
JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1411—2013
测量内尺寸千分尺校准规范
Calibration Specification for Micrometers
of Measuring Inside Dimension
2013-05-13发布
2013-11-13实施
国家质量监督检验检疫总局发布
JJF1411—2013
测量内尺寸千分尺校准规范
JJF 1411—2013 代替JJF1091—2002
Calibration Specificationfor Micrometers of Measuring
Inside Dimension
归口单位:全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位:黑龙江省计量检定测试院
吉林省计量科学研究院
参加起草单位:青海量具刃具有限责任公司
福建省计量科学研究院
本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释
JJF1411—2013
本规范主要起草人:
梁玉红(黑龙江省计量检定测试院)窦艳红(吉林省计量科学研究院)张黎平(黑龙江省计量检定测试院)陈洪侠(黑龙江省计量检定测试院)
参加起草人:
黄晓宾(青海量具刃具有限责任公司)王朝阳(福建省计量科学研究院)
JJF1411—2013
目 录
引言 1 范围· 2 引用文件· 3 概述·· 4 计量特性· 4. 1 测力 4.2 刻线宽度及宽度差 4.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 4. 4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置: 4. 5 测量面的表面粗糙度.: 4. 6 量爪测量面的圆弧半径及素线平行度· 4. 7 示值误差 4.8 校对环规直径尺寸 4. 9 细分误差 4.10 数值漂移 5校准条件: 5.1环境条件 5. 2 校准项目和标准器 6 校准方法 6. 1 测力· 6.2 刻线宽度及宽度差 6.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离· 6. 4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 6.5 测量面的表面粗糙度 6.6 量爪测量面的圆弧半径及素线平行度 6.7 示值误差 6.8 校对环规直径尺寸 6.9 细分误差 6.10 数值漂移
(IⅡ) (1) (1) (1) (3) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) (5) (5) (5) (5) (5) (5) (6) (6) (6) (6) (7) (7) (7) (7) (8) (8) (8) (8) (8) (9) (13) (17) (21) (25) I
.
.
校准结果表达· 复校时间间隔
7 8
附录A 三点内径千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录B 内测千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录 C 数显三点内径千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录D 数显内测千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录E 校准证书内容及内页格式
-
JJF1411—2013
引言
JJF1071一2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑校准规范修订工作的基础性系列规范。
JF1411一2013《测量内尺寸千分尺校准规范》(以下简称“本规范”)等同采用 GB/T6314一2004《三爪内径千分尺》、JB/T10006一1999《内测千分尺》、修改采用 GB/T22093一2008《电子数显内径千分尺》,本规范替代JJF1091一2002《测量内尺寸千分尺校准规范》。
与JJF1091一2002相比,除编辑性修改外,本规范主要技术变化如下:
一三点内径千分尺测量范围增加到300mm,电子数显内测千分尺测量范围增加
到200mm。
对内尺寸千分尺外形结构图进行了较大的改动,与现在新型的结构基本一致。 “示值误差”等技术指标按GB/T22093一2008《电子数显内径千分尺》、
JB/T10006一1999《内测千分尺》的要求等同采用。
“校对环规直径尺寸”尺寸要求及技术指标进行了较大改动,等同采用
GB/T22093一2008《电子数显内径千分尺》国家标准的要求。
增加电子数显内尺寸千分尺“细分误差”和“数值漂移”二项技术要求。 在示值误差检定方法中增加国际建议推荐的10点量块尺寸要求。
一
增加电子数显三点内径千分尺和电子数显内测千分尺的示值误差不确定度
评定。
原规范测量三点内径千分尺所用环规尺寸的可操作性差,在新版中已经去掉。 JJF1091一2002的历次版本发布情况: JJG23—1988内测千分尺; JJG378一1985孔径千分尺。
II
JJF1411—2013
测量内尺寸于分尺校准规范
1范围
本规范适用于分度值为0.01mm测量范围上限至150mm的内测千分尺,分度值为0.001mm、0.002mm、0.005mm测量范围上限至300mm的三点内径千分尺,分辨力为0.001mm测量范围上限至200mm的电子数显内测千分尺以及分辨力为0.001mm 测量范围上限至300mm的电子数显三点内径千分尺的校准。
分辨力为0.001mm~0.01mm测量范围上限至200mm的计数器内测千分尺和分辨力为0.001mm~0.01mm测量范围上限至300mm的计数器三点内径千分尺,可以参考本规范进行校准。 2 引用文件
本规范引用下列文件: JJG894一1995标准环规 GB/T6314一2004三爪内径千分尺 GB/T22093一2008电子数显内径千分尺 JB/T10006—1999内测千分尺 DIN8631千分尺(DIN8631micrometer) 凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文
件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本规范。
