ICS 75.020 E12 备案号：37538—2012
SY
中华人民共和国石油天然气行业标准
SY/T62522012 代替SY/T6252—1996
中文/English
感应测井仪刻度及刻度装置技术规范
Technical specifications for induction logging tool calibration
and calibration device
2012一12一01实施
2012—08-23发布
国家能源局 发布 SY/T6252—2012
目 次
前言
T
范围 2 术语和定义
1
仪器刻度装置技术要求 3.1 刻度环设计要求 3.2 刻度环在线图系上的位置选择仪器刻度要求
3
4
4.1 刻度设备 4.2 刻度环境 4.3 刻度架高 4.4 仪器工作状态 4.5 刻度周期 4.6 刻度附录A（资料性附录） 仪器刻度环优选直径附录B（资料性附录） 仪器刻度环内置电阻：附录C（资料性附录） 刻度乘因子（m）、加因子（A）的计算附录D（资料性附录） 仪器技术指标
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14 SY/T6252—2012
前言
本标准按照GB/T1.1一2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。
本标准代替SY/T6252-—1996《感应测井仪刻度装置技术要求》。本标准与SY/T62521996相比，主要技术变化如下：
标准名称由《感应测井仪刻度装置技术要求》修改为《感应测井仪刻度及刻度装置技术规范》；删除了装置的配置和技术要求的全部内容（见1996年版的第3章）：删除了形式和结构（见1996年版的4.1）：删除了标准室技术要求（见1996年版的第5章）增加了术语和定义（见第2章）：增加了刻度环设计要求（见3.1)：增加了感应仪器刻度环在线圈系上的位置选择、刻度实施过程要求（见3.2和第4章）；增加了“仪器刻度环优选直径”（见附录A）：增加了“仪器刻度环内置电阻”（见附录B）；增加了“刻度乘因子（m）、加因子（A）的计算”（见附录C）；增加了仪器技术指标”（见附录D）。
本标准由石油工业标准化技术委员会石油测井专业标准化委员会（CPSC/TC11）提出并归口。 本标准负责起草单位：中国石油集团测井有限公司。 本标准参加起草单位：中国石化集团胜利石油管理局测井公司、中国石油集团中国长城钻探工程
公司测井技术研究院、中国石油集团川庆钻探工程有限公司测井公司。
本标准主要起草人：胡启月、李安宗、安涛、陈草棠、陈涛、陈丽萍、刘敏、胡秀妮、裴鹏、彭张、鲍文辉、张瑞新、郝永杰、徐忠青。
本标准以中文和英文两种文字出版，当英文和中文两种版本有歧义时，以中文版本为准。
Ⅱ SY/T6252—2012
感应测井仪刻度及刻度装置技术规范
1范围
本标准规定了感应测并仪（以下简称仪器）刻度及刻度装置的技术要求和仪器刻度的环境，工作
要求，刻度步骤及测前、测后校验。
本标准适用于DIL6520.DIL5520，GY2000，1503XB，JSB801，XC70B，MIT5530，MIT6530. AFIT，1515，HRAI仪器刻度及刻度装置的设计，其他感应仪器的刻度可参照执行。
2术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1
刻度环calibrationloop 一个金属导电环和申联的刻度电阻固定在一块绝缘的基板上，这样一个装置被称为刻度环。
2.2
刻度环系数（K值） coefficient (K value) for calibration loop 刻度环的阻抗对应仪器产生的模拟地层电导率之间关系，用刻度环K值表示，见公式（1）：
K=.Z
(1)
式中：
仪器测量的模拟地层电导率，单位为毫西门子每米（mS/m）； Z一刻度环的阻抗，单位为欧姆（Q）： K刻度环系数。 K值与仪器线圈系结构，发射频率，刻度环大小以及刻度环在线圈系上的位置有关。
3仪器刻度装置技术要求
3.1 刻度环设计要求 3.1.1刻度环直径选择
仪器刻度环优选直径参见附录A。 3.1.2 刻度环电阻的选择
