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YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分:物相分析 X射线衍射分析法

资料类别:行业标准

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资料语言:中文

更新时间:2023-11-18 09:43:39



推荐标签: 化学分析 方法 分析 ys 射线 部分 氧化 分析法 1344 氧化 分析法

内容简介

YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分:物相分析 X射线衍射分析法 ICS 77. 120. 99 H 13
YS
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T1344.3—2020
掺锡氧化钢粉化学分析方法
第3部分:物相分析X射线衍射分析法
Methods for chemical analysis of tin-doped indium oxide powder-
Part3:PhaseanalysisX-ray diffraction method
2020-10-01实施
2020-04-16发布
中华人民共和国工业和信息化部 发布 YS/T 1344.3—2020
前言
YS/T1344《掺锡氧化粉化学分析方法》共分为3个部分:一第1部分:铁、铝、铅、镍、铜、、铬和铊含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法;一第2部分:硅含量的测定钼蓝光度法;
第3部分:物相分析X射线衍射分析法。 本部分为YS/T1344的第3部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)提出并归口。 本部分负责起草单位:广西壮族自治区冶金产品质量检验站。 本部分起草单位:广西华锡集团股份有限公司、广西晶联光电材料有限责任公司、广西壮族自治区地
质矿产测试研究中心、广东省工业分析检测中心、广西壮族自治区分析测试研究中心、桂林理工大学南宁分校、南宁奥博斯检测科技有限责任公司、洛阳晶联光电材料有限责任公司。
本部分主要起草人:黄肇敏、李凤、黄誓成、农永萍、韦丛中、李扬、周素莲、罗艳、黄基宁、黄一帆、 毛香恩、薛超、张凤英、黄庆柴、孙大翔、马超宁、徐灿辉、陈进中、刘永强。 YS/T1344.3—2020
掺锡氧化钢粉化学分析方法
第3部分:物相分析X射线衍射分析法
1范围
本部分规定了掺锡氧化钢粉中物相的测定方法。 本部分适用于掺锡氧化铟粉中物相的测定。
2原理
每一种物质的晶体都有其特定的X射线衍射谱图,由此根据X射线射到样品表面上获得的特征衍射谱图或数据,从而确定样品中的物相。
3仪器设备
3
多晶X射线衍射仪,工作环境温度10C~35℃,环境相对湿度30%~80%。测量参数可根据所用多晶X射线衍射仪使用说明书中的有关要求确定。推荐测量参数:
CuKα辐射; —X光管管压40kV,管流40mA;一发散狭缝(1/4)°,散射狭缝(1/2),接收狭缝7.5mm;
扫描范围(20):20°~70°。
4试样
4.1试样粒度应不大于0.048mm。 4.2试样应在105℃土5℃烘箱中烘干1h,并置于干燥器中冷却至室温备用。
5试验步骤
5.1测量试片的制作
向玻璃样品板中加入适量的试样(4),压实,压平,使衍射面的样品表面平整、疏密度相同,衍射面与样品面应在同一平面。
5.2测定
5.2.1按照仪器操作规程开机,并使主机预热15min~30min。 5.2.2将制备好的测量试片(5.1)置于衍射仪样品台上,按照设置好的仪器测量参数进行扫描,获得试样的衍射谱图或数据。
1 YS/T1344.3—2020
6试验数据处理
6
将试样的衍射谱图或数据用分析软件进行处理(寻峰、检索等),并与衍射的PDF卡片库中标准谱图进行比对,确定样品中的物相组成。几种典型衍射谱图见附录A,供分析测试参考
7 试验报告
试验报告至少应给出以下几个方面的内容:
一试样;本部分编号,YS/T1344.3—2020; 一分析结果及其表示;一与基本分析步骤的差异;一测定中观察到的异常现象;
一试验日期。
2 YS/T1344.3—2020
附录A (资料性附录)几种典型衍射谱图
A.1混合法掺锡氧化钢粉(FIn90Sn10)衍射谱图(图A.1)。
7000 6000 5000
*—[n2O;(立方晶型) —SnO2(四方晶型)
400
3000 2000 1000 H
人 20
L
0
25 30 35 40 45 50 55 60 65 70
28()
图A.1 混合法掺锡氧化铟粉(FIn90Sn10)衍射谱图
A.2共沉淀法掺锡氧化铟粉(FIn90Sn10)衍射谱图(图A.2)。
10000
☆一氧化铟锡相(立方晶型) 一SnO2(四方晶型)
8000
6000
(sda)
4000
2000
A
40 45 50 55 60 65 70
25 30
35
20
20/(°)
图A.2 共沉淀法掺锡氧化铟粉(FIn90Sn10)衍射谱图
A.3三氧化二钢衍射谱图(图A.3)。
20000 18000 16000 14000 12000
InzO;(立方晶型)
ia
8000 6000 4000 2000
55
60
65
70
20
25
30 35
40 45
50
20/(°)
图A.3 三氧化二铟衍射谱图
Y YS/T 1344.3—2020
A.4 二氧化锡衍射谱图(图A.4)。
8000 7000 6000 5000
SnO2(四方晶型)
2 400l
3000 2000 1000

A
O
U
30 35
55 60 65 70
25
40 45 50
26(°)
图A.4 二氧化锡衍射谱图
A.5氧化铟锡靶材衍射谱图(图A.5)。
10000
氧化铟锡相(立方晶型)
8000
(sda)I 6000
4000
2000
0
65 70
30 35 40
20
25
50
55
60
26/(°)
图A.5 氧化锡靶材衍射谱图
4
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