ICS,19.100 J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T35839—2018
无损检测
工业计算机层析成像（CT)密度测量方法
Non-destructive testing-
Test method for measuring industrial computed tomography (CT) density
2018-09-01实施
2018-02-06发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T35839—2018
目 次
前言
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范围规范性引用文件
2
3 术语和定义 4 基本要求
检测方法检测工艺测量流程检测记录和报告附录A（资料性附录） 密度对比试件制作规范附录B（资料性附录） 典型材料不同能量下质量衰减系数附录C（资料性附录） 等效能量计算方法
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6 F
8 GB/T35839—2018
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草本标准由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56)提出并归口。 本标准起草单位：重庆大学、重庆真测科技股份有限公司、中国兵器科学研究院宁波分院、中国航天
科技集团川南机械厂、中国人民解放军96630部队、重庆红宇精密工业有限责任公司、湖北三江航天江北机械工程有限公司。
本标准主要起草人：沈宽、王珏、蔡玉芳、刘丰林、段晓礁、卢艳平、倪培君、张政、苏志军、杨大洪、 王晓勇、高锐、郭智敏、张维国。
= GB/T35839—2018
无损检测
工业计算机层析成像（CT）密度测量方法
1范围
本标准规定了使用工业计算机层析成像（CT)设备对物体的密度进行测量的方法。 本标准适用于使用能量范围为200keV～10MeV的工业CT系统对常见金属和非金属材料进行
密度测量。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注甘期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 9445 无损检测人员资格鉴定与认证（GB/T9445—2015，ISO9712:2012，IDT） GB/T 29069 无损检测 工业计算机层析成像（CT)系统性能测试方法 GB/T 29070 无损检测 工业计算机层析成像（CT)检测通用要求 GB/T 34365 无损检测 术语 工业计算机层析成像（CT)检测
3术语和定义
GB/T34365界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
4基本要求
4.1检测人员
4.1.1 从事工业CT密度测量的人员应符合GB/T9445和GB/T29070中有关检测人员的要求。 4.1.2从事工业CT密度测量的人员要具备材料、结构、工艺等相关知识，并经过工业CT密度测量的专门技术培训。
4.2 环境条件 4.2.1 满足GB/T29070关于环境条件的要求 4.2.2 检测室和控制室的放射防护条件应符合满足使用单位要求 4.3检测设备 4.3.1 设备组成
工业CT系统一般由射线源系统、探测系统、数据采集传输系统、机械系统、控制系统、图像处理系统和辐射安全防护系统等组成。 4.3.2设备性能
工业CT设备射线源的能量应满足被检测工件的穿透力要求。密度分辨力性能指标应满足实际被
1 GB/T35839—2018
测工件密度的检测要求，通常情况下，密度分辨力指标应优于0.5%。空间分辨率、扫描时间等其他指标应满足实际产品的检测要求。 4.3.3设备性能校验
按照GB/T29069规定定期对CT系统的空间分辨力和密度分辨力等主要性能指标进行测试。在
设备安装调试、维修或更换部件后，应对主要性能指标进行测试，并记录测试结果
4.43 密度对比试件
4.4.1概述
密度对比试件是在使用工业CT进行密度测量时，用来与待测工件进行密度比对的标准样件组，其中每一个密度标准样件由均质材料构成其密度值经过校准，射线衰减特性与被测样品相同或相近。密度对比试件含多个密度标准样件，其密度范围涵盖待测物体密度范围，
4.4.2制作要求
应针对不同材料的产品、不同密度范围、不同部位进行单独设计和制作密度对比试件。密度对比试
件的设计和制作要求参见附录A。
4.4.3密度值的校准和核查
密度对比试件的密度值在首次使用时应进行校准。在使用过程中，每隔半年应采用排水法或其他适当的方法进行核查。如发现密度值变化范围超过0.5%时应重新进行校准。
5检测方法
5.1方法一
基本原理就是通过对密度对比试件进行工业CT扫描，建立当前扫描条件下密度对比试件CT数与线性衰减系数之间的关系，见式（1）。利用该关系计算出被测材料的线性衰减系数，再除以该材料的质量衰减系数，就能得到相应的质量密度，见式（2）。常见物质的质量衰减系数参见附录B
Ncr=kμ十(
..(1)
式中： NeT 被测样品的CT数平均值；
线性衰减系数；
从 k、c 常数。
..(2)
DMA
μuw
式中： p - 被测样品的密度值，单位为克每立方厘米（g/cm*）；
线性衰减系数；
μ μm 质量衰减系数。 该方法由于需要已知被测物质的质量衰减系数，因此不能测量未知成分的物质或是难以测定质量
衰减系数的聚合物类物质。由于不同能量下质量衰减系数是不同的，因此使用该方法时首先需要确定 CT系统的等效能量，等效能量计算方法参见附录C。当等效能量在200keV～2MeV时，质量衰减系
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