第30卷，第4期 2010年4月
光谱学与光谱分析 Spectroscopy and Spectral Analysis
激波管壁AIO自由基B2E+-X2E+和 C2Ⅱ-X2E+带系辐射光谱的研究
彭志敏，杨乾锁，，刘
春，竺乃宜，姜宗林
中国科学院力学研究所高温气体动力学重点实验室，北京
100190
Vol. 30,No. 4, pp865-868
April，2010
摘要爆轰驱动过程中产生的高温高压气流对铝质膜片、激波管壁产生烧蚀和冲剧作用，以致激波管壁、端盖上附有氧化铝等杂质，而高温下AIO自由基在气体分子的高速碰撞下被激发并产生强烈的辐射，从面干扰了高温气体辐射光谱的分析。用爆轰驱动加热技术将空气加热到4000～7000K，利用多通道光学分析仪对AJO自由基辅射光谱进行分析，实验发规在460~530nm波长范围内有多支辐射非常强残的AIO自由基B"+-X"+（Te=20689cm-1)带系辐射谱带，且每支谱带都由多个带头组成，带头间隔约为2nm，带头处于高频位置并向低频方向伸延。通过实验与理论计算相结合，重点分析了AIO自由基B"2-X"+带系辐射光谱的结构特征。AIO自由基C"IⅡ-X*（T=33047cm*1)带系输射光谱处于270~335nm波长范围内，其辐射强度相对于B"2+-X"2带系较弱，并且与OH基A"2-X"Ⅱ(T=32682cm-")带系辐射光谱互相干扰而难以分辨，对该波段高温空气的辐射光谱分析产生不利的影响。
激波管；高温气体；光学多通道分析仪；分子光谱；AIO自由基
关键词
中图分类号：0432
引言
文献标识码：A
DOI; 10. 3964/j. issn. 1000-0593(2010)04-0865-04
大，谱带增宽：而AIO自由基C"Ⅱ,-XZ+带系辐射强度相对较弱，且与OH基A"2-X"Ⅱ带系辐射光谱互相干扰，从而影响该波段高温空气的辐射光谱分析。
几十年来国内外利用意波管、激波风洞等模拟设备对高
温空气平律态、非平衡态辐射光谱特性做了很多研究工作，如NO的β,O(SR),N(1+),N(2+)以及N(1+) 等辐射光谱(1-10)；但由于爆轰驱动产生的高温高压气流对铝质膜片、激波管壁产生烧蚀和冲剧作用，以致激波管瞻、端盖上附有氧化铝等杂质[11.]，而高温下AIO自由基被激发到高能级电子态（AⅡr，B"，C"Ⅱ，D"），当电子再次跃迁到低能级（X"和A"Ⅱ）时对外产生强烈的辐射
本实验利用爆轰驱动加热技术将激波管5区空气股间加热到4000～7000K，在区气体分子的高速碰撞下，A1O 自由基被激发并对外产生强烈的辐射，通过多通道光学分析仪(OMA)对其辐射光谱进行分析，实验发现AIO自由基 B*-X"+带系辐射光谱非常强烈，完全覆盖了该波段高温空气的辐射光谱，且每支谱带都由多个带头组成，带头间隔约为2nm，带头处于高频位置并向低额方向伸延，同时随着③区高温空气温度的升高，谱带向低额方向伸延的范围增
收稿日期：2009-06-08，修订日期：2009-09-16
基金项目：国家自热科学基金项目（10772187）资助
作者简介：影志教，1981年生，中国科学院力学研究所博士研究生万方数据
实验方案
实验方案如图1所示，采用激光点火、氢氧爆轰驱动方式[18)。膜片为铝质材料，厚度为0.1mm，膜片刻有十字刻痕，但由于膜片刻痕深度的不确定性易导致膜片被撕碎、烧蚀，从而附着在激波管壁和端盖处。
激波管的实验段尾部侧翼安装有CaF：窗口，压力传感器A，B和C用来测量激波速度，并判断激波的运行状态是否稳定，其中压力传感器C还用来触发OMA的延时电子快门，延时时间和曝光时间均可以调节，使得OMA能准确记录设定时刻的辐射光诺，根据实验需要可选取600或1200 lines·mm-"光栅。
实验结果及分析
实验结果表明，在4000～7000K高温下，在460～530
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