GB/T 5095.2505-2021/IEC60512-25-5:2004
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分∶试验25e∶回波损耗
Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-5: Test 25e: Return loss
(IEC 60512-25-5:2004,Connectors for electronic equipment—Tests and measurements—Part 25-5:Test 25e;Return loss,IDT)
2021-10-01实施
2021-03-09发布
前 言
GB/T5095《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。
GB/T5095的第 25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下∶
——第25-1部分∶试验 25a∶串扰比;
——第25-2部分∶试验 25b∶衰减（插入损耗）;
——第25-3 部分∶试验 25c∶上升时间衰减;
——第 25-4部分;试验 25d;传输时延;
——第 25-5部分∶试验 25e∶回波损耗;
——第 25-6 部分∶试验 25f∶眼图和抖动;
——第 25-7部分∶试验 25g∶阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）;
——第 25-9部分;信号完整性试验 试验 25i;外来串扰。
本部分为GB/T 5095的第 25-5 部分。
本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-5;2004《申子设备用连接器 试验和测量 第 25-5部分∶试验 25e∶回波损耗》。
本部分做了下列编辑性修改∶
——标准名称由《电子设备用连接器 试验和测量 第 25-5 部分∶试验 25e∶回波损耗》修改为《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第 25-5部分∶试验 25e∶回波损耗》;
——图 A.1b）中原文"标准装置（有样品）、样品装置（无样品）"为明显管误，修改为"标准装置（无样品）、样品装置（有样品）"。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会（SAC/TC166）归口。