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GB/T 38532-2020 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定

资料类别:国家标准

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资料语言:中文

更新时间:2021-09-26 11:51:25



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内容简介

GB/T 38532-2020 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定 GB/T 38532-2020/ISO 13067:2011
微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size(ISO 13067:2011,IDT)
2021-02-01实施
2020-03-06发布
前 言
本标准按照GB/T1.1—2009 给出的规则起草。
本标准使用翻译法等同采用ISO13067∶2011《微束分析电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定》。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下∶
——GB/T 21636—2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA)术语(ISO23833∶2006,IDT)
——GB/T 27025-2008 检测和校准实验室能力的通用要求(ISO/IEC17025;2005,IDT)
——GB/T 27788—2011 微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则(ISO16700∶2004,IDT)
——GB/T30703—2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则(ISO24173∶2009,IDT)
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
 
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