JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF 1487—2014
超声波探伤试块校准规范
Calibration SpecificationforBlocks used in Ultrasonic Testing
2014-08-25发布
2014-11-25实施
国家质量监督检验检疫总局发布 JJF 1487—2014
超声波探伤试块校准规范
JJF 1487—2014
Calibration Specification for
Blocks used in Ultrasonic Testing
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：山东省计量科学研究院
山东瑞祥模具有限公司
参加起草单位：河南省计量科学研究院
黑龙江省计量检定测试院
本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1487—2014
本规范主要起草人：
夏霄红（山东省计量科学研究院）贾敏强（山东省计量科学研究院）王冰 (山东瑞祥模具有限公司) 高冉 (山东省计量科学研究院)
参加起草人：
魏忠瑞（山东瑞祥模具有限公司）贾晓杰（河南省计量科学研究院）李旭辉（黑龙江省计量检定测试院） JJF1487—2014
目 录
引言
(I) (1 ) (1 ) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (4) (4) (4) (5) (8) (10) (12) (13)
范围…. 2 引用文件： 3 概述..
1
计量特性 4.1表面粗糙度 4.2几何尺寸 4.3 形状和位置误差 5校准条件. 5.1环境条件.. 5.2测量标准及其他设备 6校准项目和校准方法 6.1 准备工作 6.2 表面粗糙度 6.3 几何尺寸 6.4 形状和位置误差.
1
校准结果表达复校时间间隔
7 8 附录A 用三坐标测量机测量超声波探伤试块长度尺寸的测量不确定度评定
附录B 用工具显微镜测量超声波探伤试块槽宽尺寸的测量不确定度评定附录 C 塑性复制品的制作方法附录D 常见试块对应的标准附录E 校准证书内页信息及格式 JJF1487—2014
引言
JJF1071一2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1130一2005《几何量测量设备校准中的不确定度评定指南》、JJF1094 2002《测量仪器特性评定》，共同构成支撑本校准规范制定工作的基础性系列规范
规范编制中参考了以下文件中关于超声波探伤试块的内容：GB/T12604.1一2005 《无损检测术语超声检测》、GB/T11259一2008《无损检测超声检测用钢参考试块的制作与检验方法》、GB/T18852一2002《无损检测超声检验测量接触探头声束特性的参考试块和方法》、GB/T18694一2002《无损检测超声检验探头及其声场的表征》、JJG746—2004《超声探伤仪》、DL/T820—2002《管道焊接接头超声波检验技术规程》、JG/T203一2007《钢结构超声波探伤及质量分级法》和JB/T4730.3—2005 《承压设备无损检测第3部分：超声检测》等相关标准。
本规范为首次发布。
Ⅱ JJF 1487—2014
超声波探伤试块校准规范
1 范围
本规范适用于超声波探伤试块几何量参数的校准，其他无损检测试块也可参照使用。 2 引用文件
本规范引用下列文件： GB/T1958产品几何量技术规范（GPS）形状和位置公差 检测规定 GB/T23905一2009无损检测超声检测用试块凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文
件，其最新版本（包括所有的修订单）适用于本规范。 3概述
超声波探伤试块（以下简称试块）是按一定用途设计制作的几何体，其几何形状和参考反射体尺寸（孔、槽或圆弧等）用于评定和校准超声检测设备、调节超声检测设备的幅度和（或）时间分度。试块的几何量参数，主要包括：外形尺寸、参考反射体尺寸及形状位置误差。典型试块如图1所示。
125 110 95
@
35
VB00T
k2. 5k3.0 R50
K2.Q
R10R100
1.5通孔
2
K1.0 K1.5
刻线
-
105 140
0. 034
-
200 241.46
圆弧
$44
?