仪器刻度环内置电阻参见附录B。 3.1.3刻度环常用材料 3.1.3.1铜管材料
刻度环选用的铜管材料外径为：<6mm：壁厚为：<0.5mm SY/T6252—2012
3.1.3.2基板材料
选用绝缘材料板，一般用其酚醛布板和环氧玻璃布板，其规格为： a）厚度：6mm~8mm。 b) 直径：D≥2（r5）mm。
刻度环半径由公式（2）计算得出：
r=K/(2元gm)
(2)
式中：一刻度环半径，单位为米（m）： K一一刻度环系数，单位为米的倒数（1/m）： gm—一刻度环的几何因子，单位为平方米的倒数（1/m）； e）中心孔直径：d=d.10mm（d为仪器外径）。
3.1.3.3导线
多芯镀银线，外径为3mm~5mm。 3.1.4 刻度电阻的选取
刻度电阻值的计算见公式（3）：
R=pK DK
(3)
2
式中： R—一刻度环串联电阻.单位为欧姆（2)：
模拟的均介质电阻率，单位为欧姆米（Q·m）；刻度环系数：刻度环的电抗，单位为欧姆（Q）。
K X 刻度电阻应选用精度高于0.1%的无感电阻。
刻度环在线圈系上的位置选择
3.2
每种应用于测井作业的感应仪器在它设计制造时已选定刻度环在线圈系外壳上的位置（刻度点）并且该刻度位置应在线圈系外壳上有位置记号，阵列感应仪器宜采用滑动刻度，不需做刻度位置标记。
仪器刻度要求 4.1 刻度设备
4
刻度所需主要设备如下： a) 地面测量系统。 b) 遥传短节。 c) 刻度环。 d) 刻度电阻。 e) 仪器支架或仪器刻度吊升设备。
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4.2刻度环境
仪器刻度环境要求： a) 仪器周围环境：
仪器刻度应选择在远高建筑物的空旷，露天、平坦的地方；径向10m以内没有导电、导磁物质；径向距仪器30m以内无闭合的金属栅状物；仪器的支撑架不应有导电金属物质；地面应干燥，不应有积水。
b）天气：雾、霾、雨、雷电、雪天气以及刮三级以上风不应进行刻度。
仪器周围电干扰：
刻度场地应选在远离高大建筑30m以外： -50m之内无无线电发射装置和20kW以工用电设备：一刻度时50m之内无另一支感应仪器或其他类似的电磁发射仪器工作。
4.3、刻度架高
仪器刻度时架高要求： a）对于多探测深度仪器：架高以最深探测深度仪器为设定依据。 b) 按照地表电导率、刻度精度要求选取仪器架高。 c) 架高不小于1.5m。
4.4 仪器工作状态 4.4.1 双感应一八侧向仪器
仪器工作状态要求： a) 仪器工作应正常，性能达到指标要求。 b) 仪器供电时电缆头电压为交流电180V或220V.地面电流应小于160mA，仪器预热30min。
仪器在刻度位置上：其零值（不加刻度环）绝对值应小于5mS/m，连续工作4h以上稳定性良好。
4.4.2MIT5530（MIT6530）仪器
仪器工作状态要求： a) 仪器刻度时，性能达到指标要求。 b) 仪器供电时缆头电压范围为交流电200V~240V.地面电流应小于250mA，仪器预
热30min。 QC曲线值变化范围应小于2%，且无突变，观测遥测温度TTMP与MIT5530仪器线圈系内部温度TMP之间温度差小于5℃，各线圈曲线数值稳定在零值附近，无较大跳变。
4.4.3AFIT仪器
仪器工作状态要求： a) AFIT刻度时，电压范围为交流电200V~240V。 b）仪器通过“Ethernet”与计算机建立正常连接。 c) 地面软件接收数据、绘制曲线正带。
3 SY/T6252—2012
d）启动发射，发射电流测量值为430mA±22mA。 4.4.41515仪器
仪器工作状态要求： a) 仪器刻度时：性能达到指标要求。 b) 仪器供交流电180V，电流应小于300mA，MODE2和MODE5通信建立正常。 c) 仪器预热15min，观测rxtemp与txtemp之间温度差小于5℃：测井状态下，空气电导率读
值相对稳定。
4.4.5HRAI仪器
仪器工作状态要求：
仪器刻度时，性能达到指标要求，PM1检查正常。
a
b) 仪器供直流电200V.未发射时电流70mA土10mA，发射后电流140mA±10mA。
