ICS,19.100 J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T353942017
无损检测
X射线数字成像检测 系统特性
Non-destructive testing-
X-ray digital radiographySystem properties
2018-04-01实施
2017-12-29发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T 35394—2017
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56）提出并归口。 本标准起草单位：中国工程物理研究院机械制造工艺研究所、兰州瑞奇戈德测控技术有限公司、中
国特种设备检测研究院、中信戴卡股份有限公司、杭州华安无损检测技术有限公司、中国兵器科学研究院宁波分院、湖北三江航天江北机械工程有限公司、苏州工业园区道青科技有限公司、上海材料研究所、 哈尔滨锅炉厂有限责任公司、烟台华科检测设备有限公司、重庆大学、清华大学、中航工业北京航空制造工程研究所、成都华宇检测科技有限公司、成都飞机工业（集团）有限责任公司、南德认证检测（中国)有限公司上海分公司、广东盈泉高新材料有限公司，
本标准主要起草人：孙朝明、孙忠诚、梁丽红、刘军、张利明、倪培君、王晓勇、陶维道、丁杰、孟令庆、 王建华、段晓礁、肖永顺、宋震方、唐良明、杨扬、刘二军、曾祥照，
一 GB/T35394—2017
无损检测
X射线数字成像检测 系统特性
1范围
本标准规定了X射线数字成像系统的设备要求和测定条件以及线性范围、基本空间分辨率、最小许可灰度幅值、对比度灵敏度、厚度宽容度和曝光曲线的测定方法，
本标准适用于金属材料、非金属材料、复合材料等制品X射线数字成像检测设备的性能测定，
规范性引用文件
2
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件
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GB/T12604.11 无损检测 术语X射线数字成像检测 GB/T23901.5 无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计 图像不清晰度的测定 GB/T 35388 无损检测 X射线数字成像检测 检测方法 GB/T 35389 无损检测 X射线数字成像检测 导则
3 术语和定义
GB/T12604.11界定的术语和定义适用于本文件，
符号
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表1所列符号适用于本文件。
表1 符号与说明
符号 CNR CNR CS. D Dip E fps GVmx GVme GVmin
说明
对比度噪声比利用具有特定厚度差的凹槽测量得到的对比度噪声比对比度灵敏度灰度幅值，图像灰度值相对于满幅值的比例线对的调制度探测器单顿曝光量探测器每秒钟输出的图像顿数探测器可输出的最大灰度值区域内的平均灰度值最小许可灰度幅值
1 GB/T35394—2017
6.3滤板
6.3.1 选用适当材料和厚度的滤板放置在射线窗出口，减小软射线对测量结果的影响。 6.3.2 滤板材料：铝板的牌号为6061，铜板的牌号为T2，钢板的牌号为06Cr19Ni10。 6.4享 要求 6.4.1 射线源与探测器的间距宜控制在700mm1000mm范围内。 6.4.2 探测器应进行坏像素校正、本底校正和响应不一致性校正。 6.4.3采用多焦点或可变焦点射线源时，应注明使用的实际焦点尺寸。
7线性范围
7.1 测定方法 7.1.1 除滤板外，射线机管头至探测器之间不能放置任何物体。 7.1.2 设置探测器速并选择合适的管电压，测量过程中保持不变 7.1.3 从0mA开始，以0.01mA0.20mA为增量，调节管电流改变曝光量。 7.1.4 使用图像分析处理软件测量特定图像区域的灰度平均值。 7.1.5 从最小曝光量（灰度最小值)到最大曝光量（接近满幅值)的测量点数不少于30。 7.1.6 记录每个测量点的管电流和测定的灰度平均值 7.2 计算方法 7.2.1 探测器输出图像曝光量计算方法，见式（1）：
I fps
E=
...(1)
式中： E fps 探测器的帧速，每秒的输出顿数；
单顿曝光量，单位为毫安秒（mA·s）；
管电流大小，单位为毫安（mA）。
I
7.2.2 不同曝光条件下，特定图像区域灰度幅值计算，见式（2）：
GVmm ×100%
D : GVmax
..( 2)
式中： D GVmean 特定区域图像灰度平均值； GVmax 探测器可输出的最大灰度值。
灰度幅值；
7.3 测量结果
7.3.1 以曝光量E为横坐标，信号幅值D为纵坐标。 7.3.2 利用曲线拟合法对测量数据进行平滑处理，制作D-E曲线，见图1。
3 GB/T35394—2017
100%
D2
90% 80% - 70%~ 60% -
借40%
30% 20% D1 10% 0%
曝光量
图1D-E曝光响应曲线示意
7.3.3在D-E曲线中，标注线性响应区域，表示为：D1～I D2 7.3.4
Ve 8
8基本空间分辨率
8.1测量方法 8.1.1 采用双线型像质计测量基本 8.1.2 根据检测系统选择滤板：
a) 高能射线检测系统，选用厚度为4mm的铜滤板或8mm的钢滤板； b) 检测厚度大于20mm的铜或钢的检测系统，测量时使用220kV管电压，选用厚度为2mm铜
滤板；检测厚度不大于20mm的铜或钢的检测系统，测量时使用160kV管电压，选用厚度为1mm 的铜滤板；
c)
d) 检测铝镁等轻合金材质的射线检测系统，测量时使用90kV管电压，选用厚度为1mm的铝
滤板。
8.1.3 调节管电流值，使得背景图像灰度值位于7.3.3规定的线性范围内。 8.1.4 除坏像素校正、本底校正和响应不一致性校正外，不得使用其他图像处理。 8.1.5 当基本空间分辨率超出双线型像质计测量范围时，可使用其他特定的测量方法但需要说明。 8.2 测量程序 8.2.1 双线型像质计放置在探测器表面，与探测器的行（列）倾斜角度为2°～5°。 8.2.2 调节射线源至探测器的距离，控制几何不清晰度值小于像素尺寸的5%。 8.2.3 使用图像分析处理软件进行计算与分析。应在像质计长度方向中心区域60%范围内进行分析，如图2所示。分析区长度应横跨所有的线对，宽度为一条线。为消除误差提高可靠性，分析区宽度也可选择多条线。
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