X射线荧光光谱的基本参数法
出版时间：2010年版
内容简介
　　《X射线荧光光谱的基本参数法》是X射线荧光光谱分析领域专门讲述基本参数法的第一本书。书中，作者结合自己的研究成果和实践经验，系统而详细地介绍了X射线荧光光谱分析中的基本参数法的基本原理、方法中用到的各种基本参数、理论荧光强度计算、散射对理论荧光强度的影响、多层膜样品中荧光强度计算的问题、基本参数法的实现和应用实例，书末还列出了重要的基本参数。本书可供从事X射线荧光光谱研究与实际分析的科研和技术人员阅读，也可作为X射线荧光光谱分析或相关专业教师和研究生的参考读物。
目录
第1章 x射线荧光光谱分析概述
1．1 引言
1．2 x射线光谱
1．2．1 X射线的定义
1 2．2 X射线的性质
1．2．3 X射线光谱的产生
1．3 X射线与物质的相互作用
1．3．1　吸收系数
1．3．2　衰减系数
1．3．3　吸收截面
1．3．4　吸收系数和波长的关系
1．3．5　散射
1．4　布拉格定律
1．5 俄歇效应和荧光产额
1．6 X射线荧光光谱仪
1．7 X射线荧光光谱定性分析
1．8 X射线荧光光谱定量分析
1．8．1 定量分析概述
1．8．2 基体效应
1．8．3 元素间吸收一增强效应
1．8．4 校正曲线法
1．8．5 内标法
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