JF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF2017—2022
(20～150）kVX射线束半值层仪校准规范
Calibration Specification
forHalf-value LayerMeters of (20~150)kVX-raybeam
2022-12-27发布
2023-06-27实施
国家市场监督管理总局发布 JJF2017—2022
(20～150）kVX射线束
半值层仪校准规范
JJF 2017—2022
Calibration Specification for Half-value Layer
Meters of (20~150)kVX-raybeam
归口单位：全国电离辐射计量技术委员会主要起草单位：中国测试技术研究院
广东省计量科学研究院
参加起草单位：山东第一医科大学第一附属医院
西藏自治区计量测试所
海南省计量测试所
本规范委托全国电离辐射计量技术委员会负责解释 JJF2017—2022
本规范主要起草人：
许诗朦（中国测试技术研究院）何韵 (广东省计量科学研究院) 杨乾 (中国测试技术研究院)
参加起草人：
范杰（中国测试技术研究院）范医鲁（山东第一医科大学第一附属医院）谢浩东（西藏自治区计量测试所）
王鼎凤（海南省计量测试所） JJF2017—2022
目
录
引言
(Ⅱ) (1) (1) (1) (1) (1 ) (1) (2) (2) (2 ) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (4) (4) (5) (7) (8) (9) (10)
范围· 2 引用文件· 3术语和计量单位 3.1 术语· 3.2 计量单位 4 概述：
1
计量特性· 6 校准条件. 6.1 环境条件. 6.2 标准装置 6.3 参考辐射场 7 校准项目和校准方法 7. 1 校准项目： 7. 2 一般性检查· 7. 3 重复性· 7. 4 示值误差 8 校准结果表达 9 复校时间间隔· 附录A RQR、RQA、RQT、RQR-M和RQA-M系列辐射质附录B 参考辐射场半值层的测量方法附录C半值层仪校准记录推荐格式附录 D 半值层仪校准证书内页格式附录E 半值层仪示值误差的不确定度评定示例
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.. JJF2017—2022
引言
本规范的编写以JJF1071一2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001一2011 《通用计量术语及定义》、JJF1035一2006《电离辐射计量术语及定义》、JJF1059.1一 2012《测量不确定度评定与表示》为基础和依据。校准方法及计量特性主要参考了 IEC61267：2005《医用诊断X射线设备测量特性使用的辐射条件》（Medicaldiag nostic X-ray equipmentRadiation conditions for use in the determination of characteris tics）、IEC61674：2012《医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和/或半导体探测器剂量计》（Medicalelectricalequipment一Dosimeterswithionizationchambers and/or semiconductor detectors as used inX-ray diagnostic imaging)和IAEATRS 457 放射诊断剂量学：国际规定（DosimetryinDiagnosticRadiology：AnInternational Code of Practice)。
本规范为首次发布。
ⅡI JF2017—2022
(20～150）kVX射线束半值层仪校准规范
1范围
本规范适用于放射诊断（20～150）kVX射线的直读式半值层仪校准，其测量范围不得小于14mmAl。
2引用文件
本规范引用了下列文件： GB/T19629一2005医用电气设备X射线诊断影像中使用的电离室和（或）半
导体探测器剂量计
IAEATRS457放射诊断剂量学：国际规定（DosimetryinDiagnosticRadiology： AnInternational Codeof Practice)
