您当前的位置:首页>行业标准>GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法

GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:1.11 MB

资料语言:中文

更新时间:2024-06-05 15:10:39



相关搜索: 绝缘 碳化硅 方法 电阻率 测试 单晶 非接触 单晶 42271

内容简介

GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
上一章:GB/T 5750.6-2023 生活饮用水标准检验方法 第6部分:金属和类金属指标 下一章:YD/T 3834.1-2021 量子密钥分发(QKD)系统技术要求 第1部分:基于诱骗态BB84协议的QKD系统

相关文章

GB/T 42271-2022 清晰版 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 GB/T 19199-2015 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 GB/T 17170-2015 半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法 SJ/T 11864-2022 半绝缘型碳化硅单晶衬底 SJ 21441-2018 SiC-HPSI型高纯半绝缘碳化硅单晶片规范 GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法