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GB/T 28475.2-2012 工业炉窑控制装置 第2部分:性能评定方法

资料类别:国家标准

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内容简介

GB/T 28475.2-2012 工业炉窑控制装置 第2部分:性能评定方法 ICS 25.040. 40 N 10
中华人民共和国国家标准
GB/T 28475.2--2012
工业炉窑控制装置第2部分:性能评定方法
Microprocessor control equipment in industrial stove-
Part 2 : Methods of evaluating the performance
2012-11-01实施
2012-06-29发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会 发布 GB/T 28475.2—2012
前言
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 GB/T28475《工业炉窑控制装置》分为两部分:
第1部分:通用技术条件;第2部分:性能评定方法。
本部分是GB/T28475的第2部分。 本部分的附录 A为规范性附录。 本部分由中国机械工业联合会提出本部分由全国工业过程测量和控制标准化技术委员会(SAC/TC124)归口。 本部分由负责起草单位:福建上润精密仪器有限公司。 本部分参加起草单位:上海亚泰仪表有限公司、福州福光百特自动化设备有限公司、西南大学。 本部分主要起草人:戈剑。 本部分参加起草人:王子江、蔡铁强、张新国、张建成、黄伟、黄巧莉、钟秀蓉
I GB/T 28475.2--2012
工业炉窑控制装置第2部分:性能评定方法
1 范围
GB/T28475的本部分规定了各种工业炉窑控制装置(以下简称微控装置)的性能评定方法和检验规则等。
本部分适用于各种工业炉窑的过程控制用微控装置。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2423.1 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 A:低温(GB/T 2423.1一 2008,IEC 60068-2-1:2007,IDT)
GB/T2423.2电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(GB/T 2423.2- 2008, IEC 60068-2-2 :2007 , IDT)
GB/T2423.3电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 (GB/T 2423.3--2006,IEC 60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.5 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 云 试验 Ea 和导则:冲击 (GB/T 2423. 5-1995,idt IEC 60068-2-27 :1987)
GB/T 2423.6 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 去试验 Eb 和导则:碰撞 (GB/T 2423. 6—-1995,idt IEC 60068-2-29:1987)
GB/T 2423.8电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落(GB/T2423.8一 1995,idt IEC 60068-2-32:1990)
GB/T2423.10电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦) (GB/T 2423.10-2008,IEC 60068-2-6:1995,IDT)
GB/T 2828.1计数抽样检验程序第1 部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 (GB/T 2828.1--2003,ISO 2859-1:1999,IDT)
GB/T 2829周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检查) GB 4208外壳防护等级(IP 代码)(GB 4208--2008,IEC 60529:2001,IDT)) GB4793.1测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分:通用要求(GB4793.1-
2007,IEC 61010-1 :2001,IDT)
GB/T5080.7设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 (GB/T 5080. 7—1986,idt IEC 60605-7:1978)
GB/T 9813微型计算机通用规范 GB/T16511电气和电子测量设备随机文件(GB/T16511-1996,idtIEC61187:1993) GB/T16842外壳对人和设备的防护检验用试具(GB/T16842--2008,IEC61032:1997,IDT)
1 GB/T 28475.2—2012
GB/T 17626.1 电磁兼容 讠 试验和测量技术抗扰度试验总论(GB/T17626.1一2006, IEC 61000-4-1:2000,IDT)
GB/T 17626.2 电磁兼容 试验和测量技术静电放电抗扰度试验(GB/T17626.2—2006, IEC 61000-4-2:2001,IDT)
GB/T 17626.3电磁兼容试验和测量技术  射频电磁场辐射抗扰度试验(GB/T17626.3- 2006 ,IEC 61000-4-3 :2002,IDT)
GB/T 17626.4电磁兼容试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T17626.4- 2008,IEC 61000-4-4 :2004,IDT)
GB/T 18271.1过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第1部分:总则 (GB/T 18271. 1--2000,idt IEC 61298-1 :1995)
GB/T 18271.4过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序第 4 部分:评定报告的内容 (GB/T 18271.4-2000,idt IEC 61298-4:1995)
GB/T28475.1—2012工业炉窑控制装置第1部分:通用技术条件
3术语和定义
GB/T28475.1一2012确立的术语和定义适用于GB/T28475的本部分。
4 试验方法
4.1试验条件 4.1.1大气条件
除可靠性试验和气候环境试验外,试验均在参比条件下进行,参比大气条件为:温度
(20±2)℃;
相对湿度 60% ~70% ; 大气压力 86 kPa~106 kPa。 当试验在不可能或无必要在参比条件下进行时,推荐采用下列一般试验大气条件:
10℃~35℃;
温度相对湿度 45%~75%; 大气压力 86 kPa~106 kPa.
