JJG
中华人民共和国国家计量检定规程
JJG822010
公法线千分尺 Common Normal Micrometer
2010-03-02发布
2010-09-02实施
国家质量监督检验检疫总局发布 JJG82—2010
公法线千分尺检定规程 Verification Regulation of Common
JJG82—2010 代替JJG82—1998
Normal Micrometer
本规程经国家质量监督检验检疫总局于2010年3月2日批准，并自
2010年9月2日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会起草单位：黑龙江省计量检定测试院
桂林量具刃具有限责任公司广西壮族自治区计量检测研究院
本规程主要起草人：
梁玉红（黑龙江省计量检定测试院）赵伟荣（桂林量具刃具有限责任公司）全贻智（广西壮族自治区计量检测研究院）李旭辉（黑龙江省计量检定测试院）
参加起草人：
杨琳（黑龙江省计量检定测试院） JJG82—2010
目 录
范围· 2 引用文献 3 概述 4 计量性能要求 4. 1 测量力· 4.2 刻线宽度及宽度差. 4. 3 微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离· 4. 4 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置： 4. 5 测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度 4.6 测量面的平面度 4. 7 示值误差· 4.8 校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量 4. 9 漂移 5 通用技术要求 5. 1 外观. 5.2 各部分相互作用· 6计量器具控制 6.1 检定条件· 6.2 检定项目· 6.3 检定方法· 6. 4 检定结果的处理， 6.5 检定周期. 附录A 数显公法线千分尺示值误差测量结果的不确定度评定附录B 检定证书和检定结果通知书内页格式
(1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) （5) (7) (7) (8) (12)
1
.
. JJG82—2010
公法线千分尺检定规程
1范围
本规程适用于测量范围至200mm，分度值为0.01mm的机械公法线千分尺和分辨力为0.001mm的数显公法线千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。
引用文献
2
本规程引用下列文献： SOO
NS
nd
DO
JF1001-1998／通用计量术语及定义 JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示 JJF 1094 2002 /测量仪器特性评定 JJF1130- 2605 几何量测量设备校准中的不确定度评定指菌
2004公法线千分尺
GB/T 12 使用本规 程时， 应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3概述 E
A
公法线 尺包括机械公法线于分尺和数显公法线千分尺，是应用螺旋副传动原理将回转运动 变头 两直线位移，并应用刻线细分或电子数显原理进行读数 一种量具。用于
分
p.6mm的外圆柱齿轮的公法线长度。 见图1、图2
测量模数不
一
-
3
6
3
CHIN
MEPROLOG
图1机械公法线千分尺
1一尺架；2一固定测砧；3一测杆；4一锁紧装置；5—固定套管； 6—微分筒；7—测力装置；8—隔热板；9-校对用的量杆 JJG82—2010
5
2
15.398
O 中 O
+
(0~25)mm 0.001 mm
图2数显公法线千分尺
1—尺架；2—固定测砧；3一测杆；4—锁紧装置；5—显示器；
6—棘轮套；7一棘轮；8—按钮
4计量性能要求 4.1测量力
在（3～6）N范围内。测力变化不大于2N。 4.2刻线宽度及宽度差
固定套管和微分筒上刻线宽度为（0.08~0.20）mm；宽度差不大于0.03mm。 4.3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离α应不大于0.4mm，如图3所示。
510 15
45
40
31
图3微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离
4.4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
当微分筒零刻线与固定套管纵刻线对准后，微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的右边缘应相切。若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.10mm。 4.5测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度
