您当前的位置:首页>行业标准>GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法

GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:4.42 MB

资料语言:中文

更新时间:2024-05-31 09:07:44



相关搜索: 密度 碳化硅 方法 测试 位错 单晶 单晶 41765

内容简介

GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
上一章:SF/T 0158-2023 软件相似性鉴定技术规范 下一章:YY 0290.2-2021 眼科光学 人工晶状体 第2部分:光学性能及测试方法 高清版

相关文章

GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法 GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法 GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法 GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法 GB/T 32282-2015 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法 GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 GB/T 42271-2022 清晰版 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法