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中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1338—2012
相控阵超声探伤仪校准规范
Calibration Specification for Ultrasonic Phased Array Flaw Detectors
2012-06-20实施
2012-03-20发布
国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1338—2012
相控阵超声探伤仪校准规范
JJF 1338—2012
Calibration Specification for
Ultrasonic Phased Array Flaw Detectors
归口单位：全国声学计量技术委员会
起草单位：中国计量科学研究院
北京邹展麓城科技有限公司
本规范委托全国声学计量技术委员会负责解释 JJF1338—2012
本规范起草人：
杨 平（中国计量科学研究院）边文萍（中国计量科学研究院）朱 岩（中国计量科学研究院）王 超（北京邹展麓城科技有限公司） JJF1338—2012
目 录
1 范围· 2 引用文件 3术语和计量单位 3.1B型显示.. 3.2成像横向分辨力· 3.3成像纵向分辨力· A
(1) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (5) (5) (5) (6) (6) (6) (6) (6) (7) (9) (10)
概述· 5 计量特性： 5.1 扇扫成像横向分辨力 5. 2 扇扫成像纵向分辨力 5.3 短缺陷分辨力·. 5.4 成像横向几何尺寸测量误差 .. 5. 5 成像纵向几何尺寸测量误差 5. 6 扇扫角度范围测量误差 5. 7 扇扫角度分辨力 6校准条件. 6.1 环境条件 6.2 标准器及其他设备 7校准项目和校准方法 7.1校准项目· 7. 2 校准方法·· 8校准结果表达· 8.1校准数据处理 8.2 校准证书： 8.3 校准结果的不确定度评定.. 9复校时间间隔· 附录A校准证书内容附录 B 专用试块的技术要求附录C木 校准结果的不确定度评定 JJF1338—2012
相控阵超声探伤仪校准规范
1范围
本规范规定了具有B型显示功能的相控阵超声探伤仪的计量特性、校准条件和校准方法。适用于相控阵超声探伤仪B型显示模式下的计量特性的校准。
2引用文件
本规范引用下列文件： JJG746—2004超声探伤仪 JJF1001一2011通用计量术语及定义 JJF1034一2005声学计量名词术语及定义 GB3102.7一1993声学的量和单位 GB/T3947—1996声学名词术语 GB/T12604.1一2005无损检测术语超声检测 JB10062一1999超声探伤用探头性能测试方法 ASTME2491-06相控阵超声检测仪器及系统性能评价标准导则凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规则；凡是不注日期的引用文
件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规则。
3术语和计量单位
本规范采用GB3102.7一1993中规定的量和单位。 本规范采用JJF1001—2011、JJF1034—2005、GB/T12604.1—2005中界定的和
以下术语及定义。 3.1B型显示Bmodedisplay
一种能够显示被检件的横截面图像，指示反射体的大致尺寸及其相对位置的超声信息显示方法。 3.2成像横向分辨力lateralimagingresolution
成像系统在与声束轴线垂直的方向的分辨力。
3.3成像纵向分辨力axialimagingresolution
成像系统在声束轴线方向的分辨力
4概述
相控阵超声探伤仪一般由主机和探头（又称为换能器阵列）组成。探头一般是由若干压电阵元组成的阵列。相控阵超声探伤仪通过主机独立控制探头中的各个阵元，实现探头声束的相控发射与接收，在介质指定空间区域内实现超声波的偏转和聚焦。
常用探头分为直探头与斜探头，此外还有与探头配套使用的各种楔块等。
1 JJF1338—2012
超声探伤时，缺陷的位置L由公式（1）确定
(1)
L =ct
式中： c—声速，m/s; t——传播时间，s。
5 计量特性
5.1 扇扫成像横向分辨力
扇扫成像横向分辨力一般不大于2mm。 5.2扇扫成像纵向分辨力
扇扫成像纵向分辨力一般不大于2mm。 5.3短缺陷分辨力
短缺陷分辨力一般不大于5mm。 5.4成像横向几何尺寸测量误差
人工缺陷成像的横向几何尺寸测量误差一般不超过土5%。
5.5成像纵向几何尺寸测量误差
人工缺陷成像的纵向几何尺寸测量误差一般不超过士5%。 5.6扇扫角度范围测量误差
通过对人工缺陷的扇形扫查成像，确定扫查角度范围，测量误差一般不超过士3° 5.7扇扫角度分辨力
角度分辨力一般不大于2.5°。 注：由于校准无需作出合格与否的判定，因此上述技术指标仅供参考。
6校准条件
6.1环境条件
温度：18℃~28℃ 6.2标准器及其他设备
专用试块A、B具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的规则通孔和盲孔以模拟缺陷，具体结构及参数如图1、图2所示。
2 JJF1338—2012
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