ICS 31.080.20 K 46 备案号：40655-2013
中华人民共和国机械行业标准
JB/T8950.1--2013 代替JB/T8950.1-1999
普通晶闸管 第1部分：螺栓形器件
Phase control thyristors--Part 1: Stud devices
2013-09-01实施
2013-04-25发布
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T8950.12013
目 次
前言 1. 范围 2规范性引用文件 3型号和尺寸 3.1型号 3.2 图形符号和端（子）识别 3.3尺寸.. 4额定值和特性. 4.1 参数的级数， 4.2 额定值. 4.3 特性值 4.4特性曲线（不作为检验要求） 5检验规则 5.1 逐批检验（A组检验） 5.2 周期检验（B组和C组检验） 5.3 鉴定试验（D组试验）
-..+ ..:
质量评定类别标志、包装、贮存和订货单 7.1 标志 7.2 包装. 7.3 贮存 7.4 订货单附录A（规范性附录）抽样表 A.1 AQL抽样表. A.2 追加抽样表. 附录B（规范性附录）密封细检漏可接受的泄漏率图1晶闸管的图形符号和端（子）识别标志图2晶闸管的尺寸表1晶闸管的尺寸表2 通态电流临界上升率（dildt）的级数表3 断态电压临界上升率（dw/dt）的级数表4 最大额定值表5特性值.. 表6逐批（A组）检验. 表7周期（B组）检验... 表8周期（C组）检验表9鉴定（D组）试验表A.1AQL抽样表表A.2 追加抽样表表B.1 密封细检漏可接受的泄漏
6 7
8
10
0
O
10 JB/T8950.1-2013
前言
JB/T8950《普通品闸管》已经或计划发布以下部分：
-第1部分：螺栓形器件；第2部分：平板形器件；第3部分：塑料封装器件。
本部分为JB/T8950的第1部分。 本部分按照GB/T1.12009给出的规则起草。 本部分代替JB/T8950.1-1999《电流小于100A普通晶闸管》，与JB/T8950.1--1999相比主要技术变
化如下：
通态平均电流扩展为400A，对应的管壳型号相应调整；修改了规范性引用文件（见第2章，1999年版的第2章）；删除了断态/反向重复峰值电压的级数表（1999年版的表2）修改了通态电流临界上升率（di/dt）的级数（见表2，1999年版的表3）；修改了断态电压临界上升率（dv/dt）的级数（见表3，1999年版的表4）修改了对额定值的规定（见表4：1999年版的表5）；修改了对特性值的规定（见表5，1999年版的表6）；修改了应在企业标准或产品使用说明书中给出的特性曲线种类（见4.4，1999年版的4.4）：删除了逐批检验（A组）中的A2a分组（1999年版的表7）；删除了周期检验（B组）中的尺寸项目（1999年版的表8）；修改了周期检验（B组）中，B5分组密封检验的方法和合格判据（见表7，1999年版的表8）；修改了周期检验（C组）中，Rie项目的抽样方案和di/dt项目的试验电流值（见表8，1999年版的表9)；一质量评定类别单独作为一章（见第6章，1999年版的6.1）；修改了附录A（见附录A，1999年版的附录A）；增加了附录B（见附录B）。
本部分由中国机械工业联合会提出。 本部分由全国输配电用电力电子器件标准化技术委员会（SAC/TC413）归口。 本部分起草单位：湖北台基半导体股份有限公司、江苏威斯特整流器有限公司、江苏捷捷微电子股
份有限公司、浙江正邦电力电子有限公司、西安电力电子技术研究所。
本部分主要起草人：吴拥军、袁华、王成森、项卫光、郭永忠、徐志文、蔚红旗。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
JB1144—1971、JB1144-1975、JB/T8950.1—1999。
1I JB/T8950.1---2013
普通晶闸管第1部分：螺栓形器件
1范围
JB/T8950的本部分规定了管壳额定通态平均电流5A～400A、阻断特性对称的螺栓形反向阻断三极普通晶闸管（以下简称晶闸管）的型号和尺寸、额定值、特性、检验规则、质量评定类别、标志、包装、贮存和订货单。
本部分适用于对称晶闸管。不对称晶闸管也可参照使用。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T4937-1995半导体器件机械和气候试验方法 GB/T15291半导体器件第6部分晶闸管 JB/T2423电力半导体器件型号编制方法 JB/T4277电力半导体器件包装 JB/T7626—2013反向阻断三极晶闸管测试方法
3型号和尺寸
3.1型号
按JB/T2423规定，晶闸管的型号应符合如下规定： KP X×× -××
（数字） 阻断电压的级数（断态/反向重复峰值电压的1/100）（数字） 通态平均电流值［单位为安（A）
器件系列为普通型器件门类为晶闸管
示例：100A、1200V晶闸管的型号为KP100-12。 3.2图形符号和端（子）识别
晶闸管的图形符号如图1所示。 端（子）识别标志如图1所示，或用颜色识别：红色标识阴极端子，如阳极端子和门极端子也用色
标时，则分别使用蓝色（或黑色）和黄色（或白色）。
AO
6G
A一阳极端（子）；K—一阴极端（子）；G门极端（子）。
图1晶闸管的图形符号和端（子）识别标志
1 JB/T8950.1-2013
3.3尺寸
晶闸管的尺寸应符合图2和表1的规定。
Pd
a)KL06KL08
C
b)KL10、KL12
pd?
