JJF
中华人民共和国国家计量技术规范
JJF1254—2010
数显测高仪校准规范
Calibration Specification for Height Measuring Instrument
with Digital Display
2010-11－11实施
2010-05－11发布
国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1254—2010
数显测高仪校准规范
JJF 1254—2010 代替JJG929—1998
Calibration Specificationfor
Height Measuring Instrument
with Digital Display
本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年5月11日批准，并自
2010年11月11日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：中国科学院光电技术研究所参加起草单位：中国测试技术研究院
本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1254—2010
本规范主要起草人：
匡龙（中国科学院光电技术研究所）耿丽红（中国科学院光电技术研究所）曹学东（中国科学院光电技术研究所）
参加起草人：
冉庆 (中国测试技术研究院) JJF1254—2010
目 录
1 范围· 2
(1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) (5) (8)
引用文献· 3 概述·
计量特性· 4.1测量力·. 4. 2 垂直度. 4.3 示值变动性 4.4示值误差 5 校准条件. 5. 1 环境条件 5. 2 测量标准器及其他设备 6校准项目和校准方法 6.1 测量力. 6.2 垂直度 6.3 示值变动性 6.4示值误差 1
4
校准结果表达复校时间间隔.
8
附录A数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定附录B校准证书内容 JJF1254—2010
数显测高仪校准规范
1范围
本规范适用于分辨力为0.1um、0.2um、0.5um和1um，量程0mm至1000mm 的数显测高仪的校准。 2 引用文献
本规范引用下列文献： JJF1001—1998通用计量术语及定义 JJF1094一2002测量仪器特性评定 JJF1130一2005几何量测量设备校准中的不确定度评定指南 GB/T22094—2008电子数显测高仪使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本
3概述
数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量测量仪器，用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等。其外形结构见图1。
2
3
-- -
5
图1数显测高仪外形结构示意图
1一立柱；2一控制与显示器；3一测量滑座；4一测头；5一底座
I JJF1254—2010
4计量特性
4. 1 测量力
数显测高仪的测量力范围和测量力变化不超过表1的要求
表1测量力范围和测量力变化要求
分辨力（μm） 0.1/0.2/0.5
测量力范围(N)
测量力变化（N)
0. 2 0. 5
0.5~1.8 0.5~2.1
1
4.2垂直度
数显测高仪的正面垂直度和侧面垂直度不超过表2的要求
表2垂直度要求
分辨力（μm)
正面垂直度（um）
侧面垂直度（μm）
量程（mm）
≤400 ≤600 ≤1 000 ≤400 ≤600 ≤1000
6 8 10 10 15 25
12 16 20 20 30 50
0.1/0.2/0.5
1
4.3 示值变动性
数显测高仪的示值变动性不超过表3的要求。
表3示值变动性和示值误差要求
示值变动性（μm）
分辨力（μm） 0.1/0.2/0.5
示值最大允许误差 ±(2μm+10-5L/3) ±(5μm+10-5L/3)
1. 0 2
1
注：L为数显测高仪的测量长度。
4.4示值误差
数显测高仪的示值误差不超过表3的要求。 注：校准工作不判断合格与否，上述计量特性的指标仅供参考。
5 校准条件 5.1环境条件
校准室的温度、温度变化及被校数显测高仪和测量标准器在校准室内的等温时间见表4。测量时不应有影响校准结果的振动。 2 JJF1254—2010 表4校准条件
被校数显测高仪与测量标准器在
量程（mm） 温度（℃) 温度变化（℃/h）
校准室内的等温时间（h）
≤0.5 ≤0.3
≤500 >500 在校准之前，应对被校数显测高仪开机预热，预热时间不少于15min。
20±1 20±0.5
≥24 ≥24
5.2测量标准器及其他设备
测量标准器及其他设备见表5。
表5测量标准器及其他设备校准项目
序号 1
主要校准设备
