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半导体器件与电路的可靠性及退化

资料类别:电子信息

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资料语言:中文

更新时间:2021-02-16 19:32:40



推荐标签: 半导体器件 半导体 可靠性 电路 可靠 器件 退化 性及 器件

内容简介

半导体器件及电路的可靠性与退化
作者:(英)M.J.豪斯(M.J.Howes),(英)D.V.摩根(D.V.Morgan)主编;李锦林等译

ISBN:7030011643/9787030011640
出版时间:1989
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