F
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1255—2010
厚度表校准规范
Calibration Specification for Thickness Gauges
2010-09－10实施
2010-06-10发布
国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1255—2010
厚度表校准规范 Calibration Specification for Thickness Gauges
JJF 1255—2010
本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年6月10日批准，并自
2010年9月10日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：河北省计量科学研究所
广西壮族自治区计量检测研究院
参加起草单位：桂林量具刃具有限责任公司
威海新威量量具有限公司
本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1255—2010
本规范主要起草人：
王少平（河北省计量科学研究所）高同山（河北省计量科学研究所）李英（广西壮族自治区计量检测研究院）
参加起草人：
赵伟荣（桂林量具刃具有限责任公司）车兆平（威海新威量量具有限公司） JJF1255—2010
目 录
1 范围· 2
(1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (5) (5) (5) (5) (5) (6) (8)
引用文献· 3 概述· 4 计量特性·· 4.1 测量杆行程 4. 2 指针与表盘的相互位置 4. 3 测量面的表面粗糙度， 4. 4 测量力 4.5 示值变动性 4.6 示值误差 4. 7 漂移 5校准条件. 5.1环境条件 5.2 校准用设备
校准项目和校准方法 6.1 测量杆行程· 6.2 指针与表盘的相互位置 6.3 测量面的表面粗糙度 6.4 测量力 6.5 示值变动性 6.6 示值误差 6.7 漂移
6
++
校准结果表达复校时间间隔
9
附录A 厚度表示值误差测量结果的不确定度评定附录 B 校准证书内容 JJF1255—2010
厚度表校准规范
1 范围
本规范适用于分度值/分辨力为0.1mm、0.01mm、0.002mm、0.001mm，测量范围0mm～30mm中各种规格的指针式和数显式厚度表的校准。 2 引用文献
本规范引用以下文献： JJF1001一1998通用计量术语及定义 JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示 JJF10942002测量仪器特性评定 GB/T22520—2008厚度指示表使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3概述
厚度表是一种在弓形架上安装有指示表，由指示表读取测头测量面相对于弓形架测砧测量面直线位移的计量器具。配有拨叉提升装置（或下压装置）。主要用于测量片状、 板状等制件的厚度。厚度表常见的外形结构示意图见图1～图3所示。
2
日
N
白
5
A
9
（a）数显式厚度表
（b）指针式厚度表
1一拨叉；2一指示表；3一显示屏；4一功能键； 5一紧固钉；6一测量杆；7—测头；8一测砧；9一弓形架
1一拨叉；2一指示表；3一指针；4一紧固钉； 5—测量杆；6一测头；7—测砖；8—弓形架
图 1 I型厚度表外形结构示意图
- JJF1255—2010
6
2
T
3
4 5 6
7
（a）数显式厚度表
（b）指针式厚度表
1一提升装置；2一指针；3一指示表；4一测量杆；
1一弓形架；2一测砧；3一测头；4一测量杆；5一功能键：
6一提升装置；7一显示屏；8一指示器
5—测头：6—测砖：7—弓形架
图2 Ⅱ型厚度表外形结构示意图
1
1
2 3
2 3
5
a
5 6
8
（a）数显式厚度表
（b）指针式厚度表
1一下压装置；2一测量杆；3一功能键；4一指示器；
1一下压装置；2一测量杆；3一指针；4一指示表；
5一显示屏；6—弓形架；7—测头；8—测砧
5一测头；6一测砧；7一弓形架
图3 Ⅲ型厚度表外形结构示意图
4计量特性 4.1 测量杆行程
测量杆行程应超过测量范围上限0.5mm。 4.2指针与表盘的相互位置 4.2.1指针式厚度表的测头测量面与测砧测量面接触时，对于新制造的厚度表处于零位状态，厚度表的指针指向应与测杆轴线正方向相同，其偏差不超过土2个分度。 4.2.2指针的长度应保证指针末端位于短标记长度的30%80%之间。 4.2.3指针末端上表面到度盘表面间的距离不大于0.7mm。 4.2.4标尺标记宽度应为0.10mm~0.20mm。 4.3 测量面的表面粗糙度 2 JJF1255—2010
测量面的表面粗糙度见表1。
表 1 测量面的表面粗糙度
分度值/分辨力（mm）
R.(μm)
0. 1
0. 4 0. 2
0.01,0.002,0.001
4.4 测量力
测量力见表2。
表2测量力
N
测量范围 (mm) 0~1 0~5 0~10 0~12.5 0~20 0~25 0~30
