JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1849—2020
微孔板化学发光分析仪校准规范
Calibration Specification for Microplate Chemiluminescence Analyzers
2020-07-02发布
2021-01-02实施
国家市场监督管理总局发布 JJF1849—2020
微孔板化学发光分析仪
校准规范 Calibration Specification
JJF 1849—2020
for Microplate Chemiluminescence Analyzers
归口单位：全国生物计量技术委员会
主要起草单位：上海市计量测试技术研究院参加起草单位：中国计量科学研究院
河南省计量科学研究院
本规范委托全国生物计量技术委员会负责解释 JJF1849—2020
本规范主要起草人：
刘刚（上海市计量测试技术研究院）李兰英（上海市计量测试技术研究院）
参加起草人：
武利庆（中国计量科学研究院）徐勤（上海市计量测试技术研究院）
丁峰元（河南省计量科学研究院）
王晶（中国计量科学研究院） JJF1849—2020
目 录
引言
(Ⅱ) (1) (1) (1) (1 ) (1) (1) (1) (1) (1) (1) (1 ) (1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (4) (4) (5) (6) (7) (10) (12)
范围· 2 引用文件. 3 术语.· 3.1化学发光 3.2孔间干扰 3.3 通道差异· 4 概述· 5 计量特性 5.1 重复性· 5. 2 孔间干扰…· 5. 3 通道差异.· 5. 4 线性误差 6 校准条件…. 6.1 环境条件. 6.2 校准用标准器
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校准项目和校准方法 7. 1 重复性… 7. 2 孔间干扰…· 7. 3 通道差异 7. 4 线性误差· 8 校准结果表达 9 复校时间间隔，附录A 微孔板化学发光分析仪的组成及96孔板示意图附录 B 线性拟合中斜率与截距的计算附录 C 线性误差不确定度评定示例附录D 校准原始记录参考格式
..
附录E 校准证书内页推荐格式 JJF1849—2020
引言
本规范按照JJF1071一2010《国家计量校准规范编写规则》的要求编制，参考了 JJG861一2007《酶标分析仪》、YY/T1174一2010《半自动化学发光免疫分析仪》、 JJF1001一2011《通用计量术语及定义》和JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》等。
本规范为首次发布。
Ⅱ JJF1849—2020
微孔板化学发光分析仪校准规范
1范围
本规范适用于配置96孔板的微孔板化学发光分析仪的校准。
2 引用文件
本规范引用了下列文件： YY/T1174一2010半自动化学发光免疫分析仪凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文
件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。
3术语 3.1化学发光chemiluminescence
在没有光、电、磁、声、热源外来激发的情况下，由化学反应产生的一种光辐射的现象：包含两个基本过程：反应体系中的分子吸收化学反应释放的化学能由基态跃进迁至高能激发态；随后，处于高能态的受激分子，以一定的量子产率发射光子。 3.2孔间干扰interferenceamongholes
检测器在测量96孔板中每个孔杯的发光强度时受到周围邻近孔的发光强度的影响
程度。 3.3通道差异differencesamongchannels
检测器对每个通道的检测能力的差异。
4概述
微孔板化学发光分析仪（以下简称分析仪）是一种基于化学发光现象，采用光电检测技术，对微孔板中一系列待测物质与发光试剂发生反应产生的发光强度进行检测分析的仪器。分析仪由微孔板、检测器和数据处理装置三部分组成，分析仪组成图及本规范涉及的微孔板（96孔板）的结构见图A.1和图A.2。本规范的测量参数为发光强度。 5计量特性 5.1重复性 5.2孔间干扰 5.3通道差异 5.4线性误差 6校准条件 6.1环境条件
1 JJF1849—2020
6.1.1温度：（15~35）℃。 6.1.2相对湿度：不大于85%。 6.1.3电源电压：单相正弦交流（220士22）V，（50士1）Hz。 6.1.4校准前，仪器应预热30min。 6.2校准用标准器
光源计量标准器：主要包括光源和光谱中性滤光片两个部分，其中光源由氛光源和 450nm干涉滤光片（峰值波长扩展不确定度≤1nm；光谱带宽≤15nm）组成，光源可以放置于96孔板架任意孔位；光谱中性滤光片共4片，在450nm处吸光度标称值分别为0.2、0.5、1.0、1.5（扩展不确定度≤0.01，k=2），光谱中性滤光片放置于光源之上，形成一套光源计量标准器。
光源应在有效期内使用。
7 校准项目和校准方法
7.1重复性
将光源放置在96孔板架D7孔（见图A.2）上，直接使用分析仪测定此时的发光强度I。i，重复测定6次，记录仪器示值，并计算平均值，按公式（1）计算相对实验标准偏差，作为分析仪的重复性结果。
Z(I: -I.)2
i1
X 100%
(1)
Sr
n-1
I.
式中： Ioi 发光强度第i次测量值； I。——发光强度平均值； n———重复测量次数，n=6； s.——仪器重复性。
7.2孔间干扰
将光源放置在96孔板D7孔（图A.2）上，直接使用分析仪测量中心发光孔发光强度I.和周围孔发光强度I，孔位分布如图2所示，分别记录仪器示值，计算周围孔发光强度的平均值，按公式（2）计算周围孔发光强度与中心发光孔发光强度之比的百分数，表示分析仪的孔间干扰。
2 JJF1849—2020
C6(/)
C7(lk2)
C8(Ix3)
D6(I4)
D7(/o)
D8(Iks)
E6(le)
E7(lkz)
E8(Ihs)
图2孔间干扰校准中孔位分布图
I ki
(2)
×100%
81.
式中：
孔间干扰；
-
I一周围第i孔的发光强度测量值； I。中心孔的发光强度测量值。
7.3通道差异
将光源分别放置在96孔板B2、B7、B11、D2、D7、D11、G2、G7、G11孔（见图A.2）上，直接使用分析仪分别测定每个位置的发光强度，分别记录分析仪示值，按公式（3）计算相对实验标准偏差，以实验结果的相对实验标准偏差表示分析仪的通道差异。
C(Icv:-Icv)2
X 100%
(3)
5
9-1
I cv
式中： Icv——第i孔位测量的发光强度测量值； Icv—一9个孔位发光强度测量值的平均值；
分析仪通道差异检测中，发光强度平均值的相对标准偏差。
Sc
7.4 线性误差
首先，将光源放置在96孔板架D7孔（见图A.2）上，直接使用分析仪测定此时的完全发光强度I。，然后分别采用不同吸光度的光谱中性滤光片标准物质覆盖光源，
再使用分析仪测定此时的发光强度1.，吸光度A根据公式A=－1g() ）计算。各吸光
1
度值重复测定3次，计算3次测得值的平均值，用最小二乘法拟合光谱中性滤光片标准物质吸光度标准值和测得值的平均值，得到仪器的线性方程，见公式（4）。
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