IEC61267：2005医用诊断X射线设备测量特性使用的辐射条件（Medicaldi agnostic X-ray equipmentRadiation conditions for use in the determination of charac teristics)
IEC61674：2012医用电器设备X射线诊断影像中使用的电离室和/或半导体探测器剂量计（Medicalelectricalequipment一Dosimeterswithionizationchambersand/or semiconductor detectors as used in X-ray diagnostic imaging)
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。
3术语和计量单位 3.1术语 3.1.1半值层Half-valueLayer；HVL
置于X射线辐射束通过的路径上，能使空气比释动能率的值减小一半所需的给定材料的厚度。通常用铝片的厚度表示。 3.2计量单位 3.2.1空气比释动能率的单位：戈（瑞）每秒，符号为Gy/s。 3.2.2半值层单位：毫米铝，符号为mmAl。
4概述
直读式半值层仪（以下简称半值层仪）是用于测量X射线辐射质的仪器，通常由若干探测器、覆盖在探测器上不同厚度的过滤和测量单元（或静电计）三部分组成，通过测量穿过不同厚度附加过滤片的空气比释动能率，计算初始空气比释动能率减弱一半时的滤片厚度，得到半值层的值。
1 JJF2017—2022
5计量特性
半值层仪各项目的计量特性和要求见表1。
表1计量特性和要求
项目分辨力示值误差重复性
常规诊断不小于0.1mmAl 小于5%或0.2mmAl
乳腺诊断不小于0.01mmAl 小于10%或0.02mmA1
小于1%
小于1%
注：以上指标不用于合格性判别，仅供参考。
6校准条件 6.1环境条件 6.1.1 温度：（15~25）℃。 6.1.27 相对湿度：（30～75）%。 6.1.3气压：（80～106）kPa。 6.2标准装置 6.2.1 数显千分尺：测量范围（025）mm，MPE：±2μm。 6.2.2标准诊断水平剂量计：测量范围（6×10-5～1）Gy/min，年稳定性不超过土1%，其电离室在辐射质RQR3～RQR10、RQA3～RQA10、RQT系列、RQR-M 系列及RQA-M系列的能量响应不超过土2.6%。 6.2.2衰减过滤片：由纯度优于99.9%的不同厚度铝片组成，其组合厚度应满足（0.05～37）mmAl。用于40kV以上测量时，均匀性优于10um，40kV以下时优于 5 μm. 6.2.3 温度计：测量范围（0～50）℃，最小分度值不大于0.1℃。 6.2.4气压计：测量范围（80～106）kPa，最小分度值不大于0.1kPa。 6.3参考辐射场 6.3.1X射线辐射源的管电压范围（20～150）kV，（40～150）kV的管电压误差不超过士2.0%，（20～40）kV的管电压误差不超过士0.5kV。 6.3.2 建立一个或多个与附录A一致的辐射质，或其他靶材和附加过滤乳腺辐射质，
辐射场为准直束辐射场，在测试平面，推荐射野10cm×10cm或$10cm。
6.3.3
7校准项目和校准方法 7.1校准项目
半值层仪的校准项目包括重复性和示值误差。
7.2一般性检查
检查并记录半值层仪的分辨力。
2 JJF2017—2022
7.3重复性
以相对实验标准偏差表示重复性。在参考辐射质条件下，重复测量10次。按公式（1）计算相对实验标准偏差V。
(M;-M)2 n
X 100%
(1)
V
Y
M
式中： M: M
被校半值层仪的读数，mmAl；被校半值层仪读数的平均值，mmAl：测量次数（n=10）。
1
7.4示值误差
示值误差由相对示值误差或示值误差表示。测试平面与焦点间距离d推荐为 1000mm，测试平面上射野推荐为10cm×10cm或Φ10cm。将被校仪器探测器置于测试平面，探测器中心位于射线束轴上，探测器测量面与射线束轴垂直，其空间分布如图1所示。
X辐射源 准直器及过滤装置
测试平面 探测器
焦点
图1半值层仪校准示意图
被校仪器至少测量三次，由公式（2）计算被校仪器半值层（HVL）的示值误差，由公式（3）计算被校仪器的相对示值误差。
=H-H.
(2) (3)
H- H。×100% H。
Ao:
式中： H H. d A0
被校仪器半值层读数的平均值，mmAl：测试点的半值层标准值，mmAl；被校仪器的示值误差，mmAl。 被校仪器的相对示值误差。
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