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GB/T 23901.2-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定

资料类别:行业标准

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更新时间:2023-12-11 11:01:45



相关搜索: 检测 无损检测 射线 图像 部分 测定 照相 孔型 阶梯 23901 照相 孔型

内容简介

GB/T 23901.2-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定 ICS 19.100 J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
代替GB/T23901.2—2009
无损检测 射线照相检测图像质量第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定
Non-destructive testing-Image quality of radiographs-
Part 2 : Determination of the image quality value using step/hole-type image
qualityindicators
(ISO19232-2:2013,IDT)
2020-01-01实施
2019-06-04发布
国家市场监督管理总局 发布
中国国家标准化管理委员会 GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
目 次
前言范围规范性引用文件术语和定义
II
2
3
阶梯孔型像质计规范 5 像质计的使用
4
像质值的确定
6 GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
前言
GB/T23901《无损检测射线照相检测图像质量》分为5个部分:一第1部分:丝型像质计像质值的测定;
第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定;

一第3部分:像质分类;一第4部分:像质值和像质表的实验评价;
第5部分:双丝型像质计图像不清晰度的测定。 本部分为GB/T23901的第2部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草本部分代替GB/T23901.2一2009《无损检测 射线照相底片像质第2部分:阶梯孔型像质计
像质指数的测定》,与GB/T23901.2一2009相比,主要变化如下:
修改了规范性引用文件(见第2章,2009年版的第2章);修改了术语和定义(见第3章,2009年版的第3章); “射线照相底片像质”改为“射线照相检测图像质量”;一“像质指数”改为“像质值”; “胶片”改为“探测器”。 本部分使用翻译法等同采用ISO19232-2:2013《无损检测射线照相检测图像质量 第2部分:阶
梯孔型像质计像质值的测定》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
GB/T19802一2005无损检测工业射线照相观片灯最低要求(ISO5580:1985,IDT) -GB/T23901.4一2019无损检测射线照相检测图像质量第4部分:像质值和像质表的实验评价(ISO19232-4:2013IDT)
—GB/T27050.1一2006合格评定供方的符合性声明第1部分:通用要求(ISO/IEC17050-1:
2004,IDT) 本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。 本部分负责起草单位:上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙
江省缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术(北京)有限公司、上海航天精密机械研究所、上海卫星装备研究所、上海航天设备制造总广有限公司、四川航天川南火工技术有限公司、中广核工程有限公司、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工艺研究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上海航天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司。
本部分主要起草人:陈亦维、徐国珍、蒋建生、丁杰、柳章龙、主晓勇、江运喜、周建平、危荃、孙建罡、
徐薇、张政、朱从斌、王道龙、黄文大、吕延达、袁生平、刘军、胡玲、陈虎、袁支佐、张瑞、张义凤、翟莲娜、 马君。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
GB/T23901.2—2009。
-
II GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
无损检测射线照相检测图像质量第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定
1范围