测量力
电子测力计，分辨力0.01N 岩石平板，平面度≤5μm 三角形直角尺，00级测微表，示值误差≤1um 岩石平板，平面度≤5μm 量块岩石平板，平面度≤5um 3等、4等量块
2
垂直度
3
示值变动性
4
示值误差
校准项目和校准方法
6
首先检查外观和各部分相互作用，确定没有影响校准计量特性的因素后再进行
校准。 6.1测量力
用电子测力计测量数显测高仪的测量力：每个位置重复测量5次，取5次测得值的
平均值为该位置的测量力，5次测得值的最大值与最小值之差为该位置的测量力变化应在量程范围内上、下两个位置进行测量。 6.2垂直度
量程≥500mm的数显测高仪，每100mm取一个测量点；量程<500mm的数显测高仪，在整个量程内选取平均分布的5个测量点。测量时应将测头锁紧在测量滑座上。 6.2.1正面垂直度
将被校数显测高仪和直角尺置于平板上，使直角尺的测量面正对数显测高仪的正面。
对不带专用垂直度测头的数显测高仪，将测微表装在测量滑座上，使其测头与直角尺测量面接触，移动测量滑座，每个测量点读取一次测微表的示值，根据直角尺相应点的垂直度误差数据对示值进行修正后，取最大值与最小值之差为正面垂直度。
3 JJF1254—2010
对带有专用垂直度测头的数显测高仪，按其使用说明直接测量直角尺的测量面，每个测量点记录一次垂直度测头的示值，根据直角尺相应点的垂直度误差数据对示值进行修正后，取最大值与最小值之差为正面垂直度。 6.2.2侧面垂直度
将被校数显测高仪和直角尺置于平板上，使直角尺的测量面正对数显测高仪的侧面。
对不带专用垂直度测头的数显测高仪，将测微表装在测量滑座上，使其测头与直角尺测量面接触，移动测量滑座，每个测量点读取一次测微表的示值，取最大值与最小值之差为侧面垂直度。
对带有专用垂直度测头的数显测高仪，按其使用说明，直接测量直角尺的测量面，每个测量点记录一次垂直度测头的示值，取最大值与最小值之差为侧面垂直度。
也可采用满足测量不确定度要求的其他方法对数显测高仪的垂直度进行校准。
6.3示值变动性
在测量状态下（数显测高仪底座和量块都不移动），用数显测高仪对量块重复测量 10次，取最大值与最小值之差为该点的测得值；应在仪器测量范围的上、中、下位置分别进行测量，取3个位置测得值的最大值作为示值变动性。 6.4示值误差
将被校数显测高仪和量块置于平板上，并使用出厂附带的标准测头。 用数显测高仪测头接触平板并清零，再依次放入0.992，0.996，1，1.004，
1.008，50，100，100XN（N=2，3，）等量块，测量量块上表面中心点高度，每个量块测量3次，取平均值为测得值，测得值减去量块的实际尺寸为该点的示值误差。 测量过程中，数显测高仪底座不得移动。
也可采用满足测量不确定度要求的其他方法对数显测高仪的示值误差进行校准。
7校准结果表达
校准后的数显测高仪，应填发校准证书。校准证书的内容见附录B。
8复校时间间隔
数显测高仪的复校时间间隔，根据实际使用情况由送校单位自主决定，建议为 1年。 JJF
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数显测高仪校准规范
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国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1254—2010
数显测高仪校准规范
JJF 1254—2010 代替JJG929—1998
Calibration Specificationfor
Height Measuring Instrument
with Digital Display
本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年5月11日批准，并自
2010年11月11日起施行。
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：中国科学院光电技术研究所参加起草单位：中国测试技术研究院
本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1254—2010
本规范主要起草人：
匡龙（中国科学院光电技术研究所）耿丽红（中国科学院光电技术研究所）曹学东（中国科学院光电技术研究所）
参加起草人：
冉庆 (中国测试技术研究院) JJF1254—2010
目 录
1 范围· 2
(1) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (3) (4) (4) (4) (4) (5) (8)
引用文献· 3 概述·
计量特性· 4.1测量力·. 4. 2 垂直度. 4.3 示值变动性 4.4示值误差 5 校准条件. 5. 1 环境条件 5. 2 测量标准器及其他设备 6校准项目和校准方法 6.1 测量力. 6.2 垂直度 6.3 示值变动性 6.4示值误差 1
4
校准结果表达复校时间间隔.