广
c）KL16A、KL20A、KL24A、KL30A
图2 晶闸管的尺寸表1 晶闸管的尺寸
单位为毫米
尺 X D ≤20 ≤26 ≤31 ≤37 ≤42 ≤48 ≤58
管壳型号 KL06 KL08 KL10 KL12 KL16A KL20A KL24A KL30A
V
di M6 M8 M10 M12 M16X1.5 M20X1.5 M24×1.5 M30X2.0 M12
d2 3.2~4.4
d3 ≥1.2
J 33 39 55 64 80 83 110 130
h
11±1
11±1 13±1 13±1 16±1 19±1 32±1
由制造厂商给出
M8
3.24.3
3.2~5.0 3~5 3~5 3~5
M8 M10 M10
2 JB/T8950.1-2013
5.2周期检验（B组和C组检验）
正常生产的定型产品除每三个月进行一批易焊性试验（B4）外，还应按表7和表8每年至少进行一批B组和C组检验。其中，检验项目栏标有（D）的是破坏性试验。
A组、C1和C2分组试验后的样品可用于其他项目检验，B3、B4分组试验可采用电特性不良的样
品
C组中的di/dt 项目仅对Ir(Av)≥50A时实施。 如初次检验不合格，应按表A.2追加抽样再次检验，但只能追加一次。
表7周期（B组）检验
抽样方案
检验项目
合格判据
序号 分组
检验方法
Ac
n
转矩（D）（仅适 GB/T4937-1995的II.1.4（Ud）：试验持续时用于硬引线器件】 间10s~15s
18 [6]
B3
不损坏
1
GB/T4937-1995的II.2.1（Ta）焊槽法：槽中焊料温度235℃土5℃，保持浸渍状态时间2s± 润泥良好 0.5 s GB/T4937-1995的II.1.1（Na）两箱法： 试后测量： -40℃/Tm，循环5次，每循环高低温各暴露1h、 VTM≤1.1 USL
易焊性（仅适用于焊接端子器件）
18 [6]
B4
温度变化（D） 转换时间2min~3min
13
IRRM≤2USL
F
B5
粗检漏：氟油加压检漏法（GB/T4937-1995 IDRM≤2 USL [6] 的II.7.5》或无水乙醇加压检漏法；细检漏：氨质 细检漏可接受的谱检漏法（GB/T4937-1995的II.7.4）
继之密封
泄漏率见附录B
CRRL 放行批确认记录 简要给出各分组的有关属性数据，试验前后的VTM、IRRM、IDRM值和试验结论注1：USL为表5中对应的规范上限值。 注2：抽样方案栏中，n、Ac分别为样品量和接收数，方括号中的数字为IT(Av≥50A时的样品量。
表8周期（C组）检验
抽样方案
检验方法
检验项目
序号 分组
合格判据
Ac
n 13 [9]
尺寸
检查图2的全部尺寸 JB/T7626—-2013的5.4:25℃，Vp=12V，门极电路无R3触发电流脉冲：t≤0.5us、持续时间 100uS重复率≤50Hz，10V62或82 JB/T7626-2013的5.5:25℃，Vp=12V
C1
符合3.3的规定
18 [11]
IL
2
C2a
符合表5的规定
IH
试后测量：
JB/T7626—-2013的7.3:Tm，VRM=0.8VRRM* VTM≤1.1 USL 个周波、浪涌20次
13 [6]
A
C2c ITSM
IRRM≤2USL IDRM≤2 USL 符合表5的规定
6 [3]
JB/T7626-2013的6.2
C2d Rijc
门