4.1.2动力条件
交流电源:电压允差士1.0%,频率允差士1.0%,谐波含量小于5%;直流电源:电压允差士1.0%,纹波小于0.2%。
4.1.3其他条件
除相关试验外,外界磁场(地磁场外)小到可以忽略不计,机械振动小到可以忽略不计;
a)
b)测试系统误差不超过被测装置允差的三分之一到四分之一;
根据承制方装置要求可以安装地线,一般接地电阻小于 4α。

2 GB/T 28475.2--2012
4.2一般试验方法 4.2.1总则
在项目试验中,可直接使用装置原系统软件,应用软件和显示设备。有关性能,功能,适应性试验是以微控装置的硬件和软件总体为背景。 4. 2.2测试程序
在无法利用微控装置应用软件的情况下,可以约定编制专用测试程序,其原则必须符合GB/T9813
的规定。 4.2.3试验前准备
除非另有规定,试验前允许有 30 min 预热阶段,在试验前允许对下限值、量程进行调整。 4.3功能检查
4.3.1概述
微控装置功能试验按用户与制造商的协议进行,除非另有规定,实验方法如下。
4.3.2接受功能试验
a) 生产过程参数和状态接受功能试验:首先检查模拟量输人,数字量输入点数,类型,信号范围是
否符合用户与制造商的协议要求,然后在各输入点逐点或分批接上用户与制造商的协议规定的信号。检查各点序号是否正确,结合4.3.4,4.3.5,4.3.7各条。各点信号是否正确传送到有关显示,数据处理和控制各环节;
b) 按GB/T28475.1—2012中5.1.2b)检查接受操作人员指令相应能力; c) 按用户与制造商的协议要求进行程序修改和生成; d) 接受信息的响应速度可编制检查程序测试。
4.3.3存储功能试验
按用户与制造商的协议要求,存人有关常数、系数、人为设定动态参数并调出对照正确性。 4.3.4连接功能试验
人为设定数据输出到连接的有关设备。检查正确性,范围至少为量程的10%,50%,90%三点。 4.3.5过程监视功能试验
按用户与制造商的协议要求检查下列功能: a)报警功能:人为设置报警系统,检查是否正确,包括精度,序号等,检查灯光,声音等是否有效,
清楚; b)显示功能:在给定输人信号(一般为量程的0%,25%,50%,75%,100%五点)下检查显示精确
度,在输人点较多情况下(大于32点)可按N开方的整数值(N为某类信号总点数)抽样。同时检查序号,工程单位是否正确。按GB/T28475.1—2012中5.1.5.2检查其他显示值是否正确,文字,符号,图形是否正确,清晰。检查指示灯,状态指示灯是否正确;
c)事故记录,指示:按用户与制造商的协议要求,人为设定事故信号,检查记录,指示的正确性,事
故时间,性质及量值是否正确。对有事故预报要求的,人为设置预报信号,检查预报的正确性;
3 GB/T 28475.22012
d)对于图形显示,按用户与制造商的协议要求进行检查。 4.3.6过程控制功能试验
按用户与制造商的协议要求,对全部控制回路进行试验,具体方法如下: a)对于单回路控制方式,根据GB/T 18271.1检查正确性,其整定参数范围、标度误差和截止频
率是否符合GB/T28475.1-2012中 5.1和5.2的要求; b)对GB/T28475.1一2012中5.1.6其他控制算式进行模拟试验,检查其正确性; c)优化控制及数学模型按用户与制造商的协议确定方式检查; d)通过键盘操作,设置控制输出量,检查相应模拟量输出值是否符合要求,对于开关量控制检查
状态是否正确;
e)检查微控装置故障或停电时可否对执行器实行遥控; f)微机控制与后备操作(既联机到联机切换)之间切换的过程中,切换扰动值是否达到要求; g)连锁功能检查,按照工艺要求逐步检查连锁功能。
4.3.7数据处理功能试验
按用户与制造商的协议要求,人为设定输人值,检验数据处理的正确性。每一计算公式验证数据组合方式进行。验证数据组合数不得少于3n次(n为输人次数)。 4.3.8自诊断功能试验
根据用户与制造商的协议要求,人为设置被诊断设备故障,检查自诊断功能及响应时间,软件自诊断由用户与制造商双方确定。 4.3.9掉电保护功能试验
按用户与制造商的协议要求,人为设置电源故障(降压或停电),供电恢复正常后检查数据及状态的保持能力,检查再启动后的工作状态正确性。 4.3.10实时时钟功能试验
测定内部时钟脉冲的设定,显示功能及时钟精度。 4.3.11二次开发功能检查
根据用户与制造商的协议要求,检查二次开发功能由用户和制造商双方确定。 4.4技术性能试验 4.4.1过程输入/输出通道技术性能试验