8
附录A数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定附录B校准证书内容 JJF1254—2010
数显测高仪校准规范
1范围
本规范适用于分辨力为0.1um、0.2um、0.5um和1um，量程0mm至1000mm 的数显测高仪的校准。 2 引用文献
本规范引用下列文献： JJF1001—1998通用计量术语及定义 JJF1094一2002测量仪器特性评定 JJF1130一2005几何量测量设备校准中的不确定度评定指南 GB/T22094—2008电子数显测高仪使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本
3概述
数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量测量仪器，用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等。其外形结构见图1。
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图1数显测高仪外形结构示意图
1一立柱；2一控制与显示器；3一测量滑座；4一测头；5一底座
I JJF1254—2010
4计量特性
4. 1 测量力
数显测高仪的测量力范围和测量力变化不超过表1的要求
表1测量力范围和测量力变化要求
分辨力（μm） 0.1/0.2/0.5
测量力范围(N)
测量力变化（N)
0. 2 0. 5
0.5~1.8 0.5~2.1
1
4.2垂直度
数显测高仪的正面垂直度和侧面垂直度不超过表2的要求
表2垂直度要求
分辨力（μm)
正面垂直度（um）
侧面垂直度（μm）
量程（mm）
≤400 ≤600 ≤1 000 ≤400 ≤600 ≤1000
6 8 10 10 15 25
12 16 20 20 30 50
0.1/0.2/0.5
1
4.3 示值变动性
数显测高仪的示值变动性不超过表3的要求。
表3示值变动性和示值误差要求
示值变动性（μm）
分辨力（μm） 0.1/0.2/0.5
示值最大允许误差 ±(2μm+10-5L/3) ±(5μm+10-5L/3)
1. 0 2
1
注：L为数显测高仪的测量长度。
4.4示值误差
数显测高仪的示值误差不超过表3的要求。 注：校准工作不判断合格与否，上述计量特性的指标仅供参考。
5 校准条件 5.1环境条件
校准室的温度、温度变化及被校数显测高仪和测量标准器在校准室内的等温时间见表4。测量时不应有影响校准结果的振动。 2 JJF1254—2010 表4校准条件
被校数显测高仪与测量标准器在
量程（mm） 温度（℃) 温度变化（℃/h）
校准室内的等温时间（h）
≤0.5 ≤0.3
≤500 >500 在校准之前，应对被校数显测高仪开机预热，预热时间不少于15min。
20±1 20±0.5
≥24 ≥24
5.2测量标准器及其他设备
测量标准器及其他设备见表5。
表5测量标准器及其他设备校准项目
序号 1
主要校准设备
测量力
电子测力计，分辨力0.01N 岩石平板，平面度≤5μm 三角形直角尺，00级测微表，示值误差≤1um 岩石平板，平面度≤5μm 量块岩石平板，平面度≤5um 3等、4等量块
2
垂直度
3
示值变动性
4
示值误差
校准项目和校准方法
6
首先检查外观和各部分相互作用，确定没有影响校准计量特性的因素后再进行
校准。 6.1测量力
用电子测力计测量数显测高仪的测量力：每个位置重复测量5次，取5次测得值的
平均值为该位置的测量力，5次测得值的最大值与最小值之差为该位置的测量力变化应在量程范围内上、下两个位置进行测量。 6.2垂直度
量程≥500mm的数显测高仪，每100mm取一个测量点；量程<500mm的数显测高仪，在整个量程内选取平均分布的5个测量点。测量时应将测头锁紧在测量滑座上。 6.2.1正面垂直度
将被校数显测高仪和直角尺置于平板上，使直角尺的测量面正对数显测高仪的正面。
对不带专用垂直度测头的数显测高仪，将测微表装在测量滑座上，使其测头与直角尺测量面接触，移动测量滑座，每个测量点读取一次测微表的示值，根据直角尺相应点的垂直度误差数据对示值进行修正后，取最大值与最小值之差为正面垂直度。
3 JJF1254—2010
对带有专用垂直度测头的数显测高仪，按其使用说明直接测量直角尺的测量面，每个测量点记录一次垂直度测头的示值，根据直角尺相应点的垂直度误差数据对示值进行修正后，取最大值与最小值之差为正面垂直度。 6.2.2侧面垂直度
将被校数显测高仪和直角尺置于平板上，使直角尺的测量面正对数显测高仪的侧面。
对不带专用垂直度测头的数显测高仪，将测微表装在测量滑座上，使其测头与直角尺测量面接触，移动测量滑座，每个测量点读取一次测微表的示值，取最大值与最小值之差为侧面垂直度。
对带有专用垂直度测头的数显测高仪，按其使用说明，直接测量直角尺的测量面，每个测量点记录一次垂直度测头的示值，取最大值与最小值之差为侧面垂直度。
也可采用满足测量不确定度要求的其他方法对数显测高仪的垂直度进行校准。
6.3示值变动性
在测量状态下（数显测高仪底座和量块都不移动），用数显测高仪对量块重复测量 10次，取最大值与最小值之差为该点的测得值；应在仪器测量范围的上、中、下位置分别进行测量，取3个位置测得值的最大值作为示值变动性。 6.4示值误差
将被校数显测高仪和量块置于平板上，并使用出厂附带的标准测头。 用数显测高仪测头接触平板并清零，再依次放入0.992，0.996，1，1.004，
1.008，50，100，100XN（N=2，3，）等量块，测量量块上表面中心点高度，每个量块测量3次，取平均值为测得值，测得值减去量块的实际尺寸为该点的示值误差。 测量过程中，数显测高仪底座不得移动。
也可采用满足测量不确定度要求的其他方法对数显测高仪的示值误差进行校准。
7校准结果表达
校准后的数显测高仪，应填发校准证书。校准证书的内容见附录B。
8复校时间间隔
数显测高仪的复校时间间隔，根据实际使用情况由送校单位自主决定，建议为 1年。