分度值/分辨力： 0.002mm,0.001mm
分度值/分辨力：
分度值/分辨力：
0.01mm
0.1 mm
≤2
≤2.5
<2
M2.5
≤3.5
≤2.5
≤3
4.5 示值变动性
示值变动性见表3。
表3示值变动性指针式厚度表
mm
数显式厚度表
分度值/分辨力
≤0.020 ≤0.005 ≤0.001
0. 1 0.01
≤0.010 ≤0.002
0.002、0.001
4. 6 示值误差
示值最大允许误差见表4。
表4 示值最大允许误差
mm
指针式分度值
数显式分辨力
测量范围上限
s
0. 1
0.002
0.001 ±0.006
0.01
0.01
0.001
S≤1 1 ±0.005
±0.015
±0.03 ±0.009
±0.05 ±0.07 ±0.10
±0.020 ±0.030 ±0.035
±0.015
±0.04
3 JJF1255—2010
4.7漂移
数显式厚度表其显示值在1h内的漂移不大于其分辨力。 注：校准工作不判断合格与否，上述计量特性要求仅供参考。
5校准条件 5.1环境条件
校准室温度：（20士10）℃。 校准室相对湿度：不大于80%。 校准前，厚度表和校准用器具等温平衡时间不少于2h。
5.2校准用设备
校准用设备见表5。
表5校准项目和校准用设备
设备名称
序号 1 2 3 4 5 6 7
校准项目测量杆行程
计量性能
MPEV:3μm、20μm MPE：+12%~-17% 分度值/分辨力：0.1N
指针与表盘的相互位置测量面的表面粗糙度
工具显微镜、指示表表面粗糙度比较样块
测量力示值变动性示值误差
测力仪量块量块
3级（5等） 3级（5等）
漂移
校准项目和校准方法
6
首先检查外观，确定没有影响校准计量特性的因素后再进行校准。 校准项目见表5。
6.1测量杆行程
手动试验和目力观察。 6.2指针与表盘的相互位置
目力观察。 指针末端上表面到度盘表面间的距离用工具显微镜和指示表测量。测量时采用五倍
物镜，利用微动升降装置对指针上表面和度盘表面分别调焦，用百分表读数，两次读数的差值即为指针末端上表面到度盘表面间的距离。
标尺标记宽度在工具显微镜上测量，至少抽测3处。
6.3测量面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块进行比较测量。
6.4测量力
用分度值/分辨力不大于0.1N的测力仪进行测量。将测力仪的测量头（或测量头 F
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厚度表校准规范
Calibration Specification for Thickness Gauges
2010-09－10实施
2010-06-10发布
国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1255—2010
厚度表校准规范 Calibration Specification for Thickness Gauges
JJF 1255—2010
本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年6月10日批准，并自
2010年9月10日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：河北省计量科学研究所
广西壮族自治区计量检测研究院
参加起草单位：桂林量具刃具有限责任公司
威海新威量量具有限公司
本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1255—2010
本规范主要起草人：
王少平（河北省计量科学研究所）高同山（河北省计量科学研究所）李英（广西壮族自治区计量检测研究院）
参加起草人：
赵伟荣（桂林量具刃具有限责任公司）车兆平（威海新威量量具有限公司） JJF1255—2010
目 录
1 范围· 2
(1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (4) (5) (5) (5) (5) (5) (6) (8)
引用文献· 3 概述· 4 计量特性·· 4.1 测量杆行程 4. 2 指针与表盘的相互位置 4. 3 测量面的表面粗糙度， 4. 4 测量力 4.5 示值变动性 4.6 示值误差 4. 7 漂移 5校准条件. 5.1环境条件 5.2 校准用设备
校准项目和校准方法 6.1 测量杆行程· 6.2 指针与表盘的相互位置 6.3 测量面的表面粗糙度 6.4 测量力 6.5 示值变动性 6.6 示值误差 6.7 漂移
6
++
校准结果表达复校时间间隔
9
附录A 厚度表示值误差测量结果的不确定度评定附录 B 校准证书内容 JJF1255—2010
厚度表校准规范
1 范围
本规范适用于分度值/分辨力为0.1mm、0.01mm、0.002mm、0.001mm，测量范围0mm～30mm中各种规格的指针式和数显式厚度表的校准。 2 引用文献
本规范引用以下文献： JJF1001一1998通用计量术语及定义 JJF1059—1999 测量不确定度评定与表示 JJF10942002测量仪器特性评定 GB/T22520—2008厚度指示表使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。
