ICS 77.120.10 H 30
YS
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T 1033—2015
干式防渗料元素含量的测定
X射线荧光光谱分析法
Determination of element contents in dry barrier-
X-ray fluorescence spectrometric method
2015-04-30发布
2015-10-01实施
发布
中华人民共和国工业和信息化部 YS/T1033—2015
前言
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC243)提出并归口。 本标准负责起草单位：中国铝业股份有限公司郑州研究院、有色金属技术经济研究院。 本标准参加起草单位：中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司河南分公司、内
蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司。
本标准主要起草人：张爱芬、马慧侠、白万里、刘静、王云霞、丛梅、艾、王晓雯、李志辉、包芳芳
一 YS/T1033—2015
干式防渗料元素含量的测定
X射线荧光光谱分析法
1范围
本标准规定了铝电解用干式防渗料中元素含量的测定方法，本标准适用于铝电解用干式防渗料中铝、硅、铁、钛、钾、钠、钙和镁（用氧化物表示为Al2O3、SiO2、
FezO、TiO.、K,O、NazO、CaO、MgO)的测定。测定范围见表1。
表 1
组分 Al, O3 Fe2 O: K.0 Cao
组分 SiO2 TiO2 Na O Mgo
含量范围/% 10.00~60.00 0.010~5.00 0.010~5.00 0.010~5.00
含量范围/% 10.00~50.00 0.010~10.00 0.010~5.00 0.010~5.00
2 方法原理
样品用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融，以消除矿物效应和粒度效应，并铸成适合X射线荧光光谱仪测量形状的玻璃片，测量玻璃片中待测元素的荧光X射线强度。根据校准曲线或方程来分析，校正方程用系列标准样品建立，且进行元素间于扰效应校正。基体效应用理论α系数或基本参数法校正元素间的吸收-增强效应。
注：由于熔融玻璃片技术的通用性，允许使用各种熔剂和校准模式。但应符合一定的再现性、灵敏度和准确度。若
一个实验室自已的方法符合规定的条款，即可认为符合本标准。
3试剂
3.1 无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[LizB,O，（12）十LiBO2（22)］，熔剂含有一定水分，应通过以下两种方法之一进行补偿：
a） 在700℃灼烧2h，在干燥器中冷却备用；
每千克充分混合的熔剂取2份，一份按规定的熔融温度熔融10min，另一份按规定的熔融时
b）
间熔融，取灼烧减量大者校正熔剂用量，按式（1)计算校正因子。熔剂应密封保存。每周或每千克测定一次灼烧减量。
100 100 -L
F
..(1)
式中： F L
校正因子；灼烧减量，以百分数表示，
3.2 硝酸铵溶液：500g/L。
1 YS/T1033—2015
3.3 脱模剂：溴化锂饱和溶液或碘化铵溶液（300g/L）。 3.4监控样品：监控样品应是均匀稳定的玻璃片，含有所有校准元素，其浓度应使其计数率的统计误差小于或等于校准元素的计数率统计误差。
4仪器及器具
4.14 铂-金合金璃（95%Pt十5%Au）。 4.2铂-金合金铸模（95%Pt十5%Au）。铸模材料底厚度约1mm，使其不易变形 4.3 熔样器皿和铸型模可合二为一。若试样在埚中熔融后直接成型，则要求埚底面内壁平整光滑，使玻璃片从铸模中容易剥离而不破裂， 4.4熔样机：自动火焰熔样机或高频电感熔样机。若用其他类型熔样机，最高温度不低于1150℃，且可控制温度，控温精度土15℃以内。 4.5波长色散X射线荧光光谱仪：端窗佬靶X射线管。
5试样
5.1试样粒度应小于125μm。 5.2试样需预先在105℃土5℃的烘箱中烘2h，置于干燥器中，冷却至室温。
6分析步骤
6.1 测定次数
分析时应称取两份试样，进行平行测定，取其平均值。 6.2试料
根据仪器设备情况试样和熔剂按照一定比例准确称量，推荐称量比例为1：10，
6.3# 校正试验
随同试样分析同类型的标准试样。
