ICS27.120.01 F88 备案号：30034-2011
JC
中华人民共和国建材行业标准
JC/T 2017--2010
氟化铅晶体 Lead fluoride crystal
2011-03~01实施
2010-11-22发布
中华人民共和国工业和信息化部 发布 JC/T2017—2010
前 言
本标准按照GB/T1.1--2009给出的规则起草。 本标准由中国建筑材料联合会提出。 本标准由全国工业陶瓷标准化技术委员会（SAC/TC194）归口。 本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所、上海硅酸盐研究所中试基地，本标准起草人：任国浩、李焕英、陈晓峰、薛炫萍。 本标准为首次制定。
I JC/T2017--2010
氟化铅晶体
1范围
本标准规定了氟化铅（PbF2）晶体的产品标记、技术要求、检测方法、检验规则、包装、标志、运输和贮
存。
本标准适用于氟化铅晶体。 2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB191包装储运图示标志 3术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
3. 1
辐照损伤 5radiation damage 晶体在长期接受大剂量射线（如质子、中子、电子、μ介子、-射线或来自粒子加速器、核反应堆和宇
宙射线的其他粒子等)辐照之后会导致晶格上的原子、离子或电子偏离其平衡位置而形成各种复杂的色心，表现为晶体着色、透过率下降、光输出降低等，这种现象称为辐照损伤。 3. 2
辐照硬度 Fradiationhardness 采用辐照前后透过率的下降幅度来表征氟化铅晶体的辐照硬度，表达式如式（1)所示：
TrR - TAR × 100%
辐照硬度（R）一
(1)
T BR
式中： T眼一辐照前，晶体沿长轴（或高度）方向的透过率； TAR 辐照后，同一晶体沿相同方向的透过率。
3. 3
包裹体Inclusions 晶体中出现的组分或者结构异于基质的生长缺陷，通常可分为固态包裹体和气态包裹体。
4产品分类与标记 4.1产品分类
氟化铅晶体按外形分五类：R（长方体）、S(正方体）、C(圆柱体）、E（楔形）、H(其他异型）。 4.2产品标记
产品标记按晶体名称、晶体长度（高度）、端面尺寸（圆柱体为端面直径，楔形和异型不必标注具体尺寸，用字母Y代替即可，示例如下：
示例1：PbF2一18510×30），表示端面尺寸为10×30mm，长度为185mm的长方体形瓶化铅晶体。 示例2:PbF2100（20），表示外形尺寸为20×100mm的圆柱体形氟化铅晶体。
5技术要求 JC/T2017-2010 5.1外观质量
外观质量应满足表1中的要求。
表1 氧化铅晶体产品的外观质量
质量要求
缺陷类型包裹体崩口裂纹颜色划衰、腐蚀印针状缺陷注：L为氟化铅晶体产品的长度或者高度，表2和表3中“L”与此意义相同。
0 100mm 无无无
无直径大于1mm、长度大于1mm的各类包裹体崩口总数应少于2个，且长度应小于3mm，深度小于1mm 裂纹总数应少于3条，且长度应小于15mm，深度小于1.5mm
无色无无
5. 2 表面粗糙度
表面粗糙度Ra≤0.02μm。 5.3尺寸公差
尺寸公差为士0.3mm。 5.4 透过率
产品在长轴方向的透过率应满足表2中的规定。
表2透过率指标
透过率T(%)
检测点 270 nm 330 nm 400 nm 800 nm
0 50mm T≥4% T≥72% T≥78% T≥78%
T≥3% T≥70% T≥75% T≥78%
T≥2% T≥ 58% T≥70% T≥75%
5.5 辐照硬度
样品经°Co源辐照（辐照累积剂量为10kRad，剂量率应小于20Rad/h)后，透过率应满足表3中的规定。
表3辐照硬度指标
辐照硬度指标
检测点 270 nm 330 nm 400nm 800 nm
50mm 0 R≤35% R≤13% R≤4% R≤0.5%
R≤44% R≤16% R<5% R≤0.5%
R≤28% R≤10% R≤3% R≤0.5%
2 JC/T2017-2010
6检测方法
6.1外观质量用目测法和直尺（精度：0.5mm）检测。 6.2表面粗糙度用粗糙度仪（精度：0.01um）检测。 6.3尺寸公差用目测法和千分尺（精度：0.01mm）测量。 6.4透过率检测 6.4.1检测环境条件
环境温度20℃~28℃，相对湿度20%~40%。 6.4.2检测仪器
紫外-可见双光束全自动分光光度计，测量波长范围为200nm～800nm。 6.4.3样品准备
测试前，用120号溶剂汽油和脱脂棉把产品端面擦拭干净。 调节光窗大小，保持产品端面靠紧光窗，调节放置位置，使光路全部沿长轴方向通过。
6.4.4检测，记录270nm，330nm、400nm、800nm四个检测点处的透过率值。 6.5辐照硬度检测 6.5.1按6.4检测样品的透射光谱，记录270nm、330nm、400nm、800nm四个检测点处的透过率。 6.5.2把样品送至辐照中心按规定进行辐照。辐照后，样品用黑纸严密包覆，避光带回后在暗室中放置1d。 6.5.3按6.4再次检测样品的透射光谱，记录270nm、330nm、400nm、800nm四个检测点处的透过率。 6.5.4按式（1）分别计算270nm、330nm、400nm、800nm四个检测点处的辐照硬度。 7 检验规则 7.1检验分类
分出厂检验和型式检验。 7.1.1出厂检验
出厂检验项目为外观质量和透过率。 尺寸公差和表面粗糙度应在产品加工过程中控制，一般不对成品检查尺寸公差和表面粗糙度。
7.1.2型式检验 7.1.2.1有下列情况之一时，应进行型式检验：
a)新产品定型鉴定； b)正式投产后，原材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时； c)正常生产时，每半年进行一次； d)停产六个月以上，恢复生产时； e)出厂检验结果与上次型式检验结果有较大差异时。
7.1.2.2型式检验项目
型式检验的项目为本标准第5章规定的全部项目，其中辐照硬度为抽检，其余项目为全检。 7.2组批和抽样 7.2.1组批
一批产品应由同一批原料在同一条生产线上经相同工艺连续生产并被同时提交验收的一组产品构成。以20根晶体为一批，不足20根时仍可作为一批，1根为一个取样单位。 7.2.2抽样
从每批产品中，用随机抽样的方法抽取1根样品。
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