ICS 37.020 N 34 备案号：44287—2014
中华人民共和国机械行业标准
JB/T 10575—2013 代替JB/T10575—2006
光学计 Optimeter
2014-07-01实施
2013-12-31发布
中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T10575—2013
目 次
前言范围.
III
1
2规范性引用文件， 3分类及基本参数.. 4要求... 4.1主要技术指标 4.2电气安全性能、 4.3 数字显示系统的抗干扰性 4.4仪器外观及各部分相互作用. 4.5 运输环境条件 5试验方法， 5.1 试验条件 5.2 精密光学计的光学计管的示值误差 5.3 立式、卧式光学计的光学计管的示值误差 5.4 光学计管的示值重复性. 5.5 精密光学计-和立式光学计测杆在径向受力2N时的示值变化 5.6 卧式光学计测杆和尾管测杆在径向受力2N时的示值变化 5.7 圆形光面工作台的可调整性 5.8 立柱轴线直线度对测量的影响. 5.9 光学计管轴线直线度对测量的影响， 5.10 方形带筋工作台台面与测量轴线的垂直度， 5.11 测量力的一致性 5.12 各种工作台台面的平面度. 5.13 各种工作台台面的粗糙度 5.14 七筋工作台的中央筋高于其他筋的高度 5.15 七筋工作台高于辅助工作台的高度 5.16 球筋工作台球头高于筋面的高度 5.17 球筋工作台高于辅助工作台的高度。 5.18 小三点工作台的平行度 5.19 测帽. 5.20 卧式光学计尾管测杆调整机构的调整误差 5.21 卧式光学计测量轴轴线与尾管轴线的同轴度 5.22 卧式光学计工作台的调整误差， 5.23 卧式光学计使用内测钩测量时的示值重复性. 5.24 卧式光学计使用内测钩测量时，找转折点的示值重复性 5.25 卧式光学计基座导轨的直线度 5.26 电气安全性能 5.27 数字显示系统的抗干扰性
10 10
11
11 12 12 12 .12 13 13 13 14
- JB/T10575—2013
15 .15 15 15 15 ...15 .16 .16.
5.28 仪器外观及各部分相互作用 5.29 运输环境条件， 6 检验规则 6.1 检验分类.. 6.2 出厂检验（即交货检验） 6.3 型式检验. 7标志、包装、运输和贮存 7.1 标志. 7.2 包装.. 7.3 运输. 7.4 贮存. 附录A（规范性附录）开槽量块附录B（规范性附录）开槽平晶..
.16 .16 .16 17 .18
II JB/T10575—2013
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替JB/T10575一2006《光学计》，与JB/T10575一2006相比主要技术变化如下：一在分类中增加了分辨力为0.02μm的数字显示精密光学计；
一“圆形平面工作台”和“安装测帽用辅助工作台”的名称，修改为“圆形光面工作台”和“下
置测帽工作台”；删除了卧式光学计附件配置中的@20和@50环规；将光学计管示值误差指标的分段常量表达方式，改为用公式表达：修改了原“固定工作台的工作台面与测量轴线的垂直度”要求的项目名称、试验方法和计算公式; 修改了与“立柱轴线直线度”和“光学计管轴线直线度”有关项目要求的项目名称：一增加了对小三点工作台的平行度要求和试验方法：一删除了对球筋工作台球头面形的要求和试验方法；统一了“精密光学计和立式光学计圆形光面工作台的可调整性”的试验方法：一增补了电气安全性能中的耐压、泄漏电流和接地电阻的试验方法：
-增加了对数字显示系统的抗干扰性要求和试验方法；一修改了已变更的引用标准的标准号、名称和引用内容。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）归口。 本标准起草单位：贵阳新天光电科技有限公司、上海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、
苏州一光仪器有限公司、南京东利来光电实业有限公司、宁波舜宇仪器有限公司、广州粤显光学仪器有限责任公司、宁波永新光学股份有限公司、南京江南永新光学有限公司、宁波市教学仪器有限公司、宁波华光精密仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器公司、麦克奥迪实业集团有限公司、重庆光电仪器有限公司。
