科技论坛
X荧光光谱法测试地质样品中的锡
高军
· 73 ·
（黑龙江省齐齐哈尔矿产勘查开发总院测试中心，黑龙江齐齐哈尔161000）
摘要；应用X射线楚光光谱法对地质样品当中的锡进行测试，采用人工配置标准样品的方法来共同构建标准曲线，曲度梯度都要保证其合理性和均匀性，同时在实除的操作中，还要保证其具有非常好的线性特征。这种方法使用的是α经验系数法完成基体校正工作。应用Rh的康普锁散射量作是内标，对地质样品当中的锡元素进行测定，检出限可以达到3.59ugg，样品的相对标准偏差能够达到非常好的水平是，所以，其在测试效果上也有着非常好的表现。
关键调：X射线荧光光谱：地质样品：标准样品
是自然资源当中非常重要的一种矿产资源，在化工、冶金等诸多领域都得到了非常广泛的应用。当前，化学制品领域对系锦书的需求量处在不断增加的状态，化工产业当中锡的应用尤其广泛，近几年，我国的锡板消费量越来越大。其中，有很大一部分都是依靠进口来补充我国锡金属的不足，因为系锡白身的熔点相对较低，无毒，同时其抗腐蚀性也非常强，此外其还具有非常强的廷展履性，所以其具有非常好的发展前景。我们在实际的工作中一定要快速准确的测试地质样品中的锡，而× 荧光光谱法就是非背重要的一种。
1实验部分
1.1实验设备及实验条件。Axios型顺序式X-射线荧光光谐仪（荷兰帕纳科公司)：以Rh靶X-射线管为激发源，SuperQ软件。具体测量条件地表1
1.2样品制备。精密称取样品4.000g，该样品一定要在105℃的条件下烘干两个小时，其粒径必须要在74μm之内，采用硼酸完成镶边嵌底工作，在40x103kg的压力下进行压制处理，压制的时间为30s，将其制成测试样片，在处理的过程中一定要边压边测试。标准样品和监控样品以及位置样品的制备都采取这样的方法
1.3标准曲线的建立及基体校正。选择国家以及标准品以及采用人工配置方法制备出来的样品，二者共同完成本法制备的标准曲线。
人工标准样品采用国家以及标准样品，锡含量分别为1.0μg和 12700μg进行配置。具体情况如表2所示。
本文采用非方法是α经验系数法去校正基体效应，α系数如表3 所示。在对标准物质当中不同元素分析先的净强度和标准含量相对用的方法绘制出了与之对应的使用校准曲线，其线形同白方程公式为
C=D+E×R ×M
式中：C-标准样品含量：R一净强度；M—吸收增强效应校正系数： D一曲线裁距：E一曲线斜率。
在本文当中主要使用的是经验系数的方法开展线形回归，这样就可以十分有效的校正共存元索的吸收增强效应以及谱线的重叠效应。
在专业的软件当中，共存元素之间的吸收增强效应校正式如下： +M+a,c+2PE+22rucC.
台1+8C，台台
式中：C依度或计数率n-待分析元素数；α，β，，8—用于基体校正的系数;j.k一共存元素。
2结果与讨论
21检出限。检出限(LLD)根据如下公式进行计算：医医
“
式中：m-单位含量的计数率;Il背景计数率；tb—峰值和背景总计数时间%。
通过以上公式，考虑到含量计数率和背景计数率因素，本文采用 GBW07312样品测试参数来计算该方法中Sn的检出限为3.59μg/g。
22方法的精密度。根据1.2项下的制备条件对样品进行压片处理压片的数量为12个，根据表1的1条件对样品开展测量工作，之后对锡的相对标准着进行计算，其结果如表4所示。
23方法的准确度。在实际的操作中采用实验的方法对标准样品 GBW07312.CBW07311.GBW07282进行全面的测试，其结果如表5 所示。
24结果比对。将上述三个样品使用本文所述的方法和化学法进行测试，其结果如表6所示。在对两种方法进行比较之后，我们可以看到，两种方法的结果符合度都非常高，所以也充分的证明这种方法具有非
万方数据
r
表1元素测试条件
RNN
.
e
maae a
表2人工标准样品含量表
ne 美医
ATweysGeere
A 2
分次数据平均值 s家am(RSD),%
GBW07312 分认定值
430a 3as ses
teenes
光#
理 s99..
.