40-
槽
2
35
C
L050
300 0. 03 图1CSK-IA超声波探伤标准试块
4 计量特性
4. 1 表面粗糙度
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4. 2 几何尺寸 4.3 形状和位置误差
5 校准条件
5.1环境条件 5.1.1 温度条件：温度条件应根据被校试块的测量不确定度要求确定。 5.1.2 相对湿度：实验室内的相对湿度不大于65%。 5.1.3实验室内应无灰尘、振动和磁场等影响测量的因素。 5.2 测量标准及其他设备
校准设备见表1。
表1校准设备
序号
设备名称及计量特性
校准项目
表面粗糙度比较样块MPE：十12%～一17%或粗糙度测量仪：MPE：土7%
表面粗糙度
1
坐标测量机MPE：±（2μm+3×10-L）影像测量仪MPE：士（3μm+5×10-L）
万能工具显微镜MPE：土（1um十10×10-‘L）
游标卡尺MPE：±（0.02~0.05）mm
千分尺MPE：土4uμm 深度指示表MPE：士（4~50）μm
几何尺寸、形状和位置误差
2
针规（尺寸间隔为0.01mm)MPE：士2uμm 塞尺（0.02~1.00）mm，MPE：±（5~16）μm
内径表MPEV：（7~20）μm 刀口形直尺MPEV：2μm
1级直角尺 1级平板
6 校准项目和校准方法
校准项目见表1。 以下项目的校准方法和测量标准及其他设备的选取，可根据测量结果的不确定度要
求确定。 6.1准备工作
校准前应清洗试块，并确认无影响校准结果的因素。 6.2表面粗糙度
试块的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块进行比较测量，表面粗糙度测量时选择最
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接近被测表面粗糙度值的样块标称值作为测量结果。也可以用表面粗糙度测量仪进行测量。 6.3几何尺寸
可采用接触测量或非接触测量的方法。
6.3.1外形尺寸 6.3.1.1用三坐标测量机测量
测量时，按照三坐标测量机开机程序操作；根据被校试块的形状和尺寸装夹试块；选择并校准测头，建立工件坐标，编辑测量程序；然后按照自动测量模式测量出试块上对应的点、线、面坐标值；通过测量软件计算出该试块被测外形尺寸。长度尺寸L按式（1）计算。
L=A-A.
(1)
式中： L-被测尺寸，mm; A一一第二个位置（终点）坐标值，mm； A。一第一个位置（起点）坐标值，mm
6.3.1.2用游标类量具或千分尺测量
长度和厚度尺寸可选用相应分度值的游标类量具或千分尺直接测量；对于角度尺寸可用万能角度尺直接测量。选用量具的最大允许误差应不超过被测尺寸公差的1/3 6.3.1.3用万能工具显微镜或影像测量仪测量
测量时调整仪器，使试块边缘清晰地出现在仪器视场内，按仪器操作方法进行测量，测量时要避让试块被测几何体的边缘倒角和毛刺等影响测量结果的因素。用影像仪测量时，优先使用仪器自动寻边的方式瞄准和选点。数据处理按式（1）计算。 6.3.2孔、槽尺寸
首先选择用6.3.1条方法进行测量孔和槽的尺寸。对于用有机玻璃等材料封口的孔、槽尺寸（经委托方同意）可以去掉封口后对其进行测量。 6.3.2.1用内径表测量孔直径
对于2mm以上的孔直径可选择合适量程的内径表进行测量。首先用内径表的校对环规调整好内径表的初始值，然后直接用内径表测量孔直径，读数值即为孔直径。 6.3.2.2试塞法
对于2mm以下的孔直径可用尺寸间隔为0.01mm的针规试塞测量；小于1mm 的槽宽度可用塞尺试塞测量。测量时根据孔直径（或槽宽度）的标称值选择合适直径的针规（或塞尺）试塞，以刚刚能塞人孔（或槽）内的针规（或塞尺）的标称尺寸作为被测尺寸。 6.3.2.3塑性复制品法
对于平底孔的直径、底面平面度、边角直角特性和表面粗糙度可用覆膜法间接测量。塑性复制品的制作方法见附录C，用影像测量仪测量出塑性复制品复现的几何尺寸及形状误差。
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