3概述
内测千分尺是通过螺旋副将旋转运动转变为两个弧形测量面沿与旋转轴线平行的直线运动,并对两测量面分割的距离读数的内尺寸测量器具。它的外形结构见图1。
电子数显内测千分尺是通过螺旋副将旋转运动转变为两个弧形测量面沿与旋转轴线平行的直线运动,利用角度传感器、电子和数字显示技术,计算并显示两测量面分割的距离的内尺寸测量器具。它的外形结构见图2。
三点内径手分尺是通过螺旋副和转向机构将旋转运动转变为三个弧形测量面沿与旋
转轴线垂直的直线运动,并对三个弧形测量面构成的圆柱直径读数的内尺寸测量器具。 它的外形结构见图3。
电子数显三点内径千分尺是通过螺旋副和转向机构将旋转运动转变为三个弧形测量面沿与旋转轴线垂直的直线运动,利用角度传感器、电子和数字显示技术,计算并显示三个弧形测量面构成的圆柱直径的内尺寸测量器具。它的外形结构见图4。
1
JJF1411—2013
图1内测千分尺外形结构
1一锁紧装置;2一测量面;3一固定套管:4一微分筒;5一测力装置
3
6
0
24000
O
O
图2电子数显内测千分尺外形结构
1一测量面;2一锁紧装置;3一电子数显装置;4 一固定套管;5一微分筒;6一测力装置
6
-
40353
图3三点内径千分尺外形结构
1一量爪;2一测量面;3一主体或底座:4一深度接长杆:5一固定套管;6一微分筒;7一测力装置
2
JJF1411—2013
70000
图4电子数显三点内径千分尺外形结构
1一量爪;2一测量面;3一主体或底座;4一深度接长杆;5一电子数显装置;6一测力装置
4计量特性 4.1测力 4.1.1 内测千分尺及电子数显内测千分尺的测力及测力变化见表1。
表1内测千分尺及电子数显内测千分尺的测力及测力变化测量范围/mm
测力/N 3~7 5~10
测力变化/N
≥5~50 >50~200
2 2
4.1.2 三点内径千分尺及电子数显三点内径千分尺的测力及测力变化见表2。
表2三点内径千分尺及电子数显三点内径千分尺的测力及测力变化测量范围/mm
测力/N 6~15 10~30 15~45
测力变化/N
≥6~12 >12~100 >100~~300
5 10 15
4.2刻线宽度及宽度差
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.08~0.20)mm,刻线宽度差一般不大于0.03mm。 4.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离一般不大于0.4mm,见图5中a。
LL
图5内尺寸千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
3
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测量内尺寸千分尺校准规范
Calibration Specification for Micrometers
of Measuring Inside Dimension
2013-05-13发布
2013-11-13实施
国家质量监督检验检疫总局发布
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测量内尺寸千分尺校准规范
JJF 1411—2013 代替JJF1091—2002
Calibration Specificationfor Micrometers of Measuring
Inside Dimension
归口单位:全国几何量工程参量计量技术委员会
主要起草单位:黑龙江省计量检定测试院
吉林省计量科学研究院
参加起草单位:青海量具刃具有限责任公司
福建省计量科学研究院
本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释
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本规范主要起草人:
梁玉红(黑龙江省计量检定测试院)窦艳红(吉林省计量科学研究院)张黎平(黑龙江省计量检定测试院)陈洪侠(黑龙江省计量检定测试院)
参加起草人:
黄晓宾(青海量具刃具有限责任公司)王朝阳(福建省计量科学研究院)
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目 录
引言 1 范围· 2 引用文件· 3 概述·· 4 计量特性· 4. 1 测力 4.2 刻线宽度及宽度差 4.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离 4. 4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置: 4. 5 测量面的表面粗糙度.: 4. 6 量爪测量面的圆弧半径及素线平行度· 4. 7 示值误差 4.8 校对环规直径尺寸 4. 9 细分误差 4.10 数值漂移 5校准条件: 5.1环境条件 5. 2 校准项目和标准器 6 校准方法 6. 1 测力· 6.2 刻线宽度及宽度差 6.3 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离· 6. 4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置 6.5 测量面的表面粗糙度 6.6 量爪测量面的圆弧半径及素线平行度 6.7 示值误差 6.8 校对环规直径尺寸 6.9 细分误差 6.10 数值漂移
(IⅡ) (1) (1) (1) (3) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) (5) (5) (5) (5) (5) (5) (6) (6) (6) (6) (7) (7) (7) (7) (8) (8) (8) (8) (8) (9) (13) (17) (21) (25) I
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校准结果表达· 复校时间间隔
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附录A 三点内径千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录B 内测千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录 C 数显三点内径千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录D 数显内测千分尺示值误差测量结果不确定度评定附录E 校准证书内容及内页格式
