JJG
中华人民共和国国家计量检定规程
JJG62—2017
尺
塞
Feeler Gauges
2018-05-20实施
2017-11-20 发布
国家质量监督检验检疫总局发布 JJG62—2017
塞尺检定规程 Verification Regulation of
JJG 62—2017 代替JJG62—2007
Feeler Gauges
归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会主要起草单位：辽宁省计量科学研究院
江西省计量测试研究院
参加起草单位：吉林省计量科学研究院
黑龙江省计量检定测试院湖南省计量检测研究院
本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJG 62—2017
本规范主要起草人：
石作德（辽宁省计量科学研究院）刘娜 （辽宁省计量科学研究院）肖衍凡（江西省计量测试研究院）
参加起草人：
姚兴宇（辽宁省计量科学研究院）窦艳红（吉林省计量科学研究院）张海波（黑龙江省计量检定测试院）曾琰 (湖南省计量检测研究院) JJG62—2017
目 录
引言
(IⅡ) (1 ) (1) (1) (2) (2) (2) (2) (3) (3) (3) (3) (3) (3) (3) (5) (5) (6) (9)
范围 2 引用文件.. 3
1
概述·· 计量性能要求
1
4.1工作面表面粗糙度 4.2厚度偏差 4.3 弯曲度· 5通用技术要求.. 5.1外观·· 5.2各部分相互作用 6 计量器具控制 6.1 检定条件 6.2 检定项目和主要检定器具· 6.3 检定方法 6.4 检定结果的处理· 6.5检定周期· 附录A塞尺厚度偏差测量不确定度评定示例附录 B 检定证书和检定结果通知书内页信息及格式
- JJG62—2017
引言
JJF1001一2011《通用计量术语及定义》、JJF1002一2010《国家计量检定规程编
写规则》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》共同构成本规程修订工作的基础性系列技术法规。
本规程是对JJG62一2007《塞尺》的修订，在修订过程中引用和参考了 GB/T22523一2008《塞尺》。与JJG62一2007《塞尺》检定规程相比，除编辑性修改外，主要变化如下：
在范围中删除了对长度的要求，在概述中增加常用塞尺规格的表述；取消了“弯曲度”的术语；规定了塞尺片的正反面及按正反面测量的顺序；取消了“硬度”的检定项目；按“A型”、“B型”确定“厚度偏差”测量点的分布；取消“以厚度最大值处的偏差作为塞尺厚度偏差”的规定，增加了厚度偏差e
的计算方法；
重新进行塞尺厚度偏差测量结果不确定度评定。 本规程的历次版本发布情况：
JJG62—1995塞尺； JJG62—2007塞尺。
II JJG 62—2017
塞尺检定规程
1 范围
本规程适用于厚度为（0.02～3.00）mm塞尺的首次检定、后续检定和使用中检查。 2 引用文件
本规程引用下列文件： GB/T22523—2008塞尺凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规程；凡是不注日期的引用文
件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本规程。
3概述
塞尺是具有固定厚度的实物量具，主要用于间隙检测。塞尺一般由成组的多片组成，也可单片使用。I型塞尺的结构见图1，图1（a）为成组的I型塞尺，图1（b）为单片的I型塞尺。Ⅱ型塞尺的结构见图2，图2（a）为成组的Ⅱ型塞尺，图2（b）为单片的Ⅱ型塞尺。
L
Q
3
b) I型单片
a) I型成组
图1I型塞尺结构示意图
1一塞尺片：2一保护板；3一联接件；4一正面（刻字面）；5一反面；6一工作区；7一非工作区 JJG62—2017
Li
3
b) Ⅱ型单片
a) Ⅱ型成组
图2 Ⅱ型塞尺结构示意图
1一塞尺片；2一保护板；3一联接件；4一正面（刻字面）；5一反面；6一工作区；7一非工作区常见塞尺规格见表1。
表1 常见塞尺规格
型 式 I型塞尺 ⅡI型塞尺
L,/mm 75,100
Lz/mm 25 25
150,200，300
计量性能要求
4
4. 1 工作面表面粗糙度
塞尺工作面表面粗糙度R。值应不超过表2的规定。
表2工作面表面粗糙度R，
表面粗糙度R/μum
塞尺厚度d/mm 0.02≤d≤0.05 0.05 M0.4 M0.8
厚度偏差塞尺厚度极限偏差见表3
4. 2
4.3弯曲度
塞尺弯曲度应不超过表3的规定
表3塞尺厚度极限偏差及弯曲度
塞尺厚度极限偏差Fm/mm 首次检定
塞尺厚度d/mm
塞尺弯曲度/mm
后续检定 +0.005 0.005 +0.008 0.008 +0.012 0.012
+0.005 0.003 +0.008 0.005 +0.012 0.007
0.02≤d≤0.10
≤0.006
0.10 0.30 ≤0.009
2 JJG62—2017 表3（续）
塞尺厚度极限偏差F./mm 首次检定
塞尺弯曲度/mm
塞尺厚度d/mm
后续检定 +0.016 0.016 +0.028 0.028 +0.048 0.048
+0.016 0.009 +0.028 0.015 +0.048 0.025
0.60 ≤0.012
1.00 ≤0.021
2.00 ≤0.036
5通用技术要求 5.1外观 5.1.1首次检定的塞尺的工作面应无划痕、折痕、毛刺、锈斑等缺陷；后续检定的塞尺不应有影响使用准确度的外观缺陷 5.1.2保护板上应标出制造厂名（或厂标）、规格，每片塞尺上均应标出厚度的标称值。 5.2各部分相互作用
塞尺与保护板的联接应可靠，塞尺绕联接件转动应灵活，不得有松动和卡滞现象
6 计量器具控制
计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检查。 6.1检定条件
检定室内温度为（20士8）℃。 6.2 检定项目和主要检定器具
检定项目和主要检定器具见表4。
表4检定项目和主要检定器具
首次 后续 使用中检定 检定 检查
序号
检定项目
主要检定器具
外观各部分相互作用
+ +
+
1
+ + +
2 3 工作面的表面粗糙度 表面粗糙度比较样块MPE：（+12%～一17%） +
-
厚度偏差弯曲度
4 L5
十
X +
测长仪MPE：±（1μm+5×10-6L）
+
注：表中“十”表示应检定，“”表示可不检定， 6.3 检定方法
3