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JJG 853-2013 低本底α、β测量仪 高清晰版

资料类别:行业标准

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推荐标签: jjg 测量仪 本底 高清晰 853

内容简介

JJG 853-2013 低本底α、β测量仪 高清晰版 JJG
中华人民共和国国家计量检定规程
JJG853—2013
低本底 α、β测量仪
Low Background Alpha/Beta Measuring Instruments
2013-08-15发布
2014-02-15实施
国家质量监督检验检疫总局发布 JJG 853—2013
低本底α、β测量仪检定规程 Verification Regulation of the Low Background
JJG 853—2013 替代JJG853一1993
Alpha/Beta Measuring Instruments
归口单位:全国电离辐射计量技术委员会起草单位:中国计量科学研究院
上海市计量测试技术研究院
本规程委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释 JJG 853—2013
本规程起草人:
徐春长(中国计量科学研究院)梁珺成(中国计量科学研究院)何林锋(上海市计量测试技术研究院)陈靖(中国计量科学研究院) JJG853—2013
目 录
引言
(Ⅱ) (1) (1) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (5) (5) (6) (7) (9)
范围· 2 引用文件 3 术语和计量单位. 3.1术语· 3.2计量单位 4 概述· 5计量性能要求 5.1仪器本底 5.2 探测效率。 5.3 重复性…. 5.4串道比. 6通用技术要求 6.1外观和标识·
1
计量器具控制 7.1检定条件 7. 2 检定项目· 7. 3 检定方法.. 7. 4 检定结果的处理· 7.5检定周期附录A 检定记录格式式样附录 B 检定证书/检定结果通知书第三页式样附录C 统计不确定度计算方法
7
- JJG853—2013
引言
JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成支撑本规程修订工作的基础性系列规范。
与JJG853一1993相比,除编辑性修改外,本规程主要技术变化如下:
取消低本底α、β测量仪的分级;取消要求受检用户提供10次,每次24小时的本底测量结果;
一取消稳定性检定项目;一增加重复性检定项目(见5.3);
强调本底、效率和重复性检定对测量计数统计性的要求(见7.3.2,7.3.3,

7.3.4)。
II JJG853—2013
低本底α、β测量仪检定规程
1范围
本规程适用于采用固体闪烁探测器和半导体探测器的低本底α、β测量仪的首次检定、后续检定和使用中检查,不适用于流气正比计数器以及液体闪烁计数器等类型测量仪器的检定。
2 引用文件
本规程号用下列文件: JJF1035一2006电离辐射计量术语及定义 GB/T11682一2008低本底α和/或βB测量仪 ISO9697:2008水质无盐水中总β活度测量厚源法(WaterqualityMeasure
ment of gross beta activity in non saline water-Thick source method)
ISO185896:2009环境中放射性活度测量土壤第6部分:总α与总β的活度
测量 (Measurement of radioactivity in the environment Soil Part 6: Measurement of gross alpha and gross beta activities)
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规程;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规程。
3术语和计量单位
3.1术语 3.1.1仪器本底instrumentalbackground
仪器正常工作状态下,测量无放射性污染的空样品盘时的示值。
3.1.2表面发射率surfaceemissionrate
放射源在2元球面度内的发射率。
3.1.3标准平面源referenceplanesources
性质和活度在某一确定的时间内都是已知的,并能用作参考的固态平面放射源。
3.1.4探测效率detectionefficiency
在一定探测条件下,探测器测得的计数率与被测源发射率的比值。
3.1.5串道比interfereratio(crosstalk)
仪器测量单一α或β标准源时,在β道或α道的计数与α和β道的总计数之比。 3.2计量单位 3.2.1[源]表面发射率
每分钟2元球面度,符号:(min·2元sr)-1。 3.2.2单位面积平均本底计数率
每平方厘米分钟,符号:cm-2·min-1。
1 JJG853—2013
4概述
低本底α、β测量仪主要由探测器单元、信号处理单元和屏蔽单元等组成。测量时,探测器记录人射的α、β粒子,计数率与样品中核素活度成正比。探测器单元由主探测器、反符合探测器等构成,置于屏蔽单元内。信号处理单元由计算机和测量主机构成屏蔽单元一般由铅和钢等材料制成。
低本底α、β测量仪主要应用于水质监测、食品卫生、环境放射性评价与辐射防护等领域。 5计量性能要求
5.1仪器本底 5.1.1单位面积的α粒子计数率≤0.017cm-2·min-1。 5.1.2单位面积的β粒子计数率≤0.5cm-2·min-1 5.2探测效率 5.2.1对于α≥65%。 5.2.2对于β≥35%。 5.3重复性 5.3.1对于α≤2.5%。 5.3.2对于β≤3.5%。 5.4串道比 5.4.1α射线对β道≤3%。 5.4.2β射线对α道≤1%。
6通用技术要求 6.1 外观和标识 6.1.1仪器外观不应有影响其计量性能的外观缺陷 6.1.2仪器应标明制造厂商或商标、规格型号、出厂编号和计量器具制造许可证编号等信息,其标识应牢固、清晰。 7计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检查。 7.1检定条件 7.1.1计量标准 7.1.1.1α标准平面源
α标准平面源的技术指标见表1。
2 JJG853—2013
表1α标准平面源的技术指标
表面发射率扩展
核素
规格
表面发射率
不确定度
241Am 239 Pu 或210Po
外径:±20mm~$35mm,活性区:$18mm~$25mm,
(2.0E+04~1.2E+05)
不大于3.0%(k=2)
(min·2元sr)-1
厚度:1mm
7.1.1.2 β标准平面源
B标准平面源的技术指标见表2。
表2β标准平面源的技术指标
表面发射率扩展
核素
规格
表面发射率
不确定度
外径:$20mm~$35mm,活性区:$18mm~$25mm,
(2.0E+04~1.2E+05)
90 Sr/90 Y
不大于3.0%(k=2)
(min·2元sr)-1
厚度:1mm
7.1.2环境条件 7.1.2.1 温度:(1628)℃ 7.1.2.2 相对湿度:≤85% 7.1.2.3 环境辐射空气比释动能率:≤0.25uGy/h 7.1.2.4 无影响正常工作的机械振动和电磁干扰。 7.2检定项目
检定项目见表3。
表3检定项目一览表首次检定
检定项目外观和标识仪器本底探测效率重复性串道比注:“十”为应检定的项目,“一”为可不检定的项目。
后续检定
使用中检查
+ + + + +
+ + + + +
+ + + +
7.3检定方法 7.3.1外观和标识
目测被检仪器外观,应符合6.1。 7.3.2仪器本底
被检低本底α、β测量仪开机预热至少30min。将无放射性核素污染的样品盘放人
3
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