GB/T23901的本部分规定了使用阶梯孔型像质计确定射线照相检测图像质量的器材和方法。 本部分适用于使用阶梯孔型像质计测定射线照相检测像质值。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件
ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求(Non-destructivetesting一Industrialradi- ographic illuminators—Minimum requirements)
ISO/IEC17050-1合格评定供应商的合格评定 第1部分:总则(Conformityassessment Supplier's declaration of conformityPart 1:General requirements)
ISO19232-4无损检测射线照相检测图像质量第4部分:像质值和像质表的实验评价(Non destructive testing-Image quality of radiographs-Part 4:Experimental evaluation of image quality values and image quality tables)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
图像质量 image quality 像质反映所显示细节的程度的射线照相检测图像特征。
3.2
像质计 image quality indicator;IQI 能够测量所获得的像质,由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件注:像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。
3.3
像质值 imagequalityvalue 表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定值注:像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度(IQIsensitivity)表述。阶梯孔型像质计的编号见表1。
4 阶梯孔型像质计规范
4.11 像质计组成、制造、名称 4.1.1 像质计组成
像质计系列由18块不同厚度及直径的阶梯和孔组成,具有相应的公差和对应的孔编号,见表1。
1 GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
这些阶梯和孔又被分成范围重叠的四组,每组由6种连续编号的孔组成,即H1~H6、H5~H10、H9~ H14和 H13~H18。
单位为毫米
fS
说明: h
对于像质计H1、H5和H9,h=10mm;对于像质计H13,h=15mm;对于像质计H1,l=5mm;对于像质计H5和H9,l=7mm;对于像质计H13,l=15mm。
“像质计标记区域。
图1 阶梯孔型像质计
4.1.2 像质计制造
厚度小于0.8mm的阶梯应含有两个相同直径的孔。厚度大于或等于0.8mm的阶梯应含有一个孔,孔中心距阶梯的边缘,或者距阶梯上第二个孔的边缘,其最小距离应为孔径加1mm。孔应垂直于表面,不应有倾斜边缘。 4.1.3像质计名称
像质计名称应包括像质计标识、标准编号、表1规定的最小孔径号(例如:H5)以及代表像质计材料的标记(例如:FE)。
示例:IQIGB/T 23901.2-H5 FE。 带有“ISO19232-2"或“EN462-2"的像质计与带有“GB/T23901.2"的像质计等同使用
表1孔编号、孔径、阶梯厚度及像质计公差
单位为毫米
孔和阶梯
像质计范围 H5
H13
孔编号 H1 H2 H3 H4
标称孔径和阶梯厚度
极限偏差
H1 X X X X
H9
0.125 0.160 0.200 0.250
+0.015
0
a ICS 19.100 J 04
GB
中华人民共和国国家标准
GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
代替GB/T23901.2—2009
无损检测 射线照相检测图像质量第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定
Non-destructive testing-Image quality of radiographs-
Part 2 : Determination of the image quality value using step/hole-type image
qualityindicators
(ISO19232-2:2013,IDT)
2020-01-01实施
2019-06-04发布
国家市场监督管理总局 发布
中国国家标准化管理委员会 GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
目 次
前言范围规范性引用文件术语和定义
II
2
3
阶梯孔型像质计规范 5 像质计的使用
4
像质值的确定
6 GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
前言
GB/T23901《无损检测射线照相检测图像质量》分为5个部分:一第1部分:丝型像质计像质值的测定;
第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定;

