JB/T 12962.3-2016
能量色散X射线荧光光谱仪第3部分∶镀层厚度分析仪
Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer— Part 3: Plating thickness analyzer
2017-04-01 实施
2016-10-22 发布
前 言
JB/T 12962《能量色散X射线荧光光谱仪》分为三个部分∶
——第1部分∶ 通用技术;
——第 2 部分∶元素分析仪;
—— 第 3 部分∶ 镀层厚度分析仪。
本部分为 JB/T12962 的第3 部分。
本部分按照 GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。
本部分由中国机械工业联合会提出。
本部分由全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会（SAC/TC 124）归口。