您当前的位置:首页>行业标准>JB/T 8949.2-2013 普通整流管 第2部分:平板形器件

JB/T 8949.2-2013 普通整流管 第2部分:平板形器件

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:2.84 MB

资料语言:中文

更新时间:2023-11-10 11:35:51



相关搜索: jb 平板 部分 器件 普通 整流管 器件 普通 8949

内容简介

JB/T 8949.2-2013 普通整流管 第2部分:平板形器件 ICS31.080.70 K46 备案号:40654—2013
中华人民共和国机械行业标准
JB/T8949.2-2013
代替JB/T8949.2-1999,JB/T5837—1991等
普通整流管 第2部分:平板形器件
General purpose rectifier diodes--Part 2: Disc devices
2013-09-01实施
2013-04-25发布
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T8949.2—2013
目 次
前音范围... 规范性用文件
1
2 3型号和尺
3.1型号 3.2图形符号和端(子)识别 3..尺. 4额定值和特性 4.1参数的级数 4.2额定值 4.3特性值 4.4特性山线(不作为检验要求) 5检验规则 5.1 逐批检验(A组检验) 5.2 周期检验(B组和C组检验) 5.3 鉴定试验(D组试验)质量评定类别
6 7
标志、包装、贴存和订货单 7.1 标志 7.2 包装 7.3 贮存 7.4 订货单附录A(规范性附录)抽样表 A.1 AQL抽样表. A.2 追加抽样表附录B(规范性附录)密封细检漏可接受的泄漏率图1 整流管的图形符号和端(子)识别标志图2 凸台整流管的尺寸图3 四台整流管的尺寸表1 部分凸台整流管的尺寸表2 部分凹台整流管的尺寸. 表3 最大额定值表4 特性值表5 逐批(A组)检验,表6 周期(B组)检验表7 周期(C组)检验表8 鉴定试验表A.1 AQL抽样表表A.2 追加抽样表表B.1 密封细检漏可接受的泄漏率 JB/T8949.2—2013
前言
JB/T8949《普通整流管》共分为两个部分:
第1部分:螺栓形器件;第2部分:平板形器件。
本部分为JB/T8949的第2部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分代替JB/T5837—1991《ZP系列2000A以上管壳额定整流二极管》及其修改单、JB/T5841-
1991《ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管》及其修改单和JB/T8949.2一1999《电流大」100A 普通整流管》,与之相比主要技术变化如下:
正向平均电流展为6000A:对应的管壳型号相调整:修改了规范性引用文件(见第2章,JB/T5837、JB/T5841和JB/T8949.2一1999的第2章);一删除了ZH系列(JB/T5841),相的产品纳入ZP系列: —删除了螺检形产品(JB/T8949.2-1999的3.3.1),相关内容纳入JB/T8949.1--2013;一删除了反向重复峰值电压的级数表(JB/T5837和JB/T5841的表2、JB/T8949.2一1999的表4)一修改了对额定值的规定(见表3,JB/T5837和JB/T5841的表1、JB/T8949.2一1999的表5):修改了对特性值的规定(见表4,JB/T5837和JB/T5841的表3、JB/T8949.2一1999的表6);
修改了在企业标准或产品使用说明书给出的特性出线种类(见4.4,JB/T5837和JB/T5841 的3.4JB/T8949.2—1999J4.4):删除了逐批检验(A组)+的A2a分组(JB/T5837和JB/T5841的表4、JB/T8949.2--1999的表7):一修改了逐批检验(A组)中,A2b分组测量VFM的电流值(见表5,JB/T5837和JB/T5841I的表4 JB/T8949.2—1999的表7); 删除了周期检验(B组)中的尺寸项目(JB/T5837和JB/T5841的表5、JB/T8949.2—1999的表8)电耐久性项目(JB/T5837和JB/T5841的表5)、转矩项目和可焊性项目(JB/T8949.2一1999的表8):修改了周期检验(B组)中,B5分组密封检验的方法和合格判据(见表6,JB/T5837和JB/T5841 的表5、JB/T8949.2—1999的表8);一删除了周期检验(C组)中的IRRM项日和耐焊接热项目(JB/T8949.2一1999的表9);一修改了周期检验(C组),Ri项目的抽样方案(见表7,JB/T5837和JB/T5841的表6JB/T 8949.2—1999的表9);一修改了热循环负载试验试后测量的规定(见表8,JB/T5837和JB/T5841的表7);质量评定类别单独作为一章(见第6章,JB/T5837和JB/T5841的5.3c、JB/T8949.2--1999的6.1):
