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GB/T 26097-2010 数显电感测微仪

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内容简介

GB/T 26097-2010 数显电感测微仪 ICS17.040.30 J42
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T26097--2010
数显电感测微仪
Inductive length measuring instrument with digital display
2011-10-01实施
2011-01-10发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布
中国国家标准化管理委员会 GB/T26097—2010
前 言
本标准的附录A为资料性附录。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。 本标准负责起草单位:中原量仪股份有限公司。 本标准参加起草单位:中国计量学院、江苏麦克龙测量技术有限公司、广西壮族自治区计量检测研
究院、河南省计量科学研究院。
本标准主要起草人:金国顺、赵军、黄晓宾、刘俏君、黄玉珠、贾晓杰
I GB/T26097—2010
数显电感测微仪
1范围
本标准规定了数显电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.01μm、0.1μm、1μm,量程不大于2mm的数显电感测微仪(以下简称 “测微仪")。 2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T191一2008包装储运图示标志(ISO780:1997,MOD) GB4208—2008外壳防护等级(IP代码)(IEC60529:2001,IDT) GB/T4879—1999 防锈包装 GB/T5048—1999 防潮包装 GB/T6388—1986 5运输包装收发货标志 GB/T9969—2008 3工业产品使用说明书总则 GB/T14436-1993工业产品保证文件总则 GB/T17163一2008几何量测量器具术语基本术语 GB/T17164-2008几何量测量器具术语产品术语 GB/T17626.2—2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2:2001,
IDT)
GB/T17626.3一2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4- 3:2002,IDT)
3术语和定义
GB/T17163-2008、GB/T17164—2008中确立的术语和定义适用于本标准。 4型式和基本参数
4.1型式
测微仪由数字显示器和传感器组成,其型式及装夹尺寸见图1~图4所示。图示仅供图解说明,不表示详细结构。
1 GB/T260972010
测量功能选择开关
数字显示窗口
放大倍数调整电位器
18.88 品品品驾 AFJPK DOO8
量程选择开关
零位调整电位器
QQ?
Dw 图 1 数显电感测微仪的型式示意图
通讯接口模拟指针 LCD
2 domintY
刻度公差带
1.0 数字显示
传感器插座
键盘
图2 带模拟表显示的数显电感测微仪的型式示意图
l
刻度
L。
三色LED柱
wil
3
10.
数字显示
0. 75
键盘
图3带模拟柱显示的数显电感测微仪的型式示意图
2 GB/T 260972010
测头
导线
耳央孔
测头
(I
导线
装央部位 b)轴向式传感器
a)旁向式传感器
图4传感器的型式示意图
4.2基本参数 4.2.1旁向式传感器装夹部位的型式和尺寸见图5的规定。
单位为毫米
Φ6.5
LJ80
7
a)耳夹式
b)支持杆式
图5旁向式传感器装夹部位的型式示意图
4.2.2轴向式传感器的装夹尺寸及轴向式传感器测头的连接尺寸见表1、图6的规定。
表 1
单位为毫米
D $28f7 $16f7 $8f7
L(参考尺寸)
≥40 ≥20 ≥12
尺寸单位为毫米
表面粗糙度单位为微米
M2.5-6g

