GB/T 35007-2018
半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits— Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
2018-08-01实施
2018-03-15发布
前 言
本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规定起草。
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本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会（SAC/TC 78）归口。