修改了附录A(见附录A,JB/T5837、JB/T5841和JB/T8949.2一1999附录A):删除了JB/T5837和JB/T5841中的附录B,重新给出了附录B(见附录B)。
本部分由十国机械工业联合会提出。 本部分由全国输配电用电力电子器件标准化技术委员会(SAC/TC413)归口。 本部分起草单位:西安电力电子技术研究所,湖北台基半导体股份有限公司、江苏威斯特整流器有
限公司、浙江正邦电力电子有限公司。
本部分主要起草人:王正鸣、陆剑秋、颜家圣、蒋建明、郭永忠、项光、蔚红旗。 本部分代替了JB/T5837-1991、JB/T5841—1991和JB/T8949.2-—1999。 JB/T8949.2一1999的历次版本发布情况为:
Q/D87—1965、JB1143-1971JB1143-1975。
II JB/T8949.2--2013
普通整流管 第2部分:平板形器件
1范围
JB/T8949的本部分规定了管壳额定正向平均电流200A~6000A平板形普通整流管(以下简称整流管)的型号和尺一」、额定值、特性、检验规则、质量评定类别、标志、包装、则存和订货单。
本部分适用丁整流管。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用了本文件。 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T4023半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T4937-1995半导体器件机械和气候试验方法 JB/T2423电力半导体器件型号编制方法 JB/T4277电力半导体器件包装 JB/T7624—2013整流二极管测试方法
3型号和尺寸
3.1型号
按JB/T2423规定,整流管的型号应符合如下规定:
Z P XXX XX
(数字) 阻断电压的级数(反向重复峰值电压的1/100)(数字) 正间平均电流值[单位为安(A)】
器件系列为普通型器件门类为整流管
示例:1000A-1200V整流管的型号为ZP1000-12 2图形符号和端(子)识别
3.2
整流管的图形符号和端(子)识别标志如图1所示。
Ao 平 oK
A——阳极端(了):K—阴极端(了)》。 图1整流管的图形符号和端(子)识别标志
1 JB/T8949.2--2013
3.3尺寸 3.3.1适用额定电流
额定正向平均电流(IF(AV))小」200A的整流管不推荐用平板形。 3.3.1.1凸台整流管
凹台整流管的尺应符合规定。图2和表1给出了部分凸台整流管的尺寸。
Dma Di
安装定位孔孔价3.5*0.2mm,孔深1.3mm~3mm。
图2凸台整流管的尺寸表1部分凸台整流管的尺寸
单位为毫米
管壳型号和尺寸 ZT60
项日
ZT25 60
ZT37 85
ZT50 95
ZT78 120
ZT85 135
ZT100 ZT125 150
Dmax Di
100
172
25±2 37±2 50±3 60±3 78±3 85±3 100±3 110±3
14±1 26±1 35±2
1
C
d
3.3.1.2 凹台整流管
叫台整流管的尺寸符合规定。 图3和表2给出了部分叫台整流管的尺寸。
Dmax Dimin
图3凹台整流管的尺寸
2 IB/T8949.2—2013
表2 部分凹台整流管的尺寸
单位为毫米
管壳型号和寸
项日 Dmax Dimin A
ZA14 ZA18 ZA24 ZA30 ZA35 ZA40 ZA44 ZA50 ZA54 37
43 18 13
50 24 13
65 30 16
80 35 16
85 40 17
90 44 19
95 50 20
100 54 22
14 13
4 额定值和特性
4.1 参数的级数
阻断电压的级数为反向重复峰值电[VRRM单位为伏(V)了的I/100(参见3.1)。 4.2 额定值
最大额定值(极限值)应符合表3的规定,并适用了整个下作温度范围。
表3 最大额定值反向重复峰值 反向不重复峰值 T作结温 些烂存温度 紧固力 质量
罪件 管壳温度 浪通电流 1’t
T. IrsM A"-s LKWRRM 电压VRSM T, Tstg F m C
型号
A 2.8×103 40×103 4.2×10 90×103 5.6X10* 16X10 7.0X10 25 X10+ 8.4 × 103 35X10

