GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分∶信号完整性试验试验25i∶外来串扰 GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分∶试验25e∶回波损耗 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-4部分∶试验25d∶传输时延 GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分∶试验25f∶眼图和抖动 GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-3部分∶试验25c∶上升时间衰减