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GB/T 13062-2018 半导体器件集成电路第21-1部分∶膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范（采用鉴定批准程序）

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GB/T 36474-2018 半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM））测试方法

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GB/T 3859.3-2013 半导体变流器通用要求和电网换相变流器第1-3部分：变压器和电抗器

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GB/T 4937.30-2018 半导体器机械和气候试验方法第30部分∶非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理

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GB/T 37312.1-2019 航空电子过程管理航空航天国防及其他高性能应用领域（ADHP）电子元器件第1部分:高可靠集成电路与分立半导体器件通用要求

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