本标准主要起草人：胡清、冯琼辉、孙正洪、王爱华、杨广烈、胡森虎、李弥高、曾丽珠、李晞、 王国瑞、徐利明、张景华、肖倩、夏硕。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为：
JB/T10575—2006。
III JB/T10575—2013
光学计
1范围
本标准规定了光学计的分类及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于基于光学自准直和光学杠杆原理，采用比较测量方式，测量精密零件尺寸的光学计。
规范性引用文件
2
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T 1185 光学零件表面症病 GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2829 周期检测计数抽样程序及表（适用于对生产过程稳定性的检查） GB/T2831 光学零件的面形偏差 GB/T 11162 光学分划零件通用技术条件 GB/T 13334 机电产品包装通用技术条件 GB/T25480 仪器仪表运输、些存基本环境条件及试验方法 JB/T 7401 平面平品 JB/T9342—1999 光学计量仪器用测帽
3 分类及基本参数
3.1 光学计的分类及基本参数见表1。
表1
分类及基本参数
序号
项 日
单位
精密光学计光学读数 数字显示 光学读数「数字显示 0.2
立式光学计
卧式光学计光学读数
分度值分辨力
1 2 m 测量范围
-
μm μm mm
1
-
0.02
0.1
外尺寸内尺寸
0~180
0~180
0~500 14~200
示值范围测量力工作台升降范围工作台横向移动范围
±0.02 1.2
±0.1 2.0
4 5 6 7 80 9
mm N mm mm kg
0~100 0~25 10
工作台承载
各种工作台台面的硬度 HRC
60
60
1 JB/T10575—2013
表1(续)
分类及基本参数
序号
项 日
单位
精密光学计光学读数数字显示 光学读数！ 【数字显示 光学读数
立式光学计
卧式光学计
圆形光面工作台、圆形
圆形光面工作台、七筋 带筋工作台、方形带筋工工作台、球筋工作台、 作台、下置测帽工作台、
$8mm平面测测幅、1.5mm× mm刃形测帽、
辅助工作台、@2mm平 小三点工作台、$2mm 帽、SR20mm球面面测幅、$8mm平面测 平面测幅、$8mm平面帽、SR20mm球面测帽、 测帽、$14mm平面测 1mm×2mm小刃形测 帽、SR20mm球面测帽、 测帽提升器、内测帽、1.5mm×8mm刃形 1.5mm×8mm刃形测 钩、量块夹、垫铁、
10
附件配置
压板
测帽、测帽提升器
帽、测帽提升器、测力减压装置、定位支架
所列附件应根据用户需求，部分或全部提供
a
4要求 4.1 主要技术指标
光学计的主要技术指标见表2。
表 2
项目
序号 1 光学计管的示值误差不超过 2 光学计管的示值重复性
单位 μm ±(0.05+0.0025A*) ± (0.1+0.0 015A*)
立式光学计 卧式光学计
精密光学计
0.02 0.1 0.02
0.1 0.5 0.1
μm
光学计管测杆在径向受力2N 加力时
3
力去除后 μm
时的示值变化 》
台面应能方便地调整至与$8mm 测帽平面的平行度在0.3μm以内
4 圆形光面工作台的可调整性 5 立柱轴线直线度对测量的影响≤ 6 光学计管轴线直线度对测量的影响 ≤ 7 方形带筋工作台台面与测量轴线的垂直度公差 (") 8 测量力的一致性 M
0.4 0.4 5 0.2
μm μm
-
N
各种工作台台面的平面度公差（不许凹） a）圆形光面工作台 b）圆形带筋工作台 c）方形带筋工作台 d）辅助工作台 e）七筋工作台中央筋 f）七筋工作台其余筋 g）球筋工作台的筋面
1.0 一 - 3.0 0.03 0.3 0.3
1.0 1.0 1.0 一一
9
μm
2 JB/T10575—2013
表 2（续）
序号
项 目
单位 精密光学计 立式光学计 卧式光学计