表3α经验系数
含物
aa ope 0
表4精密度试险批
55.16 34
表5方法的准确度
CBWO7311
测量值
Sn 额价 Sn
认定值
测量值
eo 4.28
C8w0282
需量饰
认定值
54.00
52.86
370.00
362.16
12700.0
1278.6
表6化学法与XRF方法测试结果比较
CBW07240
化学徒
142.63
常强的可行性。
XRF 1463.22
GBW07411
化学选 65.06
XRF 61.88
CBW07311
化学法 381.06
48x 357.62
4g
3结论
在本文当中，借助人工标准品的配制工作，对曲线含量的梯度进行了全面的研究和完善，同时在这一过程中也获得了非常好的测试曲线，将这种方法和传统的锡含量测试方法相比，其测试数据具有非常高的可靠性，在实际的工作中可以很好的满足日常工作当中对锡测试的具体要求和需要，此外，因为这种方法在测试生产的过程中应用还受到某些因素的限制，所以，我们需要对其进行更加全面的检验。
X荧光光谱法在应用的过程中存在着非常多的优势，以下笔者对其优点进行简要的分析和阐述。a分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。bX 射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及品质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。dX射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。e.分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。制样筒单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
参考文
[1起思好岳明新,周国兴,消,张泉,刘新X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分仍冶金分析，2013(7)
[2伊静,黄客涛.粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定铁矿石中锌砷锰[者矿测试,2011(4] 科技论坛
X荧光光谱法测试地质样品中的锡
高军
· 73 ·
（黑龙江省齐齐哈尔矿产勘查开发总院测试中心，黑龙江齐齐哈尔161000）
摘要；应用X射线楚光光谱法对地质样品当中的锡进行测试，采用人工配置标准样品的方法来共同构建标准曲线，曲度梯度都要保证其合理性和均匀性，同时在实除的操作中，还要保证其具有非常好的线性特征。这种方法使用的是α经验系数法完成基体校正工作。应用Rh的康普锁散射量作是内标，对地质样品当中的锡元素进行测定，检出限可以达到3.59ugg，样品的相对标准偏差能够达到非常好的水平是，所以，其在测试效果上也有着非常好的表现。
关键调：X射线荧光光谱：地质样品：标准样品
是自然资源当中非常重要的一种矿产资源，在化工、冶金等诸多领域都得到了非常广泛的应用。当前，化学制品领域对系锦书的需求量处在不断增加的状态，化工产业当中锡的应用尤其广泛，近几年，我国的锡板消费量越来越大。其中，有很大一部分都是依靠进口来补充我国锡金属的不足，因为系锡白身的熔点相对较低，无毒，同时其抗腐蚀性也非常强，此外其还具有非常强的廷展履性，所以其具有非常好的发展前景。我们在实际的工作中一定要快速准确的测试地质样品中的锡，而× 荧光光谱法就是非背重要的一种。
1实验部分
1.1实验设备及实验条件。Axios型顺序式X-射线荧光光谐仪（荷兰帕纳科公司)：以Rh靶X-射线管为激发源，SuperQ软件。具体测量条件地表1
1.2样品制备。精密称取样品4.000g，该样品一定要在105℃的条件下烘干两个小时，其粒径必须要在74μm之内，采用硼酸完成镶边嵌底工作，在40x103kg的压力下进行压制处理，压制的时间为30s，将其制成测试样片，在处理的过程中一定要边压边测试。标准样品和监控样品以及位置样品的制备都采取这样的方法
1.3标准曲线的建立及基体校正。选择国家以及标准品以及采用人工配置方法制备出来的样品，二者共同完成本法制备的标准曲线。
人工标准样品采用国家以及标准样品，锡含量分别为1.0μg和 12700μg进行配置。具体情况如表2所示。
本文采用非方法是α经验系数法去校正基体效应，α系数如表3 所示。在对标准物质当中不同元素分析先的净强度和标准含量相对用的方法绘制出了与之对应的使用校准曲线，其线形同白方程公式为
C=D+E×R ×M
式中：C-标准样品含量：R一净强度；M—吸收增强效应校正系数： D一曲线裁距：E一曲线斜率。
在本文当中主要使用的是经验系数的方法开展线形回归，这样就可以十分有效的校正共存元索的吸收增强效应以及谱线的重叠效应。
在专业的软件当中，共存元素之间的吸收增强效应校正式如下： +M+a,c+2PE+22rucC.
台1+8C，台台
式中：C依度或计数率n-待分析元素数；α，β，，8—用于基体校正的系数;j.k一共存元素。
2结果与讨论
21检出限。检出限(LLD)根据如下公式进行计算：医医
“
式中：m-单位含量的计数率;Il背景计数率；tb—峰值和背景总计数时间%。
通过以上公式，考虑到含量计数率和背景计数率因素，本文采用 GBW07312样品测试参数来计算该方法中Sn的检出限为3.59μg/g。
22方法的精密度。根据1.2项下的制备条件对样品进行压片处理压片的数量为12个，根据表1的1条件对样品开展测量工作，之后对锡的相对标准着进行计算，其结果如表4所示。
23方法的准确度。在实际的操作中采用实验的方法对标准样品 GBW07312.CBW07311.GBW07282进行全面的测试，其结果如表5 所示。
24结果比对。将上述三个样品使用本文所述的方法和化学法进行测试，其结果如表6所示。在对两种方法进行比较之后，我们可以看到，两种方法的结果符合度都非常高，所以也充分的证明这种方法具有非
万方数据
r
表1元素测试条件
RNN
.
e
maae a
表2人工标准样品含量表
ne 美医
ATweysGeere
A 2
分次数据平均值 s家am(RSD),%
GBW07312 分认定值
430a 3as ses
teenes
光#
理 s99..
.
表3α经验系数
含物
aa ope 0
表4精密度试险批
55.16 34
表5方法的准确度
CBWO7311
测量值
Sn 额价 Sn
认定值
测量值
eo 4.28
C8w0282
需量饰
认定值
54.00
52.86
370.00
362.16
12700.0
1278.6
表6化学法与XRF方法测试结果比较
CBW07240
化学徒
142.63
常强的可行性。
XRF 1463.22
GBW07411
化学选 65.06
XRF 61.88
CBW07311
化学法 381.06
48x 357.62
4g
3结论
在本文当中，借助人工标准品的配制工作，对曲线含量的梯度进行了全面的研究和完善，同时在这一过程中也获得了非常好的测试曲线，将这种方法和传统的锡含量测试方法相比，其测试数据具有非常高的可靠性，在实际的工作中可以很好的满足日常工作当中对锡测试的具体要求和需要，此外，因为这种方法在测试生产的过程中应用还受到某些因素的限制，所以，我们需要对其进行更加全面的检验。
X荧光光谱法在应用的过程中存在着非常多的优势，以下笔者对其优点进行简要的分析和阐述。a分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。bX 射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及品质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。dX射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。e.分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。制样筒单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
参考文
[1起思好岳明新,周国兴,消,张泉,刘新X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料及其原料中10种成分仍冶金分析，2013(7)
[2伊静,黄客涛.粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定铁矿石中锌砷锰[者矿测试,2011(4]