不大于R.0.20μm。 4.6测量面的平面度
不大于1.2μm（距边缘0.5mm范围内不计）。 4.7示值误差 4.7.1公法线千分尺示值误差 2 JJG82—2010
示值最大允许误差不超过表1规定
表1示值最大允许误差
mm
0 ±0.004 ±0.004 ±0.005 ±0.005 ±0.006 ±0.006 ±0.007 ±0.007
4.7.2数显公法线千分尺传感器的细分误差
细分误差不大于0.002mm。 4.8校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量
校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量不超过表2规定。
表2校对用量杆尺寸偏差和尺寸变动量
mm
标称尺寸
尺寸偏差 ±0.002 ±0.002 ±0.003 ±0.003 ±0.004 ±0.005 ±0.005
尺寸变动量 0.001 0.001 0.0015 0.002 0.002 0.0025 0.0025
25 50 75 100 125 150 175
4.9漂移
数显公法线千分尺在1h内的漂移不大于1个分辨力值。
5 通用技术要求 5.1外观 5.1.1首次检定的公法线千分尺及校对用量杆不应有锈蚀、碰伤、镀层脱落等外观缺陷，刻线应清晰、均匀。数显公法线千分尺不应有显示不全、闪跳等影响读数的缺陷 5.1.2公法线千分尺上应标有制造厂名（或商标）、出厂编号、测量范围及分度值/分辨力。 5.1.3 测量上限大于25mm的公法线千分尺应附有调整测量下限用的校对量杆。 5.1.4 公法线千分尺两测量面不应有目力可见的错位。 5.1.5 当移动数显公法线千分尺的测微螺杆时，其数字显示应按顺序进位，无错乱显示现象。
3 JJG 822010
5.1.6后续检定和使用中检验的公法线千分尺允许有不影响使用准确度的外观缺陷。 5.2各部分相互作用 5.2.1运动部件的相互作用应灵活可靠，微分筒在全部测量范围内往返时必须平稳，无卡滞和摩擦现象。测微螺杆的转动应平稳，不应有卡滞和感觉到的配合松紧不匀现象。 5.2.2锁紧装置的作用应切实有效、可靠。 5.2.3测微螺杆不应有手感觉到的轴向审动和径向摆动。 6计量器具控制
计量器具控制包括首次检定 OON 6.1检定条件 6.1.1环境条件环境条件见表3。
公法线千分尺测量范围上限
L
室内温度公法线千分
平衡温度时间
时的究
E
角量杆
Z H
(mm) 0 rand
±5 2
±4 ℃
O
6.1.2检定用谨
主要检定设 免表4 6.2检定项目
检定项目见表
G
表4 检定 和主要检定设 览表
续检定使用中检验
检定设
首次检定
序号 1 2
检定项外观各部分相互作用
+ +
+ +
P
每不大于0.2N的退
YGX
准研的 MPE:12% 工具显微镜
测量力
.
刻线宽度及宽度差 MPE:±(1 μm+LX10-5) +
4
塞尺
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分简锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
x
MPE:±0.048mm
+
+
+ JJG82—2010
表4(续) 主要检定设备
序号
检定项目
首次检定 后续检定 使用中检验
测量面及校对用量杆工作 表面粗糙度比较样块
+ + +
7
MPE：+12%~-17%
面的表面粗糙度测量面的平面度
2级平晶 5等（或3级）量块立、卧式光学计
8 9
+ +
示值误差校对用量杆尺寸偏差和
+
10
+
+
尺寸变动量
OH AS
漂移
11
X
+
0
注：表中“+” 旅定 “二”表示可以不检定 6.3检定方法 6.3.1外观
U
目力观察 6.3.2各部通作用
目力观 手动试验。 6.3.3测量
在全量 格润意位置上测2次 6.3.4刻 我宽度及宽度差
要求，两个测量力 差为测力变化。
E
在工具是缴镜上对微分筒度差以最大值和最小值之差确定 6.3.5微分 细面的端面棱边 定套管刻线面的距离
企少各抽检均 布的3条刻线。宽
DOH
用厚度为 mm的塞尺以上 3个位置上进不 6.3.6微分筒美更的端面与固定 管毫米刻
测量时应在微转动一周内不少于
对位置
测量下限调费途后，使微究 锥面的端面固定套 来刻线的右边缘相切时，读取微分简零刻线享固建套管纵向刻线的偏移量，见图
(a）压线0.03mm
（b）高线0.03mm
图4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
6.3.7测量面及校对用量杆工作面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块以比较法进行测量。 6.3.8测量面的平面度
用平晶以光波干涉法进行测量。