ICS 31.030 CCS Q 65
JC
中华人民共和国建材行业标准
JC/T 2690—2022
镓石榴石(TGG)磁光晶体 Terbium gallium garnet (TGG) magneto-optical crystal
2022-09-30发布
2023-04-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布 中华人民共 和国建材行业标准钝镓石榴石(TGG)磁光晶体
JC/T 2690—2022
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中国建材工业出版社出版建筑材料工业技术监督研究中心
（原国家建筑材料工业局标准化研究所)发行新华书店北京发行所发行各地新华书店经售
北京市青云兴业印刷有限公司版权所有不得翻印
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开本880mmx1230mm1/16 5印张0.75 字数20千字
2023年3月第一版2023年3月第一次印刷
印数：1-800册定价：23.00元
书号：155160·3525
* 编号：1642
网址:www.standardenjc.com 电话：(010)51164708 地址：北京朝阳区管庄东里建材大院北楼 邮编：100024
本标准如出现印装质量问题，由发行部负资调换 JC/T2690—2022
前言
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任本文件由中国建筑材料联合会提出。 本文件由全国人工晶体标准化技术委员会(SAC/TC461)归口。 本文件起草单位：中国科学院福建物质结构研究所、闽都创新实验室、福建福晶科技股份有限公司、
中国计量大学材料科学和工程学院
本文件主要起草人：郑熠、吴少凡、蒋丽丽、秦来顺、王帅华、徐刘伟、王昌运、李雄、黄鑫。 本文件为首次发布。
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钝镓石榴石（TGG）磁光晶体
1范围
本文件规定了镓石榴石(TGG)磁光晶体的技术要求、检测方法、检测规则以及标志、包装、运输和贮存。
本文件适用于石榴石磁光晶体，其他同类高性能磁光晶体产品可参考本文件。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T2828.12012计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T11293固体激光材料名词术语 GB/T11297.1激光棒波前畸变的测量方法 GB/T11297.12光学晶体消光比的测量方法 GB/T16601.4—2017 激光器和激光相关设备 各激光损伤阈值测试方法第4部分：检查、探测和
测量
GB/T22453—2008 3硼酸盐非线性光学单晶元件质量测试方法 GB/T29420—2012 2掺钕钒酸盐激光单晶元件
3术语和定义
GB/T11293界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3. 1
磁光晶体 magneto-opticalcrystal 具有磁光效应的晶体。
3. 2
磁光效应 magneto-optic effect 线偏振光在光学介质中传播时在磁场作用下偏振方向发生旋转的现象。
3. 3
镓石榴石晶体terbiumgalliumgarnetcrystal 一种化学式为Tb;GasO12的磁光晶体。
3. 4
维尔德常数Verdetconstant 维尔德常数是描述晶体磁光效应的特性常数，用于表征磁光晶体磁致旋光率的大小。
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3.5
消光比 extinctionratio 光通过平行偏光系统与正交偏光系统时，分别得到最大输出光强与最小输出光强，它们的比值称消
光比。
3. 6
光学不均匀性opticalheterogenity 单晶元件内单位长度(厘米)最大折射率和最小折射率的差值。
3. 7
透射波前畸变 transmittedwavefrontdistortion 平行光束的波面透过被检单晶元件后相对于标准参考波面的畸变。
3.8
激光损伤阅值 直laserdamagethreshold 激光照射某种材料，能使其表面或内部发生局部破坏或光学性质发生变化的最低激光功率密度。
3. 9
有效通光孔径 effectiveclearaperture 晶体元件的通光表面扣除四周倒角后的可用面积与整个通光面面积的比值。
3.10
角度偏差angletolerance 角度偏差用△6和△Φ表示。 A是单晶元件通光面的法线和Z轴之间的夹角实际切割角度与设计切割角度之间的偏差。 △中是单晶元件通光面的法线在X-Y平面内的投影与X轴之间的夹角实际切割角度与设计切割角
度之间的偏差。
4技术要求
4.1加工质量 4.1.1外形尺寸 4.1.1.1长方体晶体尺寸公差应符合以下要求：Womm×H"！mm×L；mm，式中W为单晶元件通光面的宽度，H为单晶元件通光面的高度，L为单晶元件通光方向的长度。 4.1.1.2圆柱体晶体尺寸公差应符合以下要求：Φ1mm×L5mm，式中Φ为单晶元件通光面的直径， L为单晶元件通光方向的长度。 4.1.2角度偏差
晶体元件的切割角度偏差要求：-0.5°≤△0≤0.5°，-0.5°≤△Φ≤0.5°。 4.1.3平行度值
晶体元件两个通光面的平行度值应不大于1'。 4.1.4垂直度值
晶体元件的通光面与侧面之间的垂直度值应不大于30'。
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