GB/T 36474-2018
半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM））测试方法
Semiconductor integrated circuit— Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory (DDR3 SDRAM)
2019-01-01实施
2018-06-07发布
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
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本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC78）归口。