JJG
中华人民共和国国家计量检定规程
JJG 82—2010
公法线千分尺
Common Normal Micrometer
2010-03-02发布
2010－09－02实施
国家质量监督检验检疫总局发布 JJG82—2010
公法线千分尺检定规程 VerificationRegulation of Common
JJG 82—2010 代替JJG82—1998
Normal Micrometer
本规程经国家质量监督检验检疫总局于2010年3月2日批准，并自
2010年9月2日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会起草单位：黑龙江省计量检定测试院
桂林量具刃具有限责任公司
广西壮族自治区计量检测研究院
本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJG 82—2010
本规程主要起草人：
梁玉红（黑龙江省计量检定测试院）赵伟荣 （桂林量具刃具有限责任公司）全始智 （广西壮族自治区计量检测研究院）李旭辉（黑龙江省计量检定测试院）
参加起草人：
杨琳（黑龙江省计量检定测试院） JJG82—2010
目
录
1 范围 2 引用文献 3 概述 4 计量性能要求 4. 1 测量力 4.2 刻线宽度及宽度差： 4.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 4. 4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 4. 5 测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度 4.6 测量面的平面度· 4. 7 示值误差 4.8 校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量 4. 9 漂移 5 通用技术要求 5. 1 外观· 5. 2 各部分相互作用. 6计量器具控制 6.1检定条件.. 6.27 检定项目.· 6.3检定方法· 6.4检定结果的处理 6.5检定周期· 附录A数显公法线千分尺示值误差测量结果的不确定度评定附录B检定证书和检定结果通知书内页格式
(1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) (5) (7) (7) (8) (12) JJG82—2010
公法线千分尺检定规程
1 范围
本规程适用于测量范围至200mm，分度值为0.01mm的机械公法线千分尺和分辨力为0.001mm的数显公法线千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验，
2 引用文献
本规程引用下列文献： JJF1001—1998 通用计量术语及定义 JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示 JJF1094—2002 测量仪器特性评定 JJF1130一2005几何量测量设备校准中的不确定度评定指南 GB/T1217—2004 公法线千分尺使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3概述
公法线千分尺包括机械公法线千分尺和数显公法线千分尺，是应用螺旋副传动原理将回转运动变为直线位移，并应用刻线细分或电子数显原理进行读数的一种量具。用于测量模数不小于0.6mm的外圆柱齿轮的公法线长度。见图1、图2。
2
6
1
3
4
5
7
图1机械公法线千分尺
1一尺架；2一固定测砧；3一测杆；4一锁紧装置；5一固定套管：
6一微分筒；7一测力装置；8一隔热板；9一校对用的量杆
1 JJG82—2010
2
3
O
15.398
中 中
0
(0~25)mm0.001mm
图2 数显公法线千分尺
1一尺架；2一固定测砖；3—测杆；4一锁紧装置；5显示器；
6一棘轮套；7一棘轮；8一按钮
计量性能要求
4
4.1测量力
在（3～6）N范围内。测力变化不大于2N。 4.2刻线宽度及宽度差
固定套管和微分筒上刻线宽度为（0.08～0.20）mm；宽度差不大于0.03mm。 4.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离α应不大于0.4mm，如图3所示。
10 15
45
5
40 35
图3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
4.4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准后，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.10mm。 4.5测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度
不大于R.0.20um。 4.6测量面的平面度
不大于1.2um（距边缘0.5mm范围内不计）。 4.7示值误差 4.7.1公法线千分尺示值误差 2 JJG822010
示值最大允许误差不超过表1规定
表1示值最大允许误差
mm
0 ±0.004 ±0.004 ±0.005 ±0.005 ±0.006 ±0.006 ±0.007 ±0.007
4.7.2数显公法线千分尺传感器的细分误差
细分误差不大于0.002mm。 4.8 校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量
校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量不超过表2规定
表2校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量
mm
标称尺寸
尺寸偏差 ±0.002 ±0.002 ±0.003 ±0.003 ±0.004 ±0.005 ±0.005
尺寸变动量 0.001 0.001 0.0015 0.002 0.002 0.0025 0.0025
25 50 75 100 125 150 175
4. 9 漂移
数显公法线千分尺在1h内的漂移不大于1个分辨力值。
5 通用技术要求 5.1外观 5.1.1首次检定的公法线千分尺及校对用量杆不应有锈蚀、碰伤、镀层脱落等外观缺陷，刻线应清晰、均匀。数显公法线千分尺不应有显示不全、闪跳等影响读数的缺陷 5.1.2 公法线千分尺上应标有制造厂名（或商标）、出厂编号、测量范围及分度值/分辨力。 5.1.3 测量上限大于25mm的公法线千分尺应附有调整测量下限用的校对量杆。 5.1.4 公法线千分尺两测量面不应有目力可见的错位。 5.1.5 当移动数显公法线千分尺的测微螺杆时，其数字显示应按顺序进位，无错乱显示现象。
3 JJG82—2010
5.1.6后续检定和使用中检验的公法线千分尺允许有不影响使用准确度的外观缺陷。 5.2各部分相互作用 5.2.1运动部件的相互作用应灵活可靠，微分筒在全部测量范围内往返时必须平稳，无卡滞和摩擦现象。测微螺杆的转动应平稳，不应有卡滞和感觉到的配合松紧不匀现象。 5.2.2锁紧装置的作用应切实有效、可靠。 5.2.3测微螺杆不应有手感觉到的轴向窜动和径向摆动。 6 计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检验 6.1检定条件 6.1.1环境条件
环境条件见表3。
表3环境条件室内温度对20℃时的允许偏差
公法线千分尺测量范围上限
平衡温度时间
公法线千分尺
校对用量杆
(mm) 0 ±5℃ ±4℃
±2℃
4 h
6.1.2检定用设备
主要检定设备见表4。 6.2 检定项目
检定项目见表4。
表4检定项目和主要检定设备一览表
序号 1 2
检定项目外观
首次检定 后续检定 使用中检验
主要检定设备
+ +
+ +
+ +
各部分相互作用
分度值不大于0.2N的测力计或同等准确度的测力装置
测量力
3
+
X
MPE：±2% 工具显微镜
刻线宽度及宽度差
+
4
MPE：±（1μm+LX10-5)
塞尺
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
?
5
MPE：±0.048mm
+
+
+
6
4