您当前的位置:首页>行业标准>GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM) 正式版

GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM) 正式版

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:8.94 MB

资料语言:中文

更新时间:2024-05-16 16:42:44



推荐标签: 半导体 静电 4937 人体 模型 试验 器件 气候 正式版 敏感度 气候 器件

内容简介

上一章:GB/T 43046-2023 信息技术服务 应对突发公共安全事件的信息技术应急风险管理 正式版 下一章:GB/T 43206-2023 信息安全技术 信息系统密码应用测评要求 正式版

相关文章

GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试 机器模型(MM) GB/T 4937.201-2018 半导体器件机械和气候试验方法第20-1部分∶对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输 GB/T 4937.13-2018 半导体器件机械和气候试验方法第13部分∶盐雾 GB/T 4937.17-2018 半导体器件机械和气候试验方法第17部分∶中子辐照 GB/T 4937.19-2018 半导体器件机械和气候试验方法第19部分∶芯片剪切强度 GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分∶扫频振动 GB/T 4937.22-2018 半导体器件机械和气候试验方法第22部分∶键合强度 GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命