ICS 31.200
CCS L 56
中华人民共和国国家标准
GB/T 42839—2023
半导体集成电路模拟数字(AD)转换器
Semiconductor integrated circuits—Analog digital(AD)converter
2023-08-06发布
2023-12-01实施
国家市场监督管理总局
发布国家标准化管理委员会
GB/T 42839—2023
目次
前言 …………………………………………………………………………………………………………………I
1 范围 …………………………………………………………………………………………………………………1
2 规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………………1
3 术语和定义 ……………………………………………………………………………………………………2
4 分类 ………………………………………………………………………………………………………………2
4.1 概述 …………………………………………………………………………………………………………2
4.2 双积分型 ……………………………………………………………………………………………………2
4.32—△调制型 ………………………………………………………………………………………………2
4.4逐次逼近型 ………………………………………………………………………………………………2
4.5 全并行型 ……………………………………………………………………………………………………2
4.6 流水线型 …………………………………………………………………………………………………2
5 技术要求 …………………………………………………………………………………………………………2
5.1温度 ……………………………………………………………………………………………………………2
5.2 电特性 ………………………………………………………………………………………………………3
5.3 封装特性 ……………………………………………………………………………………………………4
5.4 其他指标 ……………………………………………………………………………………………………4
6电特性测试方法 …………………………………………………………………………………………………4
6.1一般说明 ………………………………………………………………………………………………………4
6.2静态特性 …………………………………………………………………………………………………4
6.3 动态特性……………………………………………………………………………………………………14
7 检验规则…………………………………………………………………………………………………22
7.1 一般要求……………………………………………………………………………………………22
7.2检验分类……………………………………………………………………………………………22
7.3质量评定类别……………………………………………………………………………………………22
7.4 抽样方案………………………………………………………………………………………………22
7.5 检验批构成………………………………………………………………………………………………23
7.6鉴定检验…………………………………………………………………………………………………23
7.7 质量一致性检验…………………………………………………………………………………………23
7.8 筛选……………………………………………………………………………………………………26
8 标志………………………………………………………………………………………………………26
9 包装、运输、贮存……………………………………………………………………………………………27
9.1 包装…………………………………………………………………………………………………27
9.2运输 ………………………………………………………………………………………………………27
9.3贮存………………………………………………………………………………………………27
GB/T 42839—2023
半导体集成电路
模拟数字(AD)转换器
1 范围
本文件规定了模拟数字(AD)转换器(以下简称AD转换器或ADC)的分类、技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的AD转换器。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 4589.1—2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
GB/T 4937.3—2012半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
GB/T 4937.4—2012半导体器件机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验(HAST)
GB/T 4937.11—2018半导体器件机械和气候试验方法第11部分：快速温度变化 双液槽法
GB/T 4937.13—2018半导体器件机械和气候试验方法第13部分：盐雾
GB/T 4937.14—2018半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度(引线牢固性)
GB/T 4937.15—2018半导体器件机械和气候试验方法第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
GB/T 4937.21—2018半导体器件 机械和气候试验方法第21部分：可焊性

GB/T 4937.23 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
GB/T 4937.26 半导体器件 机械和气候试验方法第26部分：静电放电(ESD)敏感度测试人体模型(HBM)
GB/T4937.27 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)
GB/T 9178 集成电路术语
GB/T12750—2006 半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)GB/T17574—1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路SJ/T 10147 集成电路防静电包装管SJ/T 11587 电子产品防静电包装技术要求
IEC 60749-6 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分 高温贮存(Semiconductor devices一Mechanical and climatic test methods—Part 6:Storage at high temperature)IEC 60749-8:2002半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封(Semiconductor devices—
Mechanical and climatic test methods—Part 8:Sealing)
IEC60749-9:2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性(Semiconductor de-
vices—Mechanical and climatic test methods—Part 9:Permanence of marking)
IEC 60749-24:2004 半导体器件 机械和气候试验方法 第24部分：稳态湿热(Semiconductordevices—Mechanical and climatic test methods—Part 24:Accelerated moisture resistance—UnbiasedHAST)
IEC 60749-28:2017半导体设备 机械和气候测试方法 第28部分：静电放电(ESD)灵敏度测试 充电器件型号(CDM)设备级别(Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 28:Electrostatic discharge(ESD)sensitivity testing—Charged device model(CDM)-device level)
IEC 60749-36:2003半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：恒定加速度(Semiconductor
devices—Mechanical and climatic test methods—Part 36:Acceleration,steady state)
3 术语和定义
GB/T 9178界定的术语和定义适用于本文件。
4 分类
4.1 概述
AD转换器主要功能是将模拟量转化为数字量，基本工作原理主要为采样保持、量化与编码。根据采样、量化电路的结构不同，AD转换器主要有以下类型，双积分型(dual slope)、2—△调制型(sigma—delta)、逐次逼近型(successive approximation)、全并行型(flash)和流水线型(pipeline)等。
4.2 双积分型
一种通过积分器和计数器将输入的模拟量转换成数字量的AD转换器。
4.3 2一△调制型
一种通过比较器产生一个与模拟输入量相关的脉冲信号数据流，这个数据流通过数字滤波和抽样产生与模拟输入相对应的数字量的AD转换器。
4.4 逐次逼近型
一种通过比较器比较输入电压和参考电压产生数字量，并通过上一次比较的数字量，在模拟输入中减去相应的电平，完成N次比较后生成对应数字量的AD转换器。
4.5 全并行型
一种通过将模拟输入信号同时和多个模拟比较器进行比较并输出对应数字量的AD转换器。
4.6 流水线型
采样保持单元捕获将要转换的模拟量，采样后的电平依次经过若干流水结构得到数字量，经过延时对准电路和数字校正电路处理后输出数字量的AD转换器。
5 技术要求
5.1 温度
5.1.1 工作温度
在工作温度范围内AD转换器可正常工作。