一第3部分:像质分类;一第4部分:像质值和像质表的实验评价;
第5部分:双丝型像质计图像不清晰度的测定。 本部分为GB/T23901的第2部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草本部分代替GB/T23901.2一2009《无损检测 射线照相底片像质第2部分:阶梯孔型像质计
像质指数的测定》,与GB/T23901.2一2009相比,主要变化如下:
修改了规范性引用文件(见第2章,2009年版的第2章);修改了术语和定义(见第3章,2009年版的第3章); “射线照相底片像质”改为“射线照相检测图像质量”;一“像质指数”改为“像质值”; “胶片”改为“探测器”。 本部分使用翻译法等同采用ISO19232-2:2013《无损检测射线照相检测图像质量 第2部分:阶
梯孔型像质计像质值的测定》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
GB/T19802一2005无损检测工业射线照相观片灯最低要求(ISO5580:1985,IDT) -GB/T23901.4一2019无损检测射线照相检测图像质量第4部分:像质值和像质表的实验评价(ISO19232-4:2013IDT)
—GB/T27050.1一2006合格评定供方的符合性声明第1部分:通用要求(ISO/IEC17050-1:
2004,IDT) 本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。 本部分负责起草单位:上海空间推进研究所、上海航天动力科技工程有限公司、上海材料研究所、浙
江省缙云像质计厂、湖北三江航天江北机械工程有限公司、矩阵科工检测技术(北京)有限公司、上海航天精密机械研究所、上海卫星装备研究所、上海航天设备制造总广有限公司、四川航天川南火工技术有限公司、中广核工程有限公司、上海飞天众知科技有限公司、浙江省特种设备检验研究院、航天材料及工艺研究所、中信戴卡股份有限公司、中国科学院声学研究所东海研究站、宁波市特种设备检验研究院、上海航天控制技术研究所、艾因蒂克检测科技(上海)股份有限公司。
本部分主要起草人:陈亦维、徐国珍、蒋建生、丁杰、柳章龙、主晓勇、江运喜、周建平、危荃、孙建罡、
徐薇、张政、朱从斌、王道龙、黄文大、吕延达、袁生平、刘军、胡玲、陈虎、袁支佐、张瑞、张义凤、翟莲娜、 马君。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
GB/T23901.2—2009。
-
II GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
无损检测射线照相检测图像质量第2部分:阶梯孔型像质计像质值的测定
1范围
GB/T23901的本部分规定了使用阶梯孔型像质计确定射线照相检测图像质量的器材和方法。 本部分适用于使用阶梯孔型像质计测定射线照相检测像质值。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件
ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求(Non-destructivetesting一Industrialradi- ographic illuminators—Minimum requirements)
ISO/IEC17050-1合格评定供应商的合格评定 第1部分:总则(Conformityassessment Supplier's declaration of conformityPart 1:General requirements)
ISO19232-4无损检测射线照相检测图像质量第4部分:像质值和像质表的实验评价(Non destructive testing-Image quality of radiographs-Part 4:Experimental evaluation of image quality values and image quality tables)
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
图像质量 image quality 像质反映所显示细节的程度的射线照相检测图像特征。
3.2
像质计 image quality indicator;IQI 能够测量所获得的像质,由一系列不同等级尺寸的丝或带孔的阶梯组成的器件注:像质计也可用图像质量指示器、IQI表述。像质计类型通常为丝型或阶梯孔型。
3.3
像质值 imagequalityvalue 表示为要求或达到像质计在射线照相检测图像上可识别的最细丝或最小孔的测定值注:像质值也可用图像质量值、IQI灵敏度(IQIsensitivity)表述。阶梯孔型像质计的编号见表1。
4 阶梯孔型像质计规范
4.11 像质计组成、制造、名称 4.1.1 像质计组成
像质计系列由18块不同厚度及直径的阶梯和孔组成,具有相应的公差和对应的孔编号,见表1。
1 GB/T23901.2—2019/ISO19232-2:2013
这些阶梯和孔又被分成范围重叠的四组,每组由6种连续编号的孔组成,即H1~H6、H5~H10、H9~ H14和 H13~H18。
单位为毫米
fS
说明: h
对于像质计H1、H5和H9,h=10mm;对于像质计H13,h=15mm;对于像质计H1,l=5mm;对于像质计H5和H9,l=7mm;对于像质计H13,l=15mm。
“像质计标记区域。
图1 阶梯孔型像质计
4.1.2 像质计制造
厚度小于0.8mm的阶梯应含有两个相同直径的孔。厚度大于或等于0.8mm的阶梯应含有一个孔,孔中心距阶梯的边缘,或者距阶梯上第二个孔的边缘,其最小距离应为孔径加1mm。孔应垂直于表面,不应有倾斜边缘。 4.1.3像质计名称
像质计名称应包括像质计标识、标准编号、表1规定的最小孔径号(例如:H5)以及代表像质计材料的标记(例如:FE)。
示例:IQIGB/T 23901.2-H5 FE。 带有“ISO19232-2"或“EN462-2"的像质计与带有“GB/T23901.2"的像质计等同使用
表1孔编号、孔径、阶梯厚度及像质计公差
单位为毫米
孔和阶梯
像质计范围 H5
H13
孔编号 H1 H2 H3 H4
标称孔径和阶梯厚度
极限偏差
H1 X X X X
H9
0.125 0.160 0.200 0.250
+0.015
0
a
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