根据GB/T18271.1,按GB/T28475.1--2012中5.2.2~5.2.7的要求,进行下列项目试验: a)输入阻抗; b)准确度; c)温度稳定性; d)采样周期; e) 抗干扰能力(串模和共模); f)负载能力; g)响应速度; 4 GB/T 28475.2—2012
h)自保持能力; i)寻址功能; j)接点“通”和“断”状态的电阻值,接点耐压值,接点容量,电平型数字量输出的高低电平值; k)中断响应。 其中d)、g)、i)由用户与制造商的协议确定编程试验。
4.4.2其他设备试验
微控装置采用通用的设备按各自技术条件进行试验。 4.5外观检查
用目测法进行外观检查,应符合GB/T28475.1一2012中5.3a)的要求,选择若干可动部件操作 2~3次,应符合 GB/T 28475.1-2012中5.3b)的要求。 4.6绝缘电阻和绝缘强度试验
根据GB/T18271.1,对微控装置内各部分所有与电网相联的电源按GB/T28475.1-—2012中5.4 的要求进行试验。 4.7电源适应能力试验
对于交流电源,按下列 5 种组合情况进行试验,每次试验时间不少于 15 min,试验中应能正常工作。
a) 220 V AC b))2 220X(1-10%)V AC c)2 220X(1-10%)V AC d) 220X(1←10%)V AC e) 220X(1+10%)V AC 对于直流电源按GB/T28475.1-2012中5.5b)规定的条件进行试验。 上述两种情况试验中,应符合GB/T28475.1—-2012中 5.5c)的要求。对GB/T 28475.1-2012中
50 Hz; 49 Hz; 51 Hz; 49 Hz; 51 Hz.
5.5d)的试验,根据GB/T18271.1,电压瞬时过压试验中,电源可用适当滤波器保护。 4.8环境适应性试验 4.8.1概述
微控装置在环境适应性试验前和试验后都需进行检测,是否符合GB/T28475.1一2012中 5.6的要求。 4.8.2工作气候条件试验
按GB/T2423.1,GB/T2423.2,GB/T2423.3规定进行下列项目试验: a)工作温度下限试验:将微控装置置于下限温度值5℃士2℃通电试验4h条件下; b)工作温度上限试验:将微控装置置于上限温度值40℃士2℃通电试验4 h条件下; c)工作条件下湿热试验:将微控装置置于温度值40℃士2℃,相对湿度95%±2%条件下,持续
通电试验48h。 试验时检测是否符合GB/T28475.1-—2012中5.6.1a)的要求。
5 GB/T 28475.2--2012
4.8.3储存运输气候条件试验
在运输包装条件下参照GB/T2423.1GB/T2423.2,GB/T2423.3规定进行下列条件试验
储存运输气候温度下限试验:将微控装置置于一25℃2℃不通电情况下存放16 h,恢复时
a)
间2 h; b)储存运输气候温度上限试验:将微控装置置于55℃士2℃不通电情况下存放16 h,恢复时间
2 h; c)储存运输气候条件下湿热试验:将微控装置置于55℃,相对湿度 95%士2%,不通电情况下存
放48 h,恢复时间2 h。 在恢复后进行检测,是否符合 GB/T 28475.12012中 5.6.1b)的要求。
4.8.4振动环境试验
按GB/T2423.10的试验程序,根据GB/T28475.1-—2012中5.6.3规定参数进行试验。 4.8.5冲击试验
按GB/T2423.5,根据GB/T28475.1—2012中5.6.4规定进行冲击试验。 4.8.6碰撞试验
按GB/T2423.6,根据GB/T28475.1—2012中5.6.5规定进行碰撞试验。 4.8.7跌落试验
按GB/T2423.8,根据GB/T28475.1—2012中5.6.6和表1规定进行跌落试验。 4.8.8特殊环境试验
关于微控装置的腐蚀性气体、尘埃、防爆等环境试验,由用户与制造商双方确定。 4.8.9电磁场干扰试验
参照GB/T18271.1,根据GB/T28475.1--2012中5.6.10规定试验。 4.8.10电磁兼容性试验
本试验按GB/T17626.1、GB/T17626.2、GB/T17626.3、GB/T17626.4的要求进行,具体由用户与制造商的协议确定。 4.9可靠性试验 4.9.1概述
微控装置的实验室验证试验按下列规定进行。 4.9.2试验条件
微控装置工作环境条件和动力条件。 4.9.3试验方案
按 GB/T 5080.7进行,其中可接受的 MTBF由 GB/T 28475.12012中 5.7规定。 6
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