ICS31.080.10 K 46 备案号：40653--2013
中华人民共和国机械行业标准
JB/T8949.12013 代替JB/T8949.1---1999
普通整流管 第1部分：螺栓形器件
General purpose rectifier diodes---Part 1: Stud devices
2013-09-01实施
2013-04-25发布
中华人民共和国工业和信息化部发布 中华人民共和国
机械行业标准
普通整流管 管第1部分：螺栓形器件
JB/T 8949.1—2013
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机械工业出版社出版发行北京市百万庄大街22号
邮政编码：100037
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210mm×297mm-0.75印张-23千字
2014年1月第1版第1次印刷
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书号：15111-10997 网址：http：/ //www.cmpbook.com 编辑部电话： (010)88379778 直销中心电话： (010）88379693
封面无防伪标均为盗版
版权专有 侵权必究 JB/T8949.1--2013
目 次
前言 1范围.
I
规范性引用文件 3型号和尺寸. 3.1型号.. 3.2 图形符号和端（子）识别， 3.3尺寸 4额定值和特性 4.1 参数的级数. 4.2 额定值， 4.3 特性值.. 4.4 特性曲线（不作为检验要求） 5检验规则 5.1 逐批检验（A组检验） 5.2 周期检验（B组和C组检验） 5.3 鉴定试验（D组试验） 6质量评定类别 7标志、包装、贮存和订货单
2
...
01.0.
..-............
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7.1 标志. 7.2 包装. 7.3 贮存.. 7.4订货单附录A（规范性附录）抽样表 A.1AQL抽样表.. A.2追加抽样表附录B（规范性附录）密封细检漏可接受的泄漏率图1 整流管的图形符号和端（子）识别标志图2 整流管的尺寸表1 整流管的尺寸，表2 最大额定值. 表3特性值. 表4 逐批（A组）检验.. 表5 周期（B组）检验. 表6周期（C组）检验表7鉴定（D组）试验表A.1AQL抽样表表A.2 追加抽样表，表B.1 密封细检漏可接受的泄漏率 JB/T8949.1--2013
前言
JB/T8949《普通整流管》共分为两个部分：
第1部分：螺栓形器件； -第2部分：平板形器件。
本部分为JB/T8949的第1部分。 本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。 本部分代替JB/T8949.1—1999《电流小于100A普通整流管》，与JB/T8949.1—1999相比主要技术变
化如下：
一正向平均电流扩展为500A：对应的管壳型号相应调整：修改了规范性引用文件（见第2章，1999年版第2章）；删除了反向重复峰值电压的级数表（1999年版的表2）；修改了对额定值的规定（见表2，1999年版的表3）；修改了对特性值的规定（见表3，1999年版的表4）；修改了应在企业标准或产品使用说明书中给出的特性曲线种类（见4.4，1999年版的4.4）；一册删除了逐批检验（A组）中的A2a分组（1999年版的表5）；修改了周期检验（B组）中，B5分组密封检验的方法和合格判据（见表5，1999年版的表6）；删除了周期检验（B组）中的尺寸项目和周期检验（C组）中的IRRM项目（1999年版的表6和表 7); 修改了周期检验（C组）中，Ri项目的抽样方案（见表6，1999年版的表7）；一质量评定类别单独作为一章（见第6章，1999年版的6.1）；修改了附录A（见附录A，1999年版附录A）：增加了附录B（见附录B）。
-
本部分由中国机械工业联合会提出。 本部分由全国输配电用电力电子器件标准化技术委员会（SAC/TC413）归口。 本部分起草单位：湖北台基半导体股份有限公司、江苏威斯特整流器有限公司、浙江正邦电力电子
有限公司、西安电力电子技术研究所。
本部分主要起草人：肖彦、蒋建明、项卫光、郭永忠、徐志文、蔚红旗。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
Q/D87-1965、JB1143-1971、JB1143-1975、JB/T8949.1—1999。
II JB/T8949.1---2013
普通整流管 第1部分：螺栓形器件
1范围
JB/T8949的本部分规定了管壳额定正向平均电流5A～500A螺栓形普通整流管（以下简称整流管）的型号和尺寸、额定值和特性、检验规则、质量评定类别、标志、包装、贮存和订货单
本部分适用于整流管。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T4023半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T49371995半导体器件机械和气候试验方法 JB/T2423电力半导体器件型号编制方法 JB/T4277电力半导体器件包装 JB/T7624-2013整流二极管测试方法
3型号和尺寸
3.1型号
按JB/T2423规定，整流管的型号应符合如下规定： ZP XXX 一 XX
（数字） 阻断电压的级数（反向重复峰值电压的1/100）（数字） 正向平均电流值［单位为安（A）]
器件系列为普通型器件门类为整流管