建立好通信后，在HRAI波形窗口可以观察10道接收信号（正弦信号）和一道发射参考信号，每个接收线圈接收到的8kHz和32kHz信号是重叠的；在“ToolDataMonitor”低压电源数值正常。
4.5刻度周期
仪器在符合下列情况之一时应刻度： a) 新仪器经验收后投人测井作业前。 b) 在使用过程中，仪器经任何调试、更换元器件、维修以及调节任何参数后。
仪器在正常测量20口井或间隔90d后。 d) 若发现仪器线圈系直耦发生变化和偏移时。 注：刻度乘因子（m）、加因子（A）的计算参见附录C。
4.6刻度 4.6.1 双感应一八侧向仪器刻度 4.6.1.1 地面系统设置步骤 4.6.1.1.1 地面系统设置工程值见表1
表1地面系统工程值
工程低值 mS/m 0. 5 0.5
工程高值 mS/m 500 500
仪器参数深感应中感应
4.6.1.1.2 按测量要求把被刻度仪器与地面系统连接。 4.6.1.1.3 仪器预热30min。 4.6.1.2刻度步骤 4.6.1.2.1 通过地面系统将仪器置于“测井”状态。 4.6.1.2.2 仪器工程低刻”：刻度环开关置于开路，待地面系统显示稳定后开始采样。 4 SY/T6252—2012
4.6.1.2.3仪器“工程高刻”：感应刻度环放在线圈系的中感应或深感应刻度点上，刻度环置于M “500”（或D“500”）待地面系统显示稳定后开始采样。 4.6.1.2.4地面计算：上述数据采集完成后，由地面系统计算产生该仪器刻度系数并存储。 4.6.1.3校验步骤 4.6.1.3.1仪器“工程低刻”校验：通过地面系统将深感应、中感应置低刻”状态，与主刻度 “工程低刻”比较，允差±2mS/m。 4.6.1.3.2仪器“工程高刻”校验：通过地面系统将仪器置“高刻”状态，与主刻度工程高刻” 比较，允差±2%。 4.6.1.4测前校验步骤 4.6.1.4.1仪器下井后，正式测曲线前，应在离套管鞋50m外的裸眼井中对仪器进行测前校验。 4.6.1.4.2仪器“工程低刻”校验：通过地面系统将深感应、中感应置“低刻”状态：与校验工程低刻"比较，允差±2mS/m。 4.6.1.4.3仪器“工程高刻”校验：通过地面系统将仪器置“高刻”状态，与校验“工程高刻”比较，允差±5%。 4.6.1.5测后校验步骤 4.6.1.5.1 仪器测完曲线，应在离套管鞋50m外的裸眼井中对仪器进行测前校验。 4.6.1.5.2仪器“工程低刻”校验：通过地面系统将深感应、中感应置“低刻”状态。与校验工程低刻”比较，允差2mS/m。 4.6.1.5.3仪器“工程高刻”校验：通过地面系统将仪器置“高刻”状态。与校验工程高刻”比，较，允差±5%。
注：双感应一八侧向仪器的技术指标参见表D.1。 4.6.2MIT5530（MIT6530）仪器 4.6.2.1 刻度步骤 4.6.2.1.1 将仪器放置在距地面1.5m高处的木架上。 4.6.2.1.2连接地面系统、遥传伽马短节、阵列感应仪器：启动系统及刻度软件。给仪器供电并预热30min。 4.6.2.1.3 点击“刻度”程序中的“仪器选择”，选择“阵列感应成像仪器”。 4.6.2.1.4 小环（250mm）刻度：选择10α电阻连接小环：推动刻度环在线圈系上滑动，同时采集，直到A6和A9线图的极大值数据。 4.6.2.1.5中环（500mm）刻度：选择10Q电阻连接中环，推动刻度环在线图系上滑动，同时采集，直到A12，A15和A21线圈的极大值数据。 4.6.2.1.6大刻（1200mm）度环：选择52电阻连接大环，推动刻度环在线图系上滑动，同时采集，直到27，39和72线图的极大值数据。 4.6.2.1.7测量：去掉刻度环，测量仪器本身的零值 4.6.2.1.8刻度计算：数据采集结束后：点击刻度计算”。计算出得到仪器K值和直耦值（loop mit.cal,bg_mit.cal文件)。 4.6.2.1.9刻度参数保存：输人对应的仪器号（***），点击“仪器参数保存”。将K值和直耦文件，温度系数文件（tempmit****），二级刻度文件calmit.cal组合为仪器刻度参数文件
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