
JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1965—2022
锡膏厚度测量仪校准规范
Calibration Specification for Solder Paste InspectionInstruments
2022-10-29实施
2022-04-29发布
国家市场监督管理总局发布
JJF1965—2022
锡膏厚度测量仪校准规范 Calibration Specification for Solder
JJF1965—2022
PasteInspectionInstruments
归口单位:全国新材料与纳米计量技术委员会
主要起草单位:广东省计量科学研究院
山东省计量科学研究院苏州市计量测试院中国计量科学研究院
参加起草单位:广州计量检测技术研究院
天津大学
本规范委托全国新材料与纳米计量技术委员会负责解释
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本规范主要起草人:
黄敏晗(广东省计量科学研究院)
赵东升(山东省计量科学研究院)
王云祥(苏州市计量测试院)
曹丛 (山东省计量科学研究院)
施玉书 (中国计量科学研究院)
参加起草人:
司卫征(广州计量检测技术研究院)
张欣宇(广东省计量科学研究院
胡晓东(天津大学)
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目 录
引言 1 范围· 2 引用文件· 3 概述.· 4 计量特性 4.1厚度测量示值误差: 4.2厚度测量重复性 5校准条件 5.1环境条件 5.2 测量标准及其他设备 6 校准项目和校准方法..
(Ⅱ) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (4) (5) (7) (8)
校准结果表达· 8 复校时间间隔附录A 标准台阶块的结构与规格附录B 示值误差不确定度的评定示例附录 C 锡膏厚度测量仪校准记录格式附录D 锡膏厚度测量仪校准证书(内页)格式
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引言
JJF1001《通用计量术语及定义》、JJF1059.1《测量不确定度评定与表示》、 JJF1094《测量仪器特性评定》共同构成支撑本校准规范制定工作的基础性系列文件。
本规范参考了JJG818 3一2005《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪》、JJF1306一2011 《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》的相关内容
本规范为首次发布。
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锡膏厚度测量仪校准规范
1范围
本规范适用于测量范围不大于600um的锡膏厚度测量仪的校准。
2 引用文件
本规范引用了下列文件: JJF1071一2010国家计量校准规范编写规则凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范:凡是不注日期的引用文
件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。
3概述
锡膏厚度测量仪是一种非接触式的测量仪器,利用光学原理快速测量印刷电路板上锡膏的厚度。它的作用是检测和分析锡膏印刷的质量,及早发现生产过程中的工艺缺陷。
锡膏厚度测量仪的结构示意图见图1。目前常见的锡膏厚度测量仪按照测量的原理,可分为激光三角测量法和莫尔轮廓测量法。
1
2
3
a)
b)
1一摄像系统;2一光源(激光或白光);3一印刷电路板;4一锡膏块。
图1 锡膏厚度测量仪的结构示意图
4计量特性 4.1 厚度测量示值误差。 4.2 厚度测量重复性。
注:首次校准时按用户和制造商达成的技术协议进行校准,复校时按用户的要求进行校准。
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5校准条件 5.1环境条件
温度:(20士5)℃。 相对湿度:≤75%。
5.2测量标准及其他设备
可根据仪器测量范围和实际使用情况选用不同的标准台阶块,校准时推荐使用的标准台阶块的结构和规格见附录A,标准台阶块应确保表面洁净,避免划痕、腐蚀和氧化。
标准台阶块高度值的扩展不确定度应不大于1.0um(k=2),或不大于被校仪器的最大允许误差的1/3。
6 校准项目和校准方法
校准前,需确保仪器处于正常的工作状态及没有影响校准计量性能的因素后方可进行校准。标准器和被校准仪器的等温时间应符合仪器说明书的要求(如说明书无要求,应不少于30min)。
首先按使用说明书对被校仪器进行参数设置,必要时进行系统调校。在被校仪器的有效测量范围内选择不少于3个校准点,选取相应高度的标准台阶块。在每个标准台阶块的有效区域内,分别在同一测量区域重复测量10次并记录仪器示值,计算10次示值的算术平均值h,作为第i个标准台阶块的测量结果,根据公式(1)计算仪器厚度测量的示值误差,根据公式(2)计算实验标准偏差S;,作为第i个校准点的厚度测量的重复性。
(1)
,=h;-H
式中:,一一使用第i个标准台阶块时的仪器示值误差,um; h;一一使用第i个标准台阶块时的仪器示值平均值,um; H,一一第i个标准台阶块的校准值,um。
si 3 Z(h: -h)2
-
(2)
式中: h;一一第i次测量的仪器示值,um; h一一10次测量的仪器示值的算术平均值,um。
7校准结果表达
经校准的锡膏厚度测量仪出具校准证书。校准证书包括的信息应符合JJF1071 2010中5.12的要求。
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