6.4试样片的制备 6.4.1混合：将混和熔剂和试料（6.2）转人铂-金合金埚（4.1)内搅拌均匀。加人2mL硝酸铵溶液（3.2），加人5滴脱模剂（3.3）。 6.4.2熔融：将混合试料（6.4.1）熔融前将埚（4.1）置于700℃高温炉预氧化5min。再放入熔样机（4.4）上1100℃熔融10min～15min，熔融过程要转动，使黏在壁上的小熔珠和样品进入熔融体中。每隔一定时间，熔样机自动摇动，将气泡赶尽，并使熔融物混匀。 6.4.3浇铸：将熔融试样（6.4.2)在铸模（4.2)中浇铸成型。将埚内熔融物倾人已加热至600℃以上的铸模中。将铸模移离火焰，冷却。已成型的玻璃圆片与铸模剥离。试样在埚中熔融后直接成型的应在冷却前摇动埚，赶出气泡 6.4.4样片的保存：取出样片，在非测量面贴上标签，放于干燥器内保存，防止吸潮和污染。测量时，只能拿样片的边缘，以避免X射线测量面的沾污。 6.5 校准曲线的制作 6.5.1 校准标准样品：以高纯试剂或相近的多个有证标准样品来配制校准样品。具体配制方法见附
2 YS/T1033—2015
录A。 6.5.2 测量条件：各元素特征谱线的测量条件通过优化获得，通常须测试不同浓度的实际样品，测量条件见附录B，不同仪器可根据实际情况选择合适的测量条件，包括背景校正方法和测量时间。 6.5.3校准方程：可根据仪器情况选择合适的校准方程，如理论α影响系数法、基本参数法和经验α系数法等。标准样品制备按6.4步骤进行，测量按6.6.1进行。 6.6 测量 6.6.1 仪器漂移校正：通过监控样测量校正仪器漂移。在建立校正曲线同时测量标准样品和监控样品，以保证漂移校正的有效性。可采用单点校正或两点校正，时间间隔根据仪器的稳定性确定， 6.6.2 测量未知样品：启动定量分析程序，测量监控样品，进行仪器漂移校正。测量与未知样品同批制备的标准样品。标准样品中元素的分析结果要满足表2规定的重复性要求。输人未知样品名，测量未知样品。
7 精密度
7.1 重复性
在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在表2给出的平均值范围内，这两个测定结果的绝对差值不超过重复性限r，超过重复性限r的情况不超过5%。 重复性限r按表2数据采用内插法求得。
表 2
重复性限
重复性限T
组分
组分
含量/% 26.41 32.29 38.45 0.46 1.11 2.27 4.75 0.34 0.84 1.22
含量/% 45.13 54.07 58.90 0.24 0.74 1.06
% 0.27 0.35 0.44 0.011 0.028 0.085 0.14 0.013 0.062 0.085
% 0.45 0.51 0.57 0.007 9 0.017 0.037
Al, Os
SiO2
Fe Os
TiO;
0.027 0.12 0.29 0.85 0.044 0.072 0.32 0.78
0.002 8 0.015 0.027 0.060 0.009 5 0.015 0.023 0.040
K: 0
Na? O
0.084 0.12 0.52 0.69 2.30
0.007 1 0.011 0.039 0.045 0.095
Cao
MgO
3 YS/T1033—2015
7.2 允许差
实验室间分析结果的差值不大于表3所列允许差。
表3
组分
组分
含量/% ≤30.00
允许差/% 0.50 0.65 0.75
含量/% ≤30.00 >30.00~50.00 >50.00~60.00
允许差/% 0.50 0.60 0.70 0.80 0.080 0.10 0.20 0.30 0.030 0.060 0.10 0.20 0.35 0.030 0.050 0.10 0.20 0.35
>30.00~50.00
Al, O;
SiO2
>50.00 一 ≤0.50 >0.50~1.00 >1.00~5.00 >5.00 ≤0.10 >0.10~0.50 >0.50~1.00 >1.00~5.00 >5.00 ≤0.10 >0.10~0.50 >0.50~1.00 >1.00~5.00 >5.00
>60.00 ≤0.50 >0.50~1.00 >1.00~5.00 >5.00 ≤0.10 >0.10~0.50 >0.50~1.00 >1.00~5.00 >5.00 ≤0.10 >0.10~0.50 >0.50~1.00 >1.00 >5.00
一 0.080
0.10 0.20 0.30 0.030 0.060 0.10 0.20 0.35 0.030 0.050 0.10 0.20 0.35
Fe. O:
TiO2
K,0
Naz 0
Ca0
Mgo
质量保证与控制
8
应用国家标准样品或行业标准样品或内控标准样品，使用时至少每半年校核一次本标准方法的有效性。 当过程失控时，应找出原因，纠正错误后，重新进行校核。
9 检测报告
检测报告应包括如下内容： a) 本标准名称及编号； b) 样品标识及检测样品的必要说明； c) 样品名称、牌号； d) 检测结果； e) 报告编号和日期； f) 本标准未规定的操作或可能影响结果的任何情况。 X