JJF 1702-2018
α、β平面源校准规范
Calibration Specification for a、β Planes Source
2018-02-27发布
2018-08-27实施
引言
本规范按照JF1071—2010《国家计量校准规范编写规则》编写。与JG788—1992相比，除编辑性修改外，本规范主要技术变化如下∶
——由检定规程改为校准规范;
——名称由"a、β标准平面源"改为"a、β平面源校准规范";
——将原规程检定项目"表面发射率和活度"修改为校准项目"表面发射率";
——适用范围中增加对β粒子能量范围的限定;
——平面源表面发射率的计算由绝对测量的计算方式修改为适用于绝对和相对测量的计算方式;
——删除原规程检定项目"非活性面的放射性污染";
——修改了标准平面源表面发射率不均匀性的测量条件要求与计算方法。
本规范的历次发布情况如下∶JJG 788—1992。