各种工作台台面的表面粗糙度 a）圆形光面工作台 b）圆形带筋工作台 c）方形带筋工作台 d）辅助工作台 e）七筋工作台 f）球筋工作台球头
Ra=0.05
Ra =0.05 Ra =0.05 Ra =0.05
10
μm
Ra =0.05 Ra =0.016 Ra =0.01 0.3~0.6
11 七筋工作台的中央筋高于其他筋的高度 12 七筋工作台高于辅助工作台的高度 13 球筋工作台球头高于筋面的高度 14 球筋工作台高于辅助工作台的高度 15 小三点工作台的平行度公差
μm mm 0.01~0.05
2~3 0.01~0.05
μm mm mm
0.0 015
符合JB/T9342 符合JB/T9342—1999中2级 1级测帽要求 测帽要求
测帽
16
尾管测杆在径向受力2N时 加力时的示值变化
0.5 0.1 0.3 $ 0.2 0.3 0.2 0.5 0.8 15
17
μm
一
力去除后
18 尾管测杆调整机构的调整误差 ≤ 19 测量轴轴线与尾管轴线的同轴度公差
μm mm
当用8mm平面测帽时当用球面测帽时
20 工作台的调整误差 I
μm
21 使用内测钩测量时的示值重复性≤ 22 使用内测钩测量时，找转折点的示值重复性 ≤ μm 23 基座导轨的直线度公差
μm
(")
A为受检点示值，单位为微米（μm）。
4.2 电气安全性能 4.2.1 耐压
在试验电压升至表3所示的规定值时保持时间5s，无击穿和飞弧现象。交流、直流试验方式可任选其一，能通过两者之一即可。一般情况选择交流试验；如果为了避免容性电流，可选择直流试验。
表3
采用交流试验时
采用直流试验时
试验电压(交流）
仪器电源工作电压U
仪器电源工作电压U
试验电压（直流）
V 1 000 1 500
V 100 V 100 V 1 250 2 150
3 JB/T10575—2013
4.2.2泄漏电流
光学计在正常工作条件下的泄漏电流不应大于1mA。 4.2.3接地阻抗
带有电源输入插座的光学计，在插座中的保护接地点与仪器所有可能触及金属部件之问的接地阻抗不大于0.12。
带有不可拆卸电源线的光学计，电源线插头中的保护接地脚与仪器所有可触及金属部件之问的接地阻抗不大于0.22。 4.3数字显示系统的抗干扰性
数字显示的光学计，正常工作条件下，在2s时间内应能承受下列规定幅度的电源干扰：一对称干扰（相线L和中性线N之间）幅度（1000土150）V 一不对称干扰（相线L或中性线N和地线G之间）幅度（1000土150）V； -地线干扰（地线G和大地之间）幅度（500土75）V。 施加干扰时，系统应能正常工作，并且数字显示跳字不超过一个数字分辨力。
4.4仪器外观及各部分相互作用 4.4.1电镀表面不应有脱皮和斑点存在；漆面不应有磕碰伤和显著的颜色不均匀；零件表面不应有毛刺；外部零件锐边应倒棱，零件接合处应齐整。 4.4.2裸露金属面不应有锈蚀、碰伤和显著的划痕，以及影响测量的其他缺陷。 4.4.3光学零件的表面不应有明显的擦痕、麻点、水珠、霉点等疵病；光学零件的胶合面不应有气泡和脱胶现象。光学分划元件的技术要求应符合GB/T11162的规定。 4.4.4光学系统成像应清晰。光学读数视场内的标尺刻线相对于指标线不应有明显的偏斜和视差。视场内不应有影响观察的阴影、亮斑和异物。 4.4.5当测杆处于自由状态时，对于光学读数的光学计，视场内应能看到微米分划板的尾部的分划线：对于数字显示的光学计，数显窗内应能正常显示小于示值范围下限的示值。 4.4.6所有紧固零件应保证紧固可靠。 4.4.7所有刻度、刻字及铭牌标记应清晰、明显。 4.4.8各活动部分的移动和转动应平稳舒适，不应有卡住和急跳现象。 4.4.9所有附件装卸和调整应方便、可靠。 4.5运输环境条件
光学计在运输包装条件下的环境模拟试验应按GB/T25480的规定。其中选用：高温55℃，低温 -40℃，交变湿热试验相对湿度95%，自由跌落4次，跌落高度按包装件质量选定。
5试验方法
5.1试验条件 5.1.1光学计试验温度条件应符合表4的规定 5.1.21 供电电源交流电压（220土22）V。 5.1.3 数字显示的光学计，应在接通电源20min之后进行试验。
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