GB/T 40300-2021
微束分析分析电子显微学术语
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary(ISO 15932:2013,MOD)
2022-03-01实施
2021-08-20发布
目 次
前言 ………………………………………………………………………………………………………1
引言 ………………………………………………………………………………………………………1
1范围………………………………………………………………………………………………………1
2规花性引用文件 ………………………………………………………………………………………1
3 缩略谱…………………………………………………………………………………………………… 1
4 分析电子显微学物理基础术语………………………………………………………………………… 2
5 分析电子显微镜仪器术语……………………………………………………………………………… 5
6 分析电子显微术试样制备常用术语…………………………………………………………………… 10
7 分析电子显微术成像和像处理术语…………………………………………………………………… 11
8 分析电子显微术像诠释和分析术语…………………………………………………………………… 13
9 分析电子显微术像放大倍率和分辨率测量与校准的术语……………………………………………-16
10 分析电子显微术电子衍射的术语 …………………………………………………………………… 18
参考文献 …………………………………………………………………………………………………… 20
索引 ……………………………………………………………………………………………………21
引言
分析电子显微学（AEM）是应用透射电子显微术（TEM）和扫描透射电子显微术（STEM）对固态物质微小体积的晶体结构、元素组成和电子态进行定性、定量测定的技术及其相关理论。AEM分析以电子激发 X射线能谱和电子能量损失谱（EELS）的物理机制为基础、并通过微衍射提供微区的结构信息，同时具有高分辨成像能力。
作为微束分析（MBA）的一个主要分领域，AEM广泛应用于各行各业（高技术工业、基础工业、冶金、地质、生物和医学、环境保护、贸易等），而且具有广泛的业务环境进行标准化。
一个技术领域的术语标准化是制定该领域其他方面标准的先决条件。
本文件对于需要用 AEM 词汇的国际科学和工程群体具有重要意义，这些词汇包含 MBA 与 TEM 和 STEM相结合的实践中所应用术语的统一定义。
本文件是 ISO/TC 202（微束分析）研制的一系列标准之一，这些标准包含扫描电子显微术术语（ISO22493）、电子探针显微分析术语（ISO 23833）和能谱法定量分析（ISO 22309）等。其中有的已经发布，有的仍在研制中，以便完全覆盖 MBA 领域。