ICS 73. 080 H 33
YB
中华人民共和国黑色冶金行业标准
YB/T 190.13—2014
连铸保护渣 二氧化硅、三氧化二铝、
氧化钙、氧化镁、全铁含量的测定
波长色散X射线荧光光谱法
Continuous casting mold powderThe determination of silicon dioxide, aluminiumoxide,calcium oxide,magnesiumoxideandtotal iron contentThe
wavelengthdispersiveX-rayfluorescencespectrometricmethod
2015-04-01实施
2014-10-14发布
中华人民共和国工业和信息化部 发布 YB/T190.13—2014
前言
YB/T190《连铸保护渣化学分析方法》分为13部分：
第1部分：连铸保护渣 二氧化硅含量的测定高氯酸脱水重量法第2部分：连铸保护渣 氧化铝含量的测定EDTA滴定法第3部分：连铸保护渣 总钙含量的测定EGTA滴定法第4部分：连铸保护渣 氧化镁含量的测定CyDTA滴定法 -第5部分：连铸保护渣化学分析方法火焰原子吸收光谱法测定氧化钾、氧化钠含量第6部分：连铸保护渣 游离碳含量的测定燃烧气体容量法和红外线吸收法第7部分：连铸保护渣 总碳含量的测定燃烧气体容量法和红外线吸收法第8部分：连铸保护渣 铁含量的测定邻菲罗啉分光光度法和火焰原子吸收光谱法第9部分：连铸保护渣 氧化锂含量的测定火焰原子吸收光谱法第10部分：连铸保护渣 氟含量的测定离子选择电极法第11部分：连铸保护渣 氧化锰含量的测定高碘酸钠（钾）分光光度法和火焰原子吸收光谱法第12部分：连铸保护渣 三氧化二硼含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法第13部分：连铸保护渣 查二氧化硅、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、全铁含量的测定 波长色散
-
-
-
X射线荧光光谱法
本部分为YB/T190的第13部分。 本部分按照GB/T1.1-—2009给出的规则起草。 本部分由中国钢铁工业协会提出。 本部分由全国钢标准化技术委员会（SAC/TC183)归口。 本部分起草单位：天津钢铁集团有限公司、冶金工业信息标准研究院。 本部分主要起草人：潘贻芳、边立槐、杨舰、仇金辉、殷宏、孙颖、闫学会、卢春生。 YB/T 190.13——2014
连铸保护渣二氧化硅、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、
全铁含量的测定波长色散射线荧光光谱法
警告：使用本部分的人员应有正规实验室工作实践经验。本部分未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。 1范围
本部分规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定连铸保护渣中二氧化硅、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、全铁的分析方法。
本部分适用于连铸保护渣中如下所列5个成分的测定，测定范围（质量分数）见表1。
表1测定范围
成分 SiO, Al, O3 Cao Mgo TFe
测定范围（质量分数)/%
20.00~50.00 1,00~30.00 20.00~50.00 1.00~15.00 0.10~5.00
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本部分。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本部分。
GB/T2007.2散装矿产品取样、制样通则手工制样方法 GB/T6682分析实验室用水规格和试验方法 GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定 JJG810中华人民共和国国家计量检定规程波长色散X射线荧光光谱仪
3原理
将试料和熔剂（无水四硼酸锂或混合熔剂)按一定比例混合，加入一定量的硝酸锂作氧化剂，溴化锂溶液作脱模剂，用熔融炉熔融，制成组分均匀、表面光洁、无瑕疵的硼酸盐玻璃状熔融样片。用X射线荧光光谱仪测量玻璃状熔融试片中的待测元素的X射线荧光强度，根据用标准样品制作的校准曲线求出待测试样各成分的含量。 4试剂
分析中除另有说明外，仅使用认可的分析纯试剂，实验用水为GB/T6682规定的三级以上蒸馏水或纯度与其相当的水。 4.1硝酸锂
将硝酸锂在105℃下干燥1h，然后在干燥器中冷却。 4.2 四硼酸锂（荧光专用试剂）。
将四硼酸锂在500℃下灼烧4h，然后在干燥器中冷却、贮存。
