您当前的位置:首页>行业标准>GB/T 42271-2022 清晰版 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法

GB/T 42271-2022 清晰版 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法

资料类别:行业标准

文档格式:PDF电子版

文件大小:1.68 MB

资料语言:中文

更新时间:2024-06-03 16:03:34



相关搜索: 绝缘 碳化硅 方法 电阻率 测试 单晶 非接触 清晰 单晶 42271

内容简介

GB/T 42271-2022 清晰版 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
上一章:GB/T 19256.5-2022 基于XML的电子商务 第5部分:核心构件规范 下一章:GB/T 39180-2020 循环经济评价 铜冶炼行业

相关文章

GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 GB/T 19199-2015 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 GB/T 17170-2015 半绝缘砷化镓单晶深施主EL2浓度红外吸收测试方法 SJ/T 11864-2022 半绝缘型碳化硅单晶衬底 SJ 21441-2018 SiC-HPSI型高纯半绝缘碳化硅单晶片规范 GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法