GB/T 14849.10-2016
工业硅化学分析方法第10部分∶汞含量的测定原子荧光光谱法
Methods for chemical analysis of silicon metal— Part 10:Determination of mercury content— Atomic fluorescence spectrometry method
2017-07-01 实施
2016-08-29 发布
前言
GB/T 14849《工业硅化学分析方法》分为11 个部分∶
—第 1 部分∶铁含量的测定 1，10-二氮杂菲分光光度法;
—第 2 部分∶铝含量的测定 铬天青-S分光光度法;
—第 3 部分∶钙含量的测定;
—第 4部分∶杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法;
—第 5 部分∶杂质元素含量的测定 X 射线荧光光谱法;
—第 6 部分∶碳含量的测定 红外吸收法;
—第 7 部分∶磷含量的测定 磷钼蓝分光光度法;
—第 8 部分∶铜含量的测定 原子吸收光谱法;
—第 9 部分∶钛含量的测定 二安替吡啉甲烷分光光度法;
—第 10 部分∶汞含量的测定 原子荧光光谱法;
—第 11 部分∶铬含量的测定 二苯碳酰二肼分光光度法。
本部分为 GB/T 14849 的第 10 部分。
本部分按照 GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本部分由中国有色金属工业协会提出。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC 243）归口。