C
Ni
V
V
8
ZP200 ZP300 ZP400 ZP500 ZP600 ZP800 由 11×103 60×10*

由制 制

ZP1000 地 14×103 98×10*
ZP1250 广 18×103 15X10 100~6000 VRSM-VRRM+100 -40~ -40 造厂商

给出, 厂允差为 商
150
160

ZP1600 给 21X103 22X105 ZP2000 11 25X103 31X10° ZP2500
±10% 给
111
30X103 45×10 36X10 65 X 10'
ZP3000 ZP4000 ZP5000 ZP6000
44×103 97×105 55X103 15X10% 66X10 22X10°
4.3特性值
特性值应符合表4的规定。表中均为上限值。
3 JB/T8949.2—2013
表4特性值
正向峰值心压VFM 反向重复峰值心流IRRM 结壳热阻Rie
接触热阻Res
器件型号 ZP200 ZP300 ZP400 ZP500 ZP600 ZP800 ZP1000 ZP1250 ZP1600 ZP2000 ZP2500 ZP3000 ZP4000 ZP5000 ZP6000
V 1.8
mA 30 30 40 40 40 50 50 50 60 100 120 150 200 250 300
C/W 0.200 0.110 0.095 0.068 0.057 0.042 0.034 0.028 0.021 0.017 0.014 0.012 0.0087 0.007 5 0.007 0
C/W
1.9
中制造厂商给 l! I: 限值
2.0
2.2
4.4 特性曲线(不作为检验要求)
应在企业标准或产品使用说明书中给出下列特性曲线: a) 管壳温度与正向平均电流的降额关系: b)正间伏安特性; c) 瞬态热阻抗与时间的关系: d)浪涌电流与周波数的关系和t特性; e)最大功耗与正向平均电流的关系(以波形和导通角为参变量)。
5 检验规则
5.1 逐批检验(A组检验)
每批产品按表5检验。表5中的项目全部为非破坏性。
表5 逐批(A组)检验检验方法
序号 分纽 检验项日
判据
AQL(I)
标志清晰, 表面涂层、镀层无脱落和损伤
A1 外观 日检(在正带照明和正带视力条件下)
1
1.5
JB/T 7624—2013 的 5.1: 25℃, IF(Av)≤1 250 A:
2 A2b VEM IFM-3IT(AV)-IFIAV)>1250A~<4000A:IFM-4000A, 符合表4的规定
1.0
FIAV≥4000A:IFM-5000A(但不小十IFIAV)) JB/T7624—2013的5.4:25℃和Tm,VRRM
IRRM
符合表4的规定
4 JB/T8949.2—2013
AQL的具体抽样方案见表A.1。如初次提交不合格,加严级重新提交再次检验,但只能重新提交一次。 5.2周期检验(B组和C组检验)
正常生产的定型产品应按表6和表7每作至少进行一批B组和C组检验。其中,检验项目栏标有(D)的是破坏性试验。
A组、C1和C2分组试验后的样品可用其他项日检验,B3、B4分组试验可采用电特性不良的样
fl。
如初次检验不合格,应按表A.2追加抽样再次检验,但只能追加·次。
表6周期(B组)检验
抽样方案
序号 分红
检验项白
检验方法
合格判据
Ac

GB/T4937—1995的Im1.1.1(Na)两箱法: 试后测量: 40℃/Tm循环5次,每循环宝低温各暴露1h、 VIMSi.I USL
温度变化(D)转换时间2min~3min 继之密封
IRRM≤2 USL
B5
0
粗检漏:氟油加压检漏法(GB/T4937-1995 IDRM≤2USL 的ⅡI.7.5)或无水乙醇加压检漏法:细检漏:氢 细检漏可接受的质谱检漏法(GB/T4937—1995的II.7.4) 泄漏率见附录B
放行批确认记录 简要给山各分红的有关属性数据,试验前后的VEM、IRRM值和试验结论
CRRL 注1:USL为表4对的规范1限值。 注2:抽样方案栏中,n、Ac分别为样品量和接收数
表7周期(C组)检验
抽样方案
序5 分红 1 CI 尺寸
检验方法
检验项日目
合格判据符合3.3的规定 9 试后测量: VEM≤1.1 USL IRRM≤2 USL 符合表4的规定 3
Ac
H
检在图2或图3的全部寸 JB/T7624--2013的7.4:Tm,VRm=0.8RRM 个周波、浪涌20次 JB/T7624—2013的6.2
T
C2c IrsM
C2d Ric
3
电耐久性(交流阻 GB/T4023规定的方法:Tm-9℃,半F弦波形,断)
C8
试后测量:同C2c
6
复*50Hz,0.7VRRM1000-ah GB/T4937—1995的II.2:160-g℃,1000*36h
5 C9 高温此存 CRRL 放行批确认记录 简要给山各分红的有关属性数据,试验前后的VrM、IRRM值和试验结论注1:USL为表4中对成的规范上限值。 注2:抽样方案栏中,n、Ac分别为样品量和接收数。 5.3 鉴定试验(D组试验)
6
产品定型鉴定时,除A组、B组、C组检验外,还应按表8进行D组试验。其中,检验项目栏标有(D)的是破坏性试验。
D组试验在逐批检验的基础上进行。
5
上一章:JB/T 9341.2-2013 计量光栅 第2部分:数显表(卡) 下一章:JB/T 8749.8-2014 调压器 第8部分:柱式稳压器

相关文章

JB/T 8950.2-2013 普通晶闸管 第2部分:平板形器件 JB/T 8949.1-2013 普通整流管 第1部分:螺栓形器件 JB/T 8950.1-2013 普通晶闸管 第1部分:螺栓形器件 GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 27905.2-2011 火灾物证痕迹检查方法 第2部分:普通平板玻璃 JB/T 3849.2-2011 仿形车床 第2部分:精度检验 JB/T 13700.2-2019 管形工件电解成形机床第2部分∶技术条件 JB/T 7414.2-2006 立式立体仿形铣床第2部分∶技术条件