JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1702—2018
α、β平面源校准规范
Calibration Specification for α、β Planes Source
2018-02-27发布
2018-08-27实施
国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1702—2018
α、β平面源校准规范 Calibration Specification for
JJF 1702—2018 代替JJG788—1992
α、β Planes Sources
归口 单位：全国电离辐射计量技术委员会起草 单 位：上海市计量测试技术研究院
中国计量科学研究院
本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释 JJF1702—2018
本规范起草人：
唐方东（上海市计量测试技术研究院）何林锋 (上海市计量测试技术研究院) 梁珺成（中国计量科学研究院）徐一鹤（上海市计量测试技术研究院）张明（中国计量科学研究院）刘皓然 然（中国计量科学研究院） JJF1702—2018
目 录
引言
(IⅡ) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (4) (4) (5) (6) (7)
范围 2 引用文件， 3术语和计量单位· 3.1术语.. 3.2计量单位 4 概述…· 5 计量特性 5. 1 表面发射率· 5.2表面发射率的不均匀性 6 校准条件. 6.1 环境条件： 6.2 测量标准· 7 校准项目和校准方法 7. 1 表面发射率 7.2 表面发射率的不均勾性. 8校准结果表达· 9 复校时间间隔附录Aα、β平面源校准记录推荐格式附录Bα、β平面源校准证书内页内容附录Cβ平面源表面发射率校准结果不确定度评定示例
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- JJF1702—2018
引言
本规范按照JJF1071一2010《国家计量校准规范编写规则》编写。 与JJG788一1992相比，除编辑性修改外，本规范主要技术变化如下：
由检定规程改为校准规范；名称由“α、β标准平面源”改为“α、β平面源校准规范” 将原规程检定项目“表面发射率和活度”修改为校准项目“表面发射率”；适用范围中增加对β粒子能量范围的限定；一平面源表面发射率的计算由绝对测量的计算方式修改为适用于绝对和相对测量
的计算方式；
删除原规程检定项目“非活性面的放射性污染” 修改了标准平面源表面发射率不均勾性的测量条件要求与计算方法。
本规范的历次发布情况如下： JJG 788—1992。
II JJF1702—2018
α、β平面源校准规范
1范围
本规范适用于表面发射率为（102～10°）min-1的α平面源和表面发射率为（103~
105）min-1的β平面源的校准，β粒子的最大能量大于等于150keV。 2 引用文件
本规范引用下列文件： JJF1001一2011通用计量术语及定义 GB/T4960.1一2010核科学技术术语第1部分：核物理与核化学凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文
件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。
32 术语和计量单位
3.1术语
JJF1001一2011、GB/T4960.1一2010界定的及以下术语和定义适用于本规范。 3.1.1平面源planesource
一种带衬底的板状放射源。
3.1.2［源］表面发射率surface emissionrate
单位时间内，从平面源表面（2元球面度）发射的特定种类、能量超过特定值的粒
子数。 3.2计量单位
［源」表面发射率：（平面源2元球面度上）每分钟的粒子数；符号：min-1。
4概述
α、β平面源由一定量的α、β放射性核素沉积或结合在确定形状和面积的金属衬底上制作而成，通常放射性核素均匀分布在一面，而衬底厚度足以防止从源的背面发射粒子。
α、β平面源常用于放射性活度测量以及放射性污染监测仪器的刻度、校准与稳定性检验。
5计量特性
5.1表面发射率
常用的α、β平面源的表面发射率范围通常为（102～106）min-1，α、β标准平面源表面发射率的不确定度优于5%（k=2）。
1 JJF1702—2018
5.2表面发射率的不均匀性
α、β标准平面源活性区内各处表面发射率的不均匀性不超过10%。
6校准条件
6.1环境条件 6.1.1环境温度：（15～25）℃。 6.1.2相对湿度：不大于70%。 6.1.3校准时实验室内不应有影响仪器正常工作的振动和电磁场干扰。 6.2测量标准
测量标准为2元α、2元β粒子发射率标准装置（以下简称为标准装置）。 测量范围：α粒子：（102～10°）min-1；
β粒子：（103～106）min-1。
扩展不确定度：不大于3.5%（k=2）。
7 校准项目和校准方法
7.1表面发射率
校准前开启标准装置预热至稳定状态，做本底测量，测量时间不少于30min，按公式（1）计算标准装置的α和β本底计数率。
Cb tb
(1)
Nb
式中： Nb标准装置的本底计数率，min-1； Cb标准装置本底测量累积计数； tb一标准装置本底测量时间，min。 本底测量完成后，将α或β平面源放人测量室内，处于测量室平面居中位置，保证
平面源边缘与测量室侧壁的间距超过测量室的高度。关闭测量室进行测量，测量时间应使得标准装置的累积计数不小于10000，重复测量5次，按公式（2）计算平均计数，按公式（3）计算计数率。
7c
(2)
C
n
式中： C——标准装置对α或β平面源的计数平均值； C一一标准装置α或β平面源第i次测量的计数；
测量次数，n取5。
一
C
(3)
N
t
2