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引言
JJF1071一2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑校准规范修订工作的基础性系列规范。
JF1411一2013《测量内尺寸千分尺校准规范》(以下简称“本规范”)等同采用 GB/T6314一2004《三爪内径千分尺》、JB/T10006一1999《内测千分尺》、修改采用 GB/T22093一2008《电子数显内径千分尺》,本规范替代JJF1091一2002《测量内尺寸千分尺校准规范》。
与JJF1091一2002相比,除编辑性修改外,本规范主要技术变化如下:
一三点内径千分尺测量范围增加到300mm,电子数显内测千分尺测量范围增加
到200mm。
对内尺寸千分尺外形结构图进行了较大的改动,与现在新型的结构基本一致。 “示值误差”等技术指标按GB/T22093一2008《电子数显内径千分尺》、
JB/T10006一1999《内测千分尺》的要求等同采用。
“校对环规直径尺寸”尺寸要求及技术指标进行了较大改动,等同采用
GB/T22093一2008《电子数显内径千分尺》国家标准的要求。
增加电子数显内尺寸千分尺“细分误差”和“数值漂移”二项技术要求。 在示值误差检定方法中增加国际建议推荐的10点量块尺寸要求。
一
增加电子数显三点内径千分尺和电子数显内测千分尺的示值误差不确定度
评定。
原规范测量三点内径千分尺所用环规尺寸的可操作性差,在新版中已经去掉。 JJF1091一2002的历次版本发布情况: JJG23—1988内测千分尺; JJG378一1985孔径千分尺。
II
JJF1411—2013
测量内尺寸于分尺校准规范
1范围
本规范适用于分度值为0.01mm测量范围上限至150mm的内测千分尺,分度值为0.001mm、0.002mm、0.005mm测量范围上限至300mm的三点内径千分尺,分辨力为0.001mm测量范围上限至200mm的电子数显内测千分尺以及分辨力为0.001mm 测量范围上限至300mm的电子数显三点内径千分尺的校准。
分辨力为0.001mm~0.01mm测量范围上限至200mm的计数器内测千分尺和分辨力为0.001mm~0.01mm测量范围上限至300mm的计数器三点内径千分尺,可以参考本规范进行校准。 2 引用文件
本规范引用下列文件: JJG894一1995标准环规 GB/T6314一2004三爪内径千分尺 GB/T22093一2008电子数显内径千分尺 JB/T10006—1999内测千分尺 DIN8631千分尺(DIN8631micrometer) 凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文
件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本规范。
3概述
内测千分尺是通过螺旋副将旋转运动转变为两个弧形测量面沿与旋转轴线平行的直线运动,并对两测量面分割的距离读数的内尺寸测量器具。它的外形结构见图1。
电子数显内测千分尺是通过螺旋副将旋转运动转变为两个弧形测量面沿与旋转轴线平行的直线运动,利用角度传感器、电子和数字显示技术,计算并显示两测量面分割的距离的内尺寸测量器具。它的外形结构见图2。
三点内径手分尺是通过螺旋副和转向机构将旋转运动转变为三个弧形测量面沿与旋
转轴线垂直的直线运动,并对三个弧形测量面构成的圆柱直径读数的内尺寸测量器具。 它的外形结构见图3。
电子数显三点内径千分尺是通过螺旋副和转向机构将旋转运动转变为三个弧形测量面沿与旋转轴线垂直的直线运动,利用角度传感器、电子和数字显示技术,计算并显示三个弧形测量面构成的圆柱直径的内尺寸测量器具。它的外形结构见图4。
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JJF1411—2013
图1内测千分尺外形结构
1一锁紧装置;2一测量面;3一固定套管:4一微分筒;5一测力装置
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图2电子数显内测千分尺外形结构
1一测量面;2一锁紧装置;3一电子数显装置;4 一固定套管;5一微分筒;6一测力装置
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图3三点内径千分尺外形结构
1一量爪;2一测量面;3一主体或底座:4一深度接长杆:5一固定套管;6一微分筒;7一测力装置
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JJF1411—2013
70000
图4电子数显三点内径千分尺外形结构
1一量爪;2一测量面;3一主体或底座;4一深度接长杆;5一电子数显装置;6一测力装置
4计量特性 4.1测力 4.1.1 内测千分尺及电子数显内测千分尺的测力及测力变化见表1。
表1内测千分尺及电子数显内测千分尺的测力及测力变化测量范围/mm
测力/N 3~7 5~10
测力变化/N
≥5~50 >50~200
2 2
4.1.2 三点内径千分尺及电子数显三点内径千分尺的测力及测力变化见表2。
表2三点内径千分尺及电子数显三点内径千分尺的测力及测力变化测量范围/mm
测力/N 6~15 10~30 15~45
测力变化/N
≥6~12 >12~100 >100~~300
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4.2刻线宽度及宽度差
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为(0.08~0.20)mm,刻线宽度差一般不大于0.03mm。 4.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离一般不大于0.4mm,见图5中a。
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图5内尺寸千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
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