(包括发布或出版年号);使用的方法;分析结果及其表示:与基本分析步骤的差异;测定中观察到的异常现象;试验日期。
4
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