3概述
厚度表是一种在弓形架上安装有指示表，由指示表读取测头测量面相对于弓形架测砧测量面直线位移的计量器具。配有拨叉提升装置（或下压装置）。主要用于测量片状、 板状等制件的厚度。厚度表常见的外形结构示意图见图1～图3所示。
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日
N
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（a）数显式厚度表
（b）指针式厚度表
1一拨叉；2一指示表；3一显示屏；4一功能键； 5一紧固钉；6一测量杆；7—测头；8一测砧；9一弓形架
1一拨叉；2一指示表；3一指针；4一紧固钉； 5—测量杆；6一测头；7—测砖；8—弓形架
图 1 I型厚度表外形结构示意图
- JJF1255—2010
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（a）数显式厚度表
（b）指针式厚度表
1一提升装置；2一指针；3一指示表；4一测量杆；
1一弓形架；2一测砧；3一测头；4一测量杆；5一功能键：
6一提升装置；7一显示屏；8一指示器
5—测头：6—测砖：7—弓形架
图2 Ⅱ型厚度表外形结构示意图
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5 6
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（a）数显式厚度表
（b）指针式厚度表
1一下压装置；2一测量杆；3一功能键；4一指示器；
1一下压装置；2一测量杆；3一指针；4一指示表；
5一显示屏；6—弓形架；7—测头；8—测砧
5一测头；6一测砧；7一弓形架
图3 Ⅲ型厚度表外形结构示意图
4计量特性 4.1 测量杆行程
测量杆行程应超过测量范围上限0.5mm。 4.2指针与表盘的相互位置 4.2.1指针式厚度表的测头测量面与测砧测量面接触时，对于新制造的厚度表处于零位状态，厚度表的指针指向应与测杆轴线正方向相同，其偏差不超过土2个分度。 4.2.2指针的长度应保证指针末端位于短标记长度的30%80%之间。 4.2.3指针末端上表面到度盘表面间的距离不大于0.7mm。 4.2.4标尺标记宽度应为0.10mm~0.20mm。 4.3 测量面的表面粗糙度 2 JJF1255—2010
测量面的表面粗糙度见表1。
表 1 测量面的表面粗糙度
分度值/分辨力（mm）
R.(μm)
0. 1
0. 4 0. 2
0.01,0.002,0.001
4.4 测量力
测量力见表2。
表2测量力
N
测量范围 (mm) 0~1 0~5 0~10 0~12.5 0~20 0~25 0~30
分度值/分辨力： 0.002mm,0.001mm
分度值/分辨力：
分度值/分辨力：
0.01mm
0.1 mm
≤2
≤2.5
<2
M2.5
≤3.5
≤2.5
≤3
4.5 示值变动性
示值变动性见表3。
表3示值变动性指针式厚度表
mm
数显式厚度表
分度值/分辨力
≤0.020 ≤0.005 ≤0.001
0. 1 0.01
≤0.010 ≤0.002
0.002、0.001
4. 6 示值误差
示值最大允许误差见表4。
表4 示值最大允许误差
mm
指针式分度值
数显式分辨力
测量范围上限
s
0. 1
0.002
0.001 ±0.006
0.01
0.01
0.001
S≤1 1 ±0.005
±0.015
±0.03 ±0.009
±0.05 ±0.07 ±0.10
±0.020 ±0.030 ±0.035
±0.015
±0.04
3 JJF1255—2010
4.7漂移
数显式厚度表其显示值在1h内的漂移不大于其分辨力。 注：校准工作不判断合格与否，上述计量特性要求仅供参考。
5校准条件 5.1环境条件
校准室温度：（20士10）℃。 校准室相对湿度：不大于80%。 校准前，厚度表和校准用器具等温平衡时间不少于2h。
5.2校准用设备
校准用设备见表5。
表5校准项目和校准用设备
设备名称
序号 1 2 3 4 5 6 7
校准项目测量杆行程
计量性能
MPEV:3μm、20μm MPE：+12%~-17% 分度值/分辨力：0.1N
指针与表盘的相互位置测量面的表面粗糙度
工具显微镜、指示表表面粗糙度比较样块
测量力示值变动性示值误差
测力仪量块量块
3级（5等） 3级（5等）
漂移
校准项目和校准方法
6
首先检查外观，确定没有影响校准计量特性的因素后再进行校准。 校准项目见表5。
6.1测量杆行程
手动试验和目力观察。 6.2指针与表盘的相互位置
目力观察。 指针末端上表面到度盘表面间的距离用工具显微镜和指示表测量。测量时采用五倍
物镜，利用微动升降装置对指针上表面和度盘表面分别调焦，用百分表读数，两次读数的差值即为指针末端上表面到度盘表面间的距离。
标尺标记宽度在工具显微镜上测量，至少抽测3处。
6.3测量面的表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块进行比较测量。
6.4测量力
用分度值/分辨力不大于0.1N的测力仪进行测量。将测力仪的测量头（或测量头