GB/T 35006-2018
半导体集成电路电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
2018-08-01实施
2018-03-15发布
前
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。
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本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。