0.05
64
M2.56H
图6轴向式传感器测头的连接尺寸示意图
3 GB/T26097—2010
5 要求 5.1外观
测微仪表面不应有锈蚀、碰伤和镀层脱落等缺陷,各种标志、数字、刻线应正确清晰。 5.2相互作用
测微仪各紧固部分牢固可靠,各转动部分应灵活,不应有卡滞和松动现象。 5.3硬度和表面粗糙度
传感器测头应选用具有良好耐磨性的材料,其测量面的表面硬度不应低于766HV,表面粗糙度Ra 不应大于0.1μm。 5.4响应时间
测微仪响应时间应小于1s。 5.5调零范围
测微仪调零范围应大于20μm。 5.6误差
测微仪的重复性、方向误差、回程误差和最大允许误差见表2的规定。
表 2
单位为微米
重复性
分辨力
方向误差
回程误差
最大允许误差
轴向式传感器
旁向式传感器
0. 016 0.1
0. 05 0. 1 1
0. 08 0. 1 1
0. 08 0. 1 1
0. 1 0. 2 1
±(0.07+0.4XL) ±(0.2+3×L") ±(0.2+3×L")
1
a最大允许误差的计算公式中L为校准零位至检测点的距离,单位为mm。 b对于分辨力为0.01μm、量程大于40μm的测微仪参见附录A
5.7 稳定性
在规定时间内,测微仪示值随时间变化的稳定性不应大于表3的规定。
表 3
分辨力/μm 0. 01
规定时间/h
稳定性/μm
0.5 0. 5 4
0. 2 0. 2 1
0. 1 1
5.8测量力 5.8.1 传感器的测量力不应大于表4的规定。
表 4
传感器型式
测量力/N 0. 75 1. 5 2. 5 0. 25
$8f7 $16f7 $28f7
轴向式传感器
夹持部位直径/mm
旁向式传感器
5.8.2传感器测量力的变化应在75%~125%范围内。 4 GB/T26097—2010
5.9防护等级(IP)
测微仪应具有防尘、防水能力,其防护等级不得低于IP40(见GB4208-2008)。 5.10抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力
测微仪的抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力均不应低于1级(见GB/T17626.2一2006、 GB/T17626.3—2006)。 5.11工作环境
测微仪应能在环境温度0℃~40℃、相对湿度不大于80%的条件下进行正常工作。 6检验方法 6.1检验条件
测微仪的检验应在温度为20℃士1℃,温度变化不应大于0.5℃/h的检验室内进行。受检前,测微仪和检验器具应在检验室内等温4h以上。测微仪通电后应预热30min,正式检验在放大倍数调好后进行。 6.2检验项目、方法和检验器具
测微仪的检验项目、检验方法和检验器具见表5。
表5
序号
检验项目
检验方法
检验器具测量台架、 量块、秒表
在最小分辨力档位上,使测头与测量台架工作台上的量块相接触,然后迅速使测头移动,测出从给测头等于1/2示值范围的迅速变位起,到指针指示在一个最小分度值之内为止的所需时间
1
响应时间
在最小分辨力档位上,将零位调整旋钮从一端旋到另一端时,读 测量台架、
2
调零范围
量块
出指针移动的范围在最小分辨力档位上,使指针对准零位刻度线,依次向各档转动 测量台架、 量程转换开关,观察各档指针对零位的偏移量使测头与测量台架工作台上的量块相接触,将测微仪的指针对准 测量台架、 任意一条刻度线,用提升机构把测头提起,再使其自由落下,其提升 量块、提升
零位平衡
3
量块
重复性
4
量应稍大于该档的示值范围,且每次提升盘基本致,重复10次取 机构其各次示值中最大值与最小值的差值(见图7) 使测头的运动方向垂直于测量台架工作台台面,并与测量台架工作台台面上的半圆柱侧块圆柱面顶部相接触(见图8),调整测微仪
测量台架,半圆柱侧块
方向误差
的指针对准任意一个刻度线,以前、后、左、右四个方向推动半圆柱侧块,记下每次半圆柱侧块圆柱面顶部与测头接触时的读数值(示值拐点),计算指示表最大示值与最小示值之差,即为方向误差使测头与测量台架工作台上的量块相接触,给传感器以正向位移,使指针对准指示表左侧任意一条刻度线后,用提升机构把测头 测量台架、 提起,其提升量应稍大于该档的示值范围,再放下,求出提升前后指 量块、提升针指示的差值,重复3次,取最大值(见图7),用同样方法对准指示 机构表右侧任意一条刻度线,再检定一次使测头与测量台架工作台上的量块相接触,将测微仪的指针对准
5
回程误差
6
测量台架、 量块*
示值误差
零刻度线,然后根据示值范围的四等分(或六等分)置换相对应的量块,依次检定出这些受检位置的示值误差,取其最大值(见图7)
5 GB/T26097--2010
表5(续)
检验项目
序号
检验方法
检验器具
在最小分辨力档位上,使测头与测量台架工作面相接触,并使指针与满刻度线相邻的刻度线重合,经一定的准备时间后在规定的时间内读出示值的最大变化量(见图7) 使装在测量台架上的传感器的测头处于自由悬垂状态,然后用测力计沿测头运动方向对测头向上加力,读出指针通过零位时的测力计读数,然后使测头向下移动,当指针通过零位时再次在测力计上 测力计读数,取两次读数的平均值,作为测量力(见图9)
测量台架、 量块、时钟
稳定性
8
测量台架、
测量力
9
a检验示值误差用的量块规定如下:测微仪分度值为0.01μm的选用二等量块,用配对法检验;测微仪分度值为0.1μm的选用二等量块;测微仪分度值为1um的选用三等量块。
轴向传感器
旁向传感器
提升机构
量块
量块工作台
工作台
图7检验重复性、回程误差和示值误差的示意图
轴向传感器
旁向传感器
半圆弧侧块
半圆弧侧块
E
1 5
工作台
工作台
图8检验方向误差的示意图
轴向传感器
向传感器
测力计
测力计
图9 检验测量力的示意图
6
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