示例：100A-1200V整流管的型号为ZP100-12。 3.2图形符号和端（子）识别
整流管的图形符号和端（子）识别标志如图1所示。 端（子）识别标志如图1所示，或用颜色识别：红色标识阴极端子，如阳极端子也用色标时，则使
用蓝色（或黑色）。
A OK
A——阳极端（子）：K—阴极端（子）。 图1整流管的图形符号和端（子）识别标志 JB/T8949.1-2013
3.3尺寸
整流管的尺寸应符合图2和表1的规定。
D
a)ZL05.ZL06、ZL08
b)ZL12、ZL16A、ZL20A、ZL24A、ZL30A
图2 整流管的尺寸表1 整流管的尺寸
单位为毫米
尺 寸
管壳型号
D
d2 ≥1.5 3.2~4.4 M6 M8 M8 M10 M10 M12
J 21 25 44 64 82
d1 M5 M6 M8 M12
h
L
ZL05 ZL06 ZL08 ZL12 ZL16A ZL20A ZL24A ZL30A
≤20
11 ±1
≤26 ≤31 ≤37 ≤42 ≤48 ≤58
11±1 13±1 13±1 16±1 19±1 32±1
由
制造厂商给出
M16X1.5 M20X1.5 M24X1.5 M30X2.0
110
130
4 额定值和特性
4.1 参数的级数
阻断电压的级数为反向重复峰值电压［VRRM，单位为伏（V）的1/100（参见3.1）。 4.2额定值
最大额定值（极限值）应符合表2的规定，并适用于整个工作温度范围。
2 JB/T8949.12013
表2 2最大额定值
管壳温度 浪电流
反向重复峰值 反向不重复峰值 工作结温 贮存温度 紧固力矩 质量电压VRRM 电压VRSM
型号 T. IrsM A2-s P't
器件
Ti ℃
Tsg ℃
M N-m
m g
℃
A 90 190
V
V
ZP5 ZP10
40 180
ZP20 由 380 720 ZP30 制
由制厂商给出
560 1600
由制造厂商
-40~ -40~ 给出，允差为 造
ZP50 造 940 5.0X103 ZP100 商 1.4×103 10×103 ZP200 给 2.8X103 40×103 ZP300 出 4.2×103 90×103
1003000 VRSM=VRRM+100
150
160
±10%
1
5.6X103 16×104 7.0X103 25×104
ZP400 ZP500
4.3特性值
特性值应符合表3的规定。表中均为上限值。
表3特性值
正向峰值电压VFM 反向重复峰值电流IRM 结壳热阻Rijc 接触热阻Res
器件型号 ZP5 ZP10 ZP20 ZP30 ZP50 ZP100 ZP200 ZP300 ZP400 ZP500
V
"C/W 4.0 2.2 1.4 1.0 0.60 0.30 0.20 0.110 0.095 0.068
C/W
mA 1 2 5
1.2
由制造厂
10
1.4
商给出 K
10 20
限值
1.5
20
4.4特性曲线（不作为检验要求）
应在企业标准或产品使用说明书中给出下列特性曲线： a）管壳温度与正向平均电流的降额关系； b）正向伏安特性； c）瞬态热阻抗与时间的关系（IF(AV)≥50A时给出）； d）浪涌电流与周波数的关系和Pt特性（Ip(Av)≥200A时给出）； e）最大功耗与正向平均电流的关系（以波形和导通角为参变量）。 JB/T8949.1---2013
5检验规则
5.1逐批检验（A组检验）
每批产品应按表4检验。表4中的项目全部为非破坏性。 AQL抽样方案见表A.1。如初次提交不合格，应加严一级重新提交再次检验，但只能重新提交一次。
表4逐批（A组）检验
序号 分组 检验项目
判据
AQL（II）
检验方法
标志清晰，表面涂层、镀层无脱落和损伤符合表3的规定
A1
外观
目检（在正常照明和正常视力条件下）
1.5
1
JB/T7624——2013的5.1:25℃C，IFM=3IF(AV)
VFM
2 A2b
1.0
IRRM. JB/T7624-2013的5.4:25℃和TmVRRM 符合表3的规定
5.2 周期检验（B组和C组检验）
正常生产的定型产品除每三个月进行一批易焊性试验（B4）外，还应按表5和表6每年至少进行一批B组和C组检验。其中，检验项目栏标有（D）的是破坏性试验。
A组、C1和C2分组试验后的样品可用于其他项目检验：B3、B4分组试验可采用电特性不良的样
品
如初次检验不合格，应按表A.2追加抽样再次检验，但只能追加一次。
表5周期（B组）检验
抽样方案
序号分组 检验项目
检验方法
合格判据
Ac
转矩（D）（仅适 GB/T4937—1995的II.1.4（Ud）：试验持续时用于硬引线器件） 间10s~15s
18 [6] 18 [6]
不损坏
B3
1
GB/T4937—1995的II.2.1（Ta）焊槽法：槽中焊料温度235℃土5℃，保持浸渍状态时间2s士 润湿良好 0.5 s GB/T4937-1995的II.1.1（Na）两箱法： 试后测量： -40℃/Tm，循环5次，每循环高低温各暴露1h VTM≤1.1 USL
易焊性（仅适用于焊接端子器件）
B4
温度变化（D）继转换时间2min~3min
IRRM≤2 USL
13 [6]
m B5
粗检漏：氟油加压检漏法（GB/T4937-1995 IDRM≤2 USL 的II.7.5）或无水乙醇加压检漏法；细检漏：氢 细检漏可接受的泄质谱检漏法（GB/T4937-1995的II.7.4）
之密封
漏率见附录B
CRRL 注1：USL为表3中对应的规范上限值。 注2：抽样方案栏中，n、Ac分别为样品量和接收数，方括号中的数字为Ir(Av)≥50A时的样品量。
放行批确认记录 简要给出各分组的有关属性数据，试验前后的VFMIRRM值和试验结论
4