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GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分：试验25e：回波损耗

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GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分：试验25d：传输时延

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GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-1部分：试验25a：串扰比

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GB/T 18802.311-2017 低压电涌保护器元件第311部分：气体放电管( GDT )的性能要求和测试回路

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GB/T 18802.312-2017 低压电涌保护器元件第312部分：气体放电管(GDT)的选择和使用导则

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GB/T 15972.48-2016 光纤试验方法规范第48部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序偏振模色散

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JIS C 61300-2-21-2012 光纤互连器件及无源元件.基本试验和测量规程.第2-21部分:试验.混合温度/湿度循环试验

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GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分∶试验25f∶眼图和抖动

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GB/T 14048.5-2017 低压开关设备和控制设备第5-1部分∶控制电路电器和开关元件机电式控制电路电器

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GB/T 34879-2017 产品几何技术规范（GPS）光学共焦显微镜计量特性及测量不确定度评定导则

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GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分∶试验25c∶上升时间衰减

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GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-2部分∶试验25b∶衰减（插入损耗）

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国外物理名著系列 1 量子光学：降噪，囚禁离子，量子轨道和退相干（第2版·英文版）[智]M·欧尔萨格 2008年版

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