1 YB/T190.13—2014
8.1.2分析元素的计数时间取决于定量元素的含量及所要达到的分析精密度，一般为5s～60s。 8.1.3光管电压、电流的选择应考虑测定谱线最低激发电压和光管的额定功率。 8.1.4使用多个试样容器时，容器面罩不应对分析结果构成明显的影响，面罩直径一般为20mm～ 35mm。 8.1.5测量试片时，推荐使用旋转工作方式。 8.1.6推荐使用的分析线、分光晶体、20角、光管电压电流及可能的干扰元素列入表2。
表2推荐使用的分析线、分光晶体、20角、光管电压电流、可能干扰元素
20角/() 57, 50 109. 09 144. 78 25kV ~100mA 113. 06 25kV ~100mA 22. 95
光管电压电流 可能干扰元素 50kV~50mA
成分 TFe SiO2 Al, O; Cao MgO
推荐谱线 FeKan.2 SiKal.2 AIKal.2 CaKal.2 MgKal.2
分光晶体 LiF(200) PET(002) PET(002) LiF(200) PX(001)
Mn W Br、Ti Sn
25kV~100mA
25kV~100mA Ca,As、Se,Ge
8.2校准样品的选择
选择有一定浓度和梯度范围的系列有证标准样品作为校准样品。如果选用的系列标准样品未能覆盖待测样品含量范围，可使用有证标准样品的混合物、有证标准样品与纯物质的混合物及经标准化学分析方法准确定值的保护渣内控样品作为补充。
将制备好的校准样品按7.1~7.4制成校准熔融样片。 8.3校准曲线
测量标准熔融样片的X射线强度以建立校准曲线，用最小二乘法求得强度与灼烧后各成分的浓度的二次方程或一次方程：
(2)
W=al?+?+
式中： W——待测成分的含量，%； I—各成分的X射线强度，kcps;
a，b,c—系数(一次方程时，a=0)。 8.4漂移校正
由于仪器测量状态的变化会导致测量结果发生偏差。当监控试样中测量成分的含量超出允许偏差后，应用漂移校正样片对仪器进行漂移校正，可采用单点校正或两点校正。
采用单点校正时，应选择各成分含量较高的校准样片作为漂移校正样片；采用两点校正时，应分别选取各成分含量的上限和下限校准样片作为漂移校正样片。 9结果计算 9.1分析结果的计算
测量熔融样片各元素的X射线荧光强度，计算出灼烧后样品中各成分的含量，按式（3)计算出试样中各成分的含量：
.... (3)
C=C;×(100-L01)/100..
式中： C试样的各成分的含量，%； C——灼烧后试料中各成分的含量，%。
3 YB/T190.13—2014
9.2 结果的计算
所得试样的两个有效分析值之差的绝对值应小于表3所规定的允许差，如果两个有效分析值之差的绝对值大于表3所规定的允许差，则按附录A的规定追加测量次数并确定分析结果。
最终结果是可接受分析值的算术平均值，数值修约按GB/T8170的规定进行，修约至两位小数。 10 允许差
允许差见表3。
表3允许差(质量分数）
%
含量 20.00~50.00 1.00~10.00 >10.00~30.00 20.00~50.00 1.00~5.00 >5. 00~15.00 0.10~1.00 >1.00~5.00
允许差 0. 50 0. 30 0. 50 0. 50 0. 20 0. 50 0. 05 0. 20
成 分 SiO2 Al,Os Cao Mgo
TFe
11 试验报告
试验报告应包括下列信息： a) 测试实验室名称和地址； b) 试验报告发布日期； c) 本部分的编号； d) 试验本身必要的详细说明； e) 分析结果； f) 测定过程中存在的任何异常特性和在本部分中没有规定的可能对试样或标准样品的分析结果
产生影响的任何操作。
4 YB/T 190.13—2014
附录A (规范性附录）
试验样分析值接受程序流程图
图A.1为试验样分析值接受程序流程。
从独立结果开始分析结果，
是
+
1-yr
2
香再次测定
足
[>max min|≤1.2r
=++
香再次测定J4
, + Y2+ Yg+4
是
[Vmax Ymin|≤1.3r
u=
4
香
μ=中位值(J，J2，，)
注：r为标准规定的允许差。
图A.1 试验样分析值接受程序流程图
5 :
.- . . 1 -
中华人民共和国黑色冶金
行业标准
连铸保护渣二氧化硅、三氧化二铝、 氧化钙、氧化镁、全铁含量的测定
波长色散X射线荧光光谱法
YB/T190.13—2014
*
冶金工业出版社出版发行北京北河沿大街嵩祝院北巷39号
邮政编码：100009
北京七彩京通数码快印有限公司印刷
各地新华书店经销
155024-0652
*
开本880X1230 1/16 印张0.75 字数16千字 2015年3月第一版 2015年3月第一次印刷
*
统一书号：